XRF歸納之X射線熒光光譜分析概述

鑠思百檢測可為您提供X射線熒光光譜分析（XRF）服務(wù)，XRF是確定物質(zhì)中微量元素的種類和含量的一種方法，又稱X射線次級發(fā)射光譜分析，是利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發(fā)待測物質(zhì)中的原子，使之產(chǎn)生次級的特征X射線（X光熒光）而進(jìn)行物質(zhì)成分分析和化學(xué)態(tài)研究。

XRF測試作為常用測試之一，但仍有許多同學(xué)不太了解，本篇文章由鑠思百檢測給大家介紹X射線熒光光譜分析概述。

X射線熒光光譜分析（X Ray Fluorescence，XRF）是固體物質(zhì)成分分析的常規(guī)檢測手段，也是一種重要的表面/表層分析方法。由于整體技術(shù)和分光晶體研制發(fā)展所限，早期的X 射線熒光光譜儀檢測范圍較窄，靈敏度較差。隨著測角儀、計數(shù)器、光譜室溫度穩(wěn)定等新技術(shù)的進(jìn)步，使現(xiàn)代X 射線熒光光譜儀的測量精密度與準(zhǔn)確度有了較大改善。特別是人工合成多層膜晶體的開發(fā)應(yīng)用使輕元素鈹、硼、碳、氮、氧等的X 射線熒光光譜分析分析成為可能，這類晶體是由低原子序數(shù)和高原子序數(shù)物質(zhì)以納米級厚度交替疊積而成， 其層間厚度可以人工控制，如OVO－B 晶體的間距為20 納米，適用于硼和鈹?shù)姆治?。由于X 射線管的功率增大，鈹窗減薄， X 射線管與樣品的距離縮短，為輕元素分析配備了超粗準(zhǔn)直器，降低了元素的檢出限，技術(shù)發(fā)展使現(xiàn)代X 射線熒光光譜儀的檢測范圍可達(dá)到4Be(鈹)～92U(鈾)，對元素的檢測范圍為10-6%～100%。

以上僅為鑠思百檢測的自我總結(jié)，故此分享給大家，希望可以幫助大家對測試更了解，如有測試需求，可以和鑠思百檢測聯(lián)系，我們會給與您最準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)和最好的服務(wù)體驗，惟祝科研工作者可以更輕松的工作。