XRF歸納之X射線熒光光譜儀工作原理

鑠思百檢測可為您提供X射線熒光光譜分析（XRF）服務，XRF是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法，又稱X射線次級發(fā)射光譜分析，是利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發(fā)待測物質中的原子，使之產生次級的特征X射線（X光熒光）而進行物質成分分析和化學態(tài)研究。

XRF測試作為常用測試之一，但仍有許多同學不太了解其工作原理，本篇文章由鑠思百檢測給大家介紹X射線熒光光譜儀工作原理。

X 射線熒光是原子內產生變化所致的現(xiàn)象。一個穩(wěn)定的原子結構由原子核及核外電子組成。其核外電子都以各自特有的能量在各自的固定軌道上運行， 內層電子（如K 層）在足夠能量的X 射線照射下脫離原子的束縛，釋放出來，電子的逐放會導致該電子殼層出現(xiàn)相應的電子空位。這時處于高能量電子殼層的電子（如：L 層）會躍遷到該低能量電子殼層來填補相應的電子空位。由于不同電子殼層之間存在著能量差距，這些能量上的差以二次X 射線的形式釋放出來，不同的元素所釋放出來的二次X 射線具有特定的能量特性。這一個過程就是我們所說的X 射線熒光(XRF) 。元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內層電子的躍遷， 同時發(fā)射出具有一定特殊性波長的X 射線，根據莫斯萊定律，熒光X 射線的波長λ與元素的原子序數(shù)Z 有關，其數(shù)學關系如下：

λ=K(Z- S) -2

式中K 和S 是常數(shù)。而根據量子理論， X 射線可以看成由一種量子或光子組成的粒子流， 每個光具有的能量為：E=hν=h C/λ

式中，E 為X 射線光子的能量，單位為keV ；h 為普朗克常數(shù)； ν為光波的頻率； C 為光速。因此，只要測出熒光X 射線的波長或者能量，就可以知道元素的種類，這就是熒光X 射線定性分析的基礎。將樣品中有待分析的各種元素利用X 射線轟擊使其發(fā)射其特征譜線, 經過狹縫準直, 使其近似平行光照射到分光晶體上, 對己知其面間距為d 的分光晶體點陣面上的輻射加以衍射。依據布拉格定律, 適用公式nλ=Zdsinθ。

對于晶體的每一種角位置, 只可能有一種波長的輻射可被衍射, 而這種輻射的強度則可用合適的計數(shù)器加以測量。分析樣品時, 鑒定所發(fā)射光譜中的特征譜線,就完成了定性分析; 再將這些譜線的強度和某種適當標準的譜線強度進行對比, 就完成了定量分析。   

以上僅為鑠思百檢測的自我總結，故此分享給大家，希望可以幫助大家對測試更了解，如有測試需求，可以和鑠思百檢測聯(lián)系，我們會給與您最準確的數(shù)據和最好的服務體驗，惟?？蒲泄ぷ髡呖梢愿p松的工作。