鑠思百檢測

DETECTION OF TECHNICAL SOUSEPAD

透射電子顯微鏡(TEM-EDS)掃描電子顯微鏡(FESEM-EDS)球差電鏡激光共聚焦顯微鏡(LSCM)原子力顯微鏡(AFM)電子探針儀(EPMA)金相顯微鏡電子背散射衍射儀(EBSD)臺(tái)階儀,膜厚儀,探針接觸式輪廓儀,3D輪廓儀工業(yè)CT白光干涉儀(非接觸式3D表面輪廓儀)電鏡測試FIB制樣離子減薄制樣冷凍超薄切片制樣樹脂包埋制樣(生物制樣)液氮脆斷制樣金網(wǎng)鉬網(wǎng)銅網(wǎng)超薄碳膜微柵制樣電鏡制樣X射線光電子能譜分析儀(XPS)紫外光電子能譜(UPS)俄歇電子能譜(AES)X射線衍射儀(XRD)X射線散射儀SAXS/WAXSX射線殘余應(yīng)力分析儀X射線熒光光譜分析儀(XRF)電感耦合等離子體光譜儀(ICP-OES)紫外可見反射儀(DRS)拉曼光譜(RAMAN)紫外-可見分光光度計(jì)(UV)圓二色譜(CD)傅里葉變換紅外光譜分析儀(FTIR)吡啶紅外(DRIFTS)單晶衍射儀穆斯堡爾光譜儀穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜分析儀(PL)原子吸收分光光度計(jì)原子熒光光度計(jì)(AFS)三維熒光 /熒光分光光度計(jì)紅外熱成像儀霧度儀旋光儀橢偏儀光譜測試電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS)電噴霧離子化質(zhì)譜儀(ESI-MS)頂空-固相微萃取氣質(zhì)聯(lián)用儀(HS -SPME -GC -MS)二次離子質(zhì)譜(SIMS)基質(zhì)輔助激光解吸電離飛行時(shí)間質(zhì)譜儀(MALDI-TOF)裂解氣質(zhì)聯(lián)用儀(PY-GC-MS)氣質(zhì)聯(lián)用儀(GC-MS)同位素質(zhì)譜儀液質(zhì)聯(lián)用儀(LC-MS)質(zhì)譜測試差示掃描量熱儀(DSC)熱重分析儀(TGA)熱分析聯(lián)用儀(DSC-TGA)靜態(tài)/動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀(TMA/DMA)熱重紅外聯(lián)用儀(TG-IR)熱重紅外質(zhì)譜聯(lián)用儀(TG-IR-MS)熱重紅外氣相質(zhì)譜聯(lián)用(TG-IR-GC-MS)紅外熱成像儀激光導(dǎo)熱儀錐形量熱儀(CONE)熱譜測試電子順磁共振波譜儀(EPR、ESR)固體核磁共振儀(NMR)液體核磁共振儀(NMR)微波網(wǎng)絡(luò)矢量分析儀/矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀核磁順磁波譜測試比表面及孔徑分析儀(BET)表面張力儀(界面張力儀)高壓吸附儀化學(xué)吸附儀(TPD TPR)接觸角測量儀納米壓痕儀壓汞儀(MIP)表界面物性測試氣相色譜儀(GC)高效液相色譜儀(HPLC)離子色譜儀(IC)凝膠色譜儀(GPC)液相色譜(LC)色譜測試電導(dǎo)率儀電化學(xué)工作站腐蝕測試儀介電常數(shù)測定儀卡爾費(fèi)休水分測定儀自動(dòng)電位滴定儀電化學(xué)儀器測試Zeta電位儀工業(yè)分析激光粒度儀流變儀密度測定儀納米粒度儀邵氏 維氏 洛氏硬度計(jì)有機(jī)鹵素分析儀(F,Cl,Br,I,At,Ts)有機(jī)元素分析儀(EA)粘度計(jì)振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)(VSM)土壤分析測試植物分析測試其他測試同步輻射GIWAXS GISAXS同步輻射XRD,PDF,SAXS同步輻射吸收譜-高能機(jī)時(shí)同步輻射吸收譜之軟X射線同步輻射吸收譜之硬X射線同步輻射聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)礦物定量分析系統(tǒng)MLA球差校正透射電子顯微鏡高端電鏡類原位XPS測試原位EBSD(in situ -EBSD)原位紅外原位掃描電子顯微鏡(in-situ-SEM)原位透射電子顯微鏡高端原位測試飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀(TOF-SIMS)輝光放電光譜(GD-OES MS)三維原子探針(APT)高端質(zhì)譜類Micro/Nano /工業(yè)CT飛秒瞬態(tài)吸收光譜儀(fs-TAS)掃描隧道顯微鏡深能級(jí)瞬態(tài)譜儀正電子湮滅壽命譜儀其他XPS數(shù)據(jù)分析XRD全巖黏土分析表面成分分析技術(shù)-XPS測試分析常規(guī)XRD數(shù)據(jù)分析成分指紋分析技術(shù)-紅外測試分析二維紅外光譜技術(shù)紅外(IR)數(shù)據(jù)分析拉曼數(shù)據(jù)分析三維熒光數(shù)據(jù)分析圓二色譜(CD)數(shù)據(jù)分析成分含量分析EPR/ESR數(shù)據(jù)分析VSM數(shù)據(jù)分析電化學(xué)數(shù)據(jù)分析矢量網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)分析電磁分析CT數(shù)據(jù)分析X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)普(XAFS)數(shù)據(jù)分析穆斯堡爾譜數(shù)據(jù)分析小角散射(SAXS/WAXS)數(shù)據(jù)分析高端測試分析固體核磁數(shù)據(jù)分析液體核磁(NMR)測試+分析一體化液體核磁(NMR)數(shù)據(jù)分析化學(xué)結(jié)構(gòu)分析EBSD數(shù)據(jù)分析TEM數(shù)據(jù)分析單晶XRD數(shù)據(jù)分析晶體結(jié)構(gòu)確證技術(shù)-XRD精修XRD定性定量分析晶體結(jié)構(gòu)分析BET數(shù)據(jù)分析其它數(shù)據(jù)分析需求熱分析數(shù)據(jù)處理數(shù)據(jù)分析作圖其他數(shù)據(jù)分析半導(dǎo)體激光器模擬發(fā)光二極管仿真光電探測器仿真太陽能電池仿真半導(dǎo)體器件仿真表面能差分密度磁矩單原子催化電荷密度電解水制氫反應(yīng)(HER)費(fèi)米面(fermi surface)電子局域化函數(shù)(electron localization function)第一性原理分子模擬量子化學(xué)相分析有限元模擬常規(guī)理化-水樣常規(guī)理化-土樣/沉積物常規(guī)理化-氣體常規(guī)理化-植物/蔬果/農(nóng)作物常規(guī)理化-食品常規(guī)理化-肥料/飼料常規(guī)理化-巖礦常規(guī)理化-垃圾常規(guī)理化-職業(yè)衛(wèi)生常規(guī)理化-其它常規(guī)理化項(xiàng)目纖維素、半纖維素、木質(zhì)素含量bcr形態(tài)順序提取/tessier五步提取法土壤水體抗生素微塑料微生物磷脂脂肪酸(PLFA)非標(biāo)理化-其它非標(biāo)理化項(xiàng)目穩(wěn)定同位素放射性同位素同位素-其它金屬同位素同位素多糖的單糖組成測定可溶性寡糖定量土壤氨基糖多糖全套分析多糖甲基化植物糖化學(xué)-常規(guī)指標(biāo)糖化學(xué)液質(zhì)聯(lián)用LCMS高效液相色譜HPLC氣相色譜GC氣質(zhì)聯(lián)用GCMS全二維氣質(zhì)GC×GC-MS氣相色譜-離子遷移譜聯(lián)用儀(GC-IMS)液相色譜-原子熒光聯(lián)用(LC-AFS)制備型HPLC色譜質(zhì)譜數(shù)據(jù)分析液相色譜-電感耦合等離子體質(zhì)譜(LC-ICPMS)色譜質(zhì)譜DOM(FT- ICR- MS)水質(zhì)NOM(LC-OCD-OND)DOM(FT-ICR-MS)數(shù)據(jù)分析環(huán)境高端電池產(chǎn)品整體解決方案正極顆粒表面微觀形貌正極顆粒物截面形貌與元素三元正極顆粒循環(huán)前后晶界裂紋正極顆粒摻雜元素分布正極顆粒截面元素分布和晶格表征正極極片原位晶相分析正極極片截面元素分布和晶格表征正極表面CEI膜測試方法XPS正極極片截面微觀形貌觀察和元素分布正極極片CEI膜成分分析與厚度測定正極極片介電常數(shù)正極極片浸潤性正極極片包覆層觀察正極極片雜質(zhì)含量測定正極極片氧空位測定負(fù)極顆粒表面微觀形貌觀察和元素分布負(fù)極顆粒截面微觀形貌觀察和元素分布石墨類型判定負(fù)極顆粒粒徑分析負(fù)極極片孔洞分析負(fù)極顆粒包覆層觀察負(fù)極顆粒羥基含量測定負(fù)極極片包覆層觀察負(fù)極表面SEI膜分析XPS法負(fù)極極片SEI膜成分分析與厚度測定負(fù)極極片截面微觀形貌觀察和元素分布負(fù)極極片石墨碳和無定型碳比例隔膜表面微觀形貌觀察隔膜循環(huán)前后孔徑變化質(zhì)子交換膜形貌(厚度)觀察 CP+SEM質(zhì)子交換膜雜質(zhì)元素電池循環(huán)后鼓包氣電池循環(huán)后爆炸氣鋰電池極片和集流體間的粘結(jié)強(qiáng)度三元正極材料NCM比例燃料電池-整體解決方案電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-優(yōu)勢項(xiàng)目正極材料-PH值正極材料-比表面積正極材料-磁性異物正極材料-化學(xué)成分正極材料-晶體結(jié)構(gòu)正極材料-粒徑分布正極材料-首次放電比容量及首次庫倫效率正極材料-水分含量正極材料-松裝密度正極材料-未知物分析正極材料-形貌,厚度與結(jié)構(gòu)正極材料-壓實(shí)密度正極材料-振實(shí)密度電池產(chǎn)品-正極材料負(fù)極材料-PH值負(fù)極材料-比表面積負(fù)極材料-層間距 石墨化度負(fù)極材料成分分析負(fù)極材料-磁性異物負(fù)極材料-粉末壓實(shí)密度負(fù)極材料-固定碳含量負(fù)極材料-化學(xué)成分負(fù)極材料-粒徑分布負(fù)極材料-石墨鑒定負(fù)極材料-水分負(fù)極材料-限用物質(zhì)含量負(fù)極材料-形貌與結(jié)構(gòu)負(fù)極材料-陰離子的測定負(fù)極材料-有機(jī)物含量負(fù)極材料-真密度負(fù)極材料-振實(shí)密度負(fù)極顆粒-石墨取向性(OI值)首次放電比容量及首次庫倫效率電池產(chǎn)品-負(fù)極材料電解液-電導(dǎo)率電解液-化學(xué)元素含量電解液-密度電解液-水分含量電解液-未知物分析電解液-游離酸(HF含量)電池產(chǎn)品-電解液電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-隔膜
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熱膨脹儀DIL-熱膨脹儀的應(yīng)用

 二維碼
發(fā)表時(shí)間:2021-04-07 08:43作者:鑠思百檢測來源:鑠思百檢測

在一定的溫度程序、負(fù)載力接近于零的情況下,測量樣品的尺寸變化隨溫度或時(shí)間的函數(shù)關(guān)系??蓽y量固體、熔融金屬、粉末、涂料等各類樣品,廣泛應(yīng)用于無機(jī)陶瓷、金屬材料、塑膠聚合物、建筑材料、涂層材料、耐火材料、復(fù)合材料等領(lǐng)域。

研究材料的如下特性

線膨脹與收縮

玻璃化溫度

致密化和燒結(jié)過程

熱處理工藝優(yōu)化

軟化點(diǎn)檢測

相轉(zhuǎn)變過程

添加劑和原材料影響

反應(yīng)動(dòng)力學(xué)研究

適用

配套軟件除提供標(biāo)準(zhǔn)的測量與分析功能外,還提供速率控制燒結(jié)(RCS)選項(xiàng),按照用戶的設(shè)置,能夠根據(jù)樣品燒結(jié)過程中的收縮速率對(duì)升溫速率進(jìn)行動(dòng)態(tài)的自動(dòng)優(yōu)化調(diào)整??捎糜诳刂茦悠吩跓Y(jié)過程中以一定的恒定速率收縮,以優(yōu)化燒結(jié)工藝。

高溫立式熱膨脹儀

方式:絕對(duì)或差分方式

結(jié)構(gòu):立式結(jié)構(gòu)適用于燒結(jié)研究

條件:真空、惰性氣體及氫氣氣氛條件下

UNITHERMTM 1161V是計(jì)算機(jī)控制的全自動(dòng)熱膨脹儀,測量樣品因熱環(huán)境的變化而引起的尺寸變化。使用該儀器可以精確的測量線性熱膨脹系數(shù),伴隨燒結(jié)現(xiàn)象的收縮,以及清楚反映材料的相變、熱處理特性等各種物理和化學(xué)變化的線性尺寸的變化。通過復(fù)制熱循環(huán)及實(shí)際過程中的變化速率,可以對(duì)引起材料的尺寸變化的過程參數(shù)進(jìn)行充分的研究。功能強(qiáng)大的軟件可以控制產(chǎn)生各種熱循環(huán),因此復(fù)雜的過程能夠得到容易的模擬。

高溫爐由低熱質(zhì)量的纖維氧化鋁絕熱材料構(gòu)造而成,環(huán)繞在二硅化鉬加熱器周圍。四個(gè)U形的加熱器,其作用相當(dāng)于八根直線加熱源,均勻的分布在套筒爐管的周圍(與其軸線平行)。爐體的長度相對(duì)于直徑比例的合理選擇提供了優(yōu)異的熱區(qū)均勻性。采用的數(shù)字位移傳感器為絕對(duì)位移測量器件,不需要周期性定標(biāo)。因其準(zhǔn)確度基于一個(gè)非常穩(wěn)定的內(nèi)部玻璃光珊,以光學(xué)方式監(jiān)測位移,所以不存在短期和長期漂移的問題。

該儀器的立式結(jié)構(gòu)特別適用于收縮多于膨脹情況下的陶瓷樣品的測量 。

對(duì)于水平結(jié)構(gòu)的熱膨脹儀,樣品的收縮會(huì)使樣品與樣品架的底面分離,會(huì)得到錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)。而對(duì)于立式熱膨脹儀,就不會(huì)出現(xiàn)類似的問題。頂桿的導(dǎo)向力由可調(diào)的反向平衡懸荷控制,可降低到非常小的量。熱機(jī)械分析儀(TMA)的操作方式可供選擇,即可以對(duì)于頂桿進(jìn)行特殊的加載方式??晒┻x擇的程序模塊可以用于軟化溫度點(diǎn)的確定,及其可控速率的燒結(jié)過程研究。

安裝樣品時(shí),把熱膨脹儀的頭部沿垂直方向在導(dǎo)桿上向上滑動(dòng),就可把樣品架(或熱膨脹儀的保護(hù)套管)從爐腔提出?;瑒?dòng)的過程是由具有連續(xù)平滑動(dòng)功能及向上提拉的裝置控制,使用了反向平衡的定力彈簧。把樣品架插入爐腔時(shí),膨脹儀頭部與套筒爐管的端口進(jìn)行真空密封結(jié)合,提供了樣品測量的保護(hù)環(huán)境的密封條件。關(guān)鍵的部件,如套筒爐管的端部及其密封圈,膨脹儀頭部的底部等,都有水冷通路。 標(biāo)準(zhǔn)的氧化鋁膨脹儀套管和頂桿可以與石英玻璃的組合隨時(shí)互相替換使用。關(guān)于套管的系統(tǒng)修正可以自動(dòng)在軟件中進(jìn)行。當(dāng)使用石英玻璃套管組合時(shí),儀器自動(dòng)設(shè)定最大的加熱溫度。也可以使用石墨的組合系統(tǒng),但溫度被限制在1400℃以下以防止與S型熱電偶的化學(xué)反應(yīng)。

溫度的編程與控制

測量系統(tǒng)為使用者提供了可編緝的溫度設(shè)定組合功能,包括升降溫速率,熱平衡時(shí)間,延時(shí)啟動(dòng),重復(fù)循環(huán)設(shè)置,多達(dá)16個(gè)溫度點(diǎn)的設(shè)置,常用程序的存取等。溫度控制過程全部顯示在計(jì)算機(jī)屏幕上,可以在實(shí)驗(yàn)運(yùn)行中進(jìn)行重新編緝?cè)O(shè)定溫度,所有關(guān)鍵參數(shù)以及測量結(jié)果即時(shí)顯示并連續(xù)存儲(chǔ)。采用具有最優(yōu)化普適程序的數(shù)字溫度控制技術(shù),使控溫過程是以樣品的溫度為基準(zhǔn)。溫度參數(shù)的設(shè)定滿足ASTM或ISO的相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)。

數(shù)據(jù)記錄

測量數(shù)據(jù)即時(shí)顯示在計(jì)算機(jī)屏幕上并連續(xù)存儲(chǔ)在硬盤中可進(jìn)行后期的數(shù)據(jù)分析。所有測量和程序的關(guān)鍵參數(shù)以及系統(tǒng)修正、標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)(必要時(shí))也都存儲(chǔ)在每一個(gè)數(shù)據(jù)文件系統(tǒng)中,便于日后的不同樣品的結(jié)果比較。

系統(tǒng)修正及定標(biāo)

使用者可以根據(jù)采用NIST的標(biāo)準(zhǔn)或其它的標(biāo)準(zhǔn)樣品,對(duì)內(nèi)建的系統(tǒng)修正及定標(biāo)表格進(jìn)行確認(rèn)或修改。

數(shù)據(jù)處理分析及報(bào)告

可對(duì)存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)用各種統(tǒng)計(jì)方法進(jìn)行自動(dòng)處理,數(shù)據(jù)分析包括多項(xiàng)式曲線擬合,結(jié)果的數(shù)據(jù)列表(如線性膨脹率的百分表示,平均膨脹系數(shù),微分膨脹系數(shù)等)。一組測試中的單個(gè)數(shù)據(jù)及多個(gè)數(shù)據(jù)可以以各種形式被生成,顯示,打印。 配備的軟件具有功能強(qiáng)大、友好、全集成式等特點(diǎn),其界面清晰易懂,因此使用者不必具備計(jì)算機(jī)的編程知識(shí)。作為選項(xiàng),數(shù)據(jù)文件可以下載到其他的計(jì)算機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理。

安全及診斷特點(diǎn)

儀器內(nèi)建的安全措施保證非正常的操作不會(huì)對(duì)系統(tǒng)帶來災(zāi)難性的破壞或者導(dǎo)致樣品的毀壞,其中包括有對(duì)冷卻水流的探測,爐子及樣品過熱等的四級(jí)互鎖保護(hù),計(jì)算機(jī)死機(jī)的探測等。這些功能一直連續(xù)的運(yùn)行。當(dāng)故障發(fā)生時(shí),有些會(huì)自動(dòng)啟動(dòng)關(guān)閉儀器,而另一些會(huì)通過視頻/音頻指示器提醒使用者。使用者可以用內(nèi)建的診斷程序?qū)Πl(fā)生故障的部份進(jìn)行檢查,查出原因。所有的電路系統(tǒng)被和諧的集成在一個(gè)電子模式中。當(dāng)需要時(shí),任何部份可以容易的在幾分鐘內(nèi)移去,進(jìn)行更換,很快的完成修理工作。在氫氣保護(hù)氣氛的應(yīng)用情況下,為了進(jìn)一步增強(qiáng)安全可靠性,系統(tǒng)裝備有內(nèi)建泄漏探測器。

型號(hào):1161V [X1][X2][X3][X4] X1 樣品尺寸(Ax) 長度:最長到3英寸(75mm) 可偏離通常尺寸的+-0.5英寸直徑:最大到0.5英寸。

任何截面方向上尺寸(Lx)長度:最長到4英寸 可偏離通常尺寸的+-0.5英寸直徑:最大到1.2英寸。

任何截面方向上數(shù)量 (x1) 1 (在差分方式下,有另1個(gè)作為參考樣品)

x2膨脹儀的頭部位移傳感器范圍:1英寸分辨率:+-0.000025英寸準(zhǔn)確度:+-0.000050英寸類型 (R) 一般的套筒/頂桿 (D) 雙頂桿,差分方式(樣品的直徑為一般的一半)

X3溫度范圍 (1) 室溫──1550℃ (2) 室溫──1650℃ (3) 室溫──1400℃ (4) 室溫──1700℃

X4多儀器聯(lián)用總數(shù)量:最多4 個(gè)膨脹儀

套管/頂桿:高純氧化鋁反向平衡懸荷水冷結(jié)構(gòu)

加熱元件:堪塔爾高級(jí)電阻加熱器(溫度可達(dá)到1800℃)

絕熱材料:陶瓷纖維板

熱電偶:S型樣品氣氛惰性氣體,空氣,真空,氫氣(需加配置SX-15)

儀器尺寸(不包括計(jì)算機(jī)) 15寬X24長X28高 英寸,重120磅操作要求能量:208或230伏,60赫茲,3千瓦

冷卻水:1加侖/分鐘,60----90psi 壓力

軟件的說明圖示:使用方便,視窗操作系統(tǒng)下的自動(dòng)操作及數(shù)據(jù)分析軟件

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