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DETECTION OF TECHNICAL SOUSEPAD

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X射線(xiàn)單晶衍射常見(jiàn)問(wèn)題解答

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發(fā)表時(shí)間:2022-08-04 14:16作者:鑠思百檢測(cè)

在做X射線(xiàn)單晶衍射(單晶XRD)測(cè)試時(shí),發(fā)現(xiàn)有的同學(xué)對(duì)單晶XRD不太了解, 所以,今天鑠思百檢測(cè)小編整理了相關(guān)知識(shí),希望能幫到大家


1.
怎么分辨晶體能否測(cè)試?

答:晶體是要規(guī)則,無(wú)明顯裂紋的晶體(且晶體不小于20微米)。


2. X射線(xiàn)單晶衍射中,如何選擇合適的靶材?

答:一般含有金屬原子的,優(yōu)先選擇鉬靶測(cè)試。純有機(jī)的,可能要選擇銅靶。


3.X射線(xiàn)單晶測(cè)試,是選擇常溫測(cè)試還是低溫測(cè)試?

答:這個(gè)要拿到晶體測(cè)試后,才能確定。一般有機(jī)和MOF類(lèi)可能需要選擇低溫。


4.
如果只解析晶體結(jié)構(gòu),需要提供的數(shù)據(jù)類(lèi)型有哪些?

答:要提供.raw, .hkl, .p4p,._ls類(lèi)型的文件,有時(shí)候也需要原始衍射圖,結(jié)構(gòu)式。


5.
長(zhǎng)出來(lái)的晶體怎么區(qū)別是單晶還是多晶??jī)烧邊^(qū)別是什么?

答:把晶體挑選出來(lái)進(jìn)行測(cè)試,單晶和多晶的衍射圖譜不一樣。單晶的衍射圖譜(左圖)是一個(gè)個(gè)獨(dú)立的衍射點(diǎn),而多晶的衍射圖譜(右圖)是一個(gè)個(gè)環(huán)。

6.蛋白單晶我一個(gè)月都沒(méi)有,還是一些絮狀物,該不該重新做?

答:絮狀物大部分不是晶體,測(cè)試時(shí)沒(méi)有衍射點(diǎn)。建議重新設(shè)置條件進(jìn)行培養(yǎng)。


7.
除了CCDC數(shù)據(jù)庫(kù),最新文獻(xiàn)的單晶結(jié)果可以參考嗎?是不是文獻(xiàn)的可靠性不如數(shù)據(jù)庫(kù)的高?。?/span>

答:最新的單晶文獻(xiàn)可以參考??煽啃?,兩者是一樣的。但是數(shù)據(jù)庫(kù)的信息比文獻(xiàn)要全面些,建議把晶胞參數(shù)輸入數(shù)據(jù)庫(kù)里進(jìn)行比對(duì)。

8.單晶研磨之后,晶體結(jié)構(gòu)沒(méi)有改變,還是原來(lái)的,但是肯定變成了多晶了啊,這樣測(cè)試物相是啥沒(méi)問(wèn)題,但是不能反應(yīng)晶體學(xué)取向了吧?那我單晶不研磨直接測(cè)試可以嗎?

答:這個(gè)要看測(cè)試目的。如果是需要得到樣品的純度,建議把樣品研磨成粉末進(jìn)行測(cè)試。如果是需要看晶體的生長(zhǎng)取向,建議直接用單晶樣品進(jìn)行測(cè)試。


9.
請(qǐng)問(wèn)一下我用CIFTOOLs導(dǎo)出來(lái)的晶體數(shù)據(jù)中沒(méi)有氫鍵的數(shù)據(jù),這是前面解析的過(guò)程中需要處理的呢?還是我這個(gè)物質(zhì)中沒(méi)有氫鍵呢?

答:氫鍵的計(jì)算是需要在命令區(qū)加個(gè)指令HTAB,一般格式是HTAB 給體原子受體原子。

10.老師,我是做蛋白單晶的,今天講的單晶解析可以用于蛋白解析么?

答:?jiǎn)尉Ы馕霭臻g群的確定、找粗結(jié)構(gòu)和精修結(jié)構(gòu)。每步里面的解析思路是適用于任何晶體的。

11.我們輸入size命令后,size后那幾個(gè)數(shù)字是從哪里看來(lái)的?

答:這個(gè)尺寸在單晶測(cè)試時(shí),由儀器可以評(píng)估出長(zhǎng)寬高。

12.精修輪數(shù)是先按照經(jīng)驗(yàn)確定后再實(shí)際精修的嗎?

答:精修輪數(shù)L.S.,一般按照經(jīng)驗(yàn)來(lái)定,一般定為L(zhǎng).S. 8或10。

13、在單晶測(cè)試的過(guò)程中選擇大小和形狀都不錯(cuò)的晶體,但是晶體上機(jī)器測(cè)試的時(shí)候卻出現(xiàn)衍射點(diǎn)很混亂,是什么原因造成的?
(1)太大了也不好,缺陷就會(huì)增多。

(2)衍射點(diǎn)混亂還可能使多晶或?qū)\晶,有些儀器通過(guò)設(shè)置可以分離出孿晶或多晶的衍射點(diǎn),數(shù)據(jù)收集還原沒(méi)有任何問(wèn)題,但問(wèn)題是比較麻煩且耗時(shí),不建議繼續(xù)測(cè)試。

(3)可能測(cè)試過(guò)程中粉末化,這種需要在溶液中挑出立即測(cè),或低溫測(cè)試。
(4)晶體表面并不光滑,有時(shí)候眼睛看著還可以,儀器更靈敏。


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