XRD測試項目有哪些？

鑠思百檢測可為您提供X射線衍射儀技術（XRD）服務，X射線衍射儀技術(X-ray diffraction，XRD)。通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態(tài)等信息的研究手段。

XRD測試作為常用測試之一，但仍有許多同學不太了解，本篇文章由鑠思百檢測給大家介紹粉末XRD射線衍射的項目歸類。

廣角XRD

廣角、小角XRD因測試角度范圍而得名，廣角即測試范圍為10-120 °，常規(guī)廣角測到90 °即可，有機材料或者有機金屬配位材料一般測到四五十度也是可以的。廣角XRD是最常用到的測試條件，有機、無機材料判斷晶型、物相類型、PDF卡片等基本都是通過廣角XRD測試得到的譜圖分析得到的。一般大家口中的XRD，沒有特別說明測試條件的都是指的廣角XRD，有時為了區(qū)別于塊體薄膜這些樣品形態(tài)的，也叫PXRD，即粉末XRD。

小角XRD

小角XRD和廣角XRD對應，即測試低角度區(qū)域，稱為小角XRD，測試范圍一般為0.5-10 °。小角XRD一般可以探測到更多的微觀信息，比如介孔樣品除了做物理吸脫附的表征，也可以通過測試小角XRD驗證介孔是否規(guī)整。

變溫XRD

變溫XRD，顧名思義，就是改變溫度測試XRD， 可測溫度范圍是95 K-1200℃，測試氣氛可以是空氣、氮氣、氬氣、真空或者二氧化碳。一般情況下需要設置測試的溫度點，如室溫、100 ℃、300 ℃、500 ℃等，升溫速率以及XRD的角度測試范圍。此外，還要求樣品在測試溫度范圍內不熔化。

微區(qū)XRD

微區(qū)XRD可以測試指定某個區(qū)域的XRD譜圖，但是測試區(qū)域需要大于等于0.5 mm，不能太小。另外測試角度范圍默認是5-90 °，其他角度需要先和鑠思百檢測老師溝通后再做決定。比如需要測試塊體樣品（尺寸要求是長寬一般1-2 cm，厚度不超過5 mm）上面某一個或一些小區(qū)域的XRD，就可以用微區(qū)XRD來測試。

掠入射XRD

掠入射XRD（GIXRD）是專門用來測試薄膜樣品的手段。測試光是平行光，相對于常規(guī)的衍射光來說能量較小，因此掠入射測試XRD的譜圖絕對峰強相對較弱。但是平行光可以更好的關注薄膜表面的信息，也不容易測到基底，因此掠入射XRD專門用于測試薄膜樣品。薄膜尺寸沒有特別要求，但是需要測試面平整光潔，不要有遮擋物，這樣測試結果才真實可信。

SAXS

SAXS又稱為小角x射線散射，如果試樣具有不同電子密度的非周期性 結構(晶區(qū)和非晶區(qū))，則x射線被不相干 散射，有波長的改變，這種過程稱為漫射x射線衍射效應(簡稱散射)，在小角度上測定所以又稱為：小角x射線散射 (SAXS)。

WAXD

WAXD又稱為大角X射線衍射，如果試樣具有周期性結構(晶區(qū))，則x射線被相干散射，入射光與散射光之間沒有波長的改變， 這種過程稱為x射線衍射效應，在大角度上測定：又稱為大角X射線衍射（WAXD）

以上是鑠思百檢測小編為大家總結的XRD檢測測試項目，更多測試請聯系鑠思百檢測。