原子力顯微鏡功能技術

鑠思百檢測可為您提供原子力顯微鏡技術（AFM測試）服務，原子力顯微鏡現已廣泛應用于半導體、納米功能材料、生物、化工、食品、醫(yī)藥研究和科研院所各種納米相關學科的研究實驗等領域中，成為納米科學研究的基本工具。

在做原子力顯微鏡AFM測試時，鑠思百檢測平臺工作人員在與很多同學溝通中了解到，好多同學對AFM測試原子力顯微鏡功能技術不太了解，針對此，鑠思百檢測平臺團隊組織相關同事對網上海量知識進行整理，希望可以幫助到科研圈的伙伴們；

相位式原子力顯微鏡

原子力顯微鏡在輕敲式AFM(tappingmode)操作下，量測及回饋因表面抵擋及黏滯力的作用，會引起振動探針的相位改變量，而抵擋及黏滯力的差異為不同材料性質引起，因此有機會用相位差(Phaselag)來觀察表面定性材質分布狀況。因相位改變量比起振幅改變量來得敏感，可較易觀察平面分布。在操作控制探針與表面的交互作用力上，可使用LightTapping方式(較少力量)達到非破壞性分析，也可使用HardTapping方式(較大力量)達到穿透性，量測及回饋次表面特性，尤其對高分子聚合物及生物分子樣品有非常好的性質觀察。因為利用探針跳動掃描時表面的高度變化會影響振幅的大小，所以利用振幅變化可以得知表面的結構，但是當表面的成分不同時也會造成探針跳動頻率變化，以及相位變化，例如當表面有些區(qū)域的性質特別軟，造成探針再此區(qū)域掃描時跳動的頻率變慢，且會產生一相位差，所以利用此一特性讓掃描探針顯微鏡能觀察到除了表面形貌之外的不同成份性質，如圖1所示。

圖1相位原子力顯微鏡分析表面不同成份影像變化

掃描式磁場力顯微鏡

掃描式磁場力顯微鏡利用具磁性的探針(Si)鍍上一層磁性Co-Cr合金，第一次掃描時TappingModeAFM的振幅用來量測表面高低，分辨率約20～50nm。在Lift第二次掃描時，振幅受現有磁場變化，依Lift提升高度而變更，可為雷射光偵測器得知，此差異訊號可用來判斷表面磁場分布，最容易同時得到AFM及磁場分布影像，但是磁場大小卻無法得知。TappingMode和LiftMode的操作應用，掃描前必須探針磁化，然后先以TappingMode取得高度變化的影像，然后再利用LiftMode量測存在表面上方的磁場分布，因為探針已經經過磁化所以在表面上方掃描時只會感應有磁場的區(qū)域，如圖2。由于樣品磁場大小有不一樣的特性，不能使用具強磁性的探針去掃描軟磁性的樣品，否則樣品磁場會被強磁性的探針所干擾，造成一堆雜亂訊號。

圖2掃描式磁場力顯微鏡磁場分布影像

以上就是鑠思百檢測平臺對網絡上AFM測試的相關資料的整理如有測試需求，可以和鑠思百檢測聯系，我們會給與您最準確的數據和最好的服務體驗，希望可以在大家的科研路上有所幫助。