表面積、孔隙率、化學吸附和程序升溫方法
支持高精度氣體吸附,實現(xiàn)表面積和孔隙率測量

支持蒸氣吸附,適用于特定應用研究

支持化學吸附和動態(tài)吸附研究,可用于表征活性表面

支持分析測序,可對單個樣品自動測量物理吸附、化學吸附和動態(tài)吸附"/>

鑠思百檢測

DETECTION OF TECHNICAL SOUSEPAD

透射電子顯微鏡(TEM-EDS)掃描電子顯微鏡(FESEM-EDS)球差電鏡激光共聚焦顯微鏡(LSCM)原子力顯微鏡(AFM)電子探針儀(EPMA)金相顯微鏡電子背散射衍射儀(EBSD)臺階儀,膜厚儀,探針接觸式輪廓儀,3D輪廓儀工業(yè)CT白光干涉儀(非接觸式3D表面輪廓儀)電鏡測試FIB制樣離子減薄制樣冷凍超薄切片制樣樹脂包埋制樣(生物制樣)液氮脆斷制樣金網(wǎng)鉬網(wǎng)銅網(wǎng)超薄碳膜微柵制樣電鏡制樣X射線光電子能譜分析儀(XPS)紫外光電子能譜(UPS)俄歇電子能譜(AES)X射線衍射儀(XRD)X射線散射儀SAXS/WAXSX射線殘余應力分析儀X射線熒光光譜分析儀(XRF)電感耦合等離子體光譜儀(ICP-OES)紫外可見反射儀(DRS)拉曼光譜(RAMAN)紫外-可見分光光度計(UV)圓二色譜(CD)傅里葉變換紅外光譜分析儀(FTIR)吡啶紅外(DRIFTS)單晶衍射儀穆斯堡爾光譜儀穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜分析儀(PL)原子吸收分光光度計原子熒光光度計(AFS)三維熒光 /熒光分光光度計紅外熱成像儀霧度儀旋光儀橢偏儀光譜測試電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS)電噴霧離子化質(zhì)譜儀(ESI-MS)頂空-固相微萃取氣質(zhì)聯(lián)用儀(HS -SPME -GC -MS)二次離子質(zhì)譜(SIMS)基質(zhì)輔助激光解吸電離飛行時間質(zhì)譜儀(MALDI-TOF)裂解氣質(zhì)聯(lián)用儀(PY-GC-MS)氣質(zhì)聯(lián)用儀(GC-MS)同位素質(zhì)譜儀液質(zhì)聯(lián)用儀(LC-MS)質(zhì)譜測試差示掃描量熱儀(DSC)熱重分析儀(TGA)熱分析聯(lián)用儀(DSC-TGA)靜態(tài)/動態(tài)熱機械分析儀(TMA/DMA)熱重紅外聯(lián)用儀(TG-IR)熱重紅外質(zhì)譜聯(lián)用儀(TG-IR-MS)熱重紅外氣相質(zhì)譜聯(lián)用(TG-IR-GC-MS)紅外熱成像儀激光導熱儀錐形量熱儀(CONE)熱譜測試電子順磁共振波譜儀(EPR、ESR)固體核磁共振儀(NMR)液體核磁共振儀(NMR)微波網(wǎng)絡矢量分析儀/矢量網(wǎng)絡分析儀核磁順磁波譜測試比表面及孔徑分析儀(BET)表面張力儀(界面張力儀)高壓吸附儀化學吸附儀(TPD TPR)接觸角測量儀納米壓痕儀壓汞儀(MIP)表界面物性測試氣相色譜儀(GC)高效液相色譜儀(HPLC)離子色譜儀(IC)凝膠色譜儀(GPC)液相色譜(LC)色譜測試電導率儀電化學工作站腐蝕測試儀介電常數(shù)測定儀卡爾費休水分測定儀自動電位滴定儀電化學儀器測試Zeta電位儀工業(yè)分析激光粒度儀流變儀密度測定儀納米粒度儀邵氏 維氏 洛氏硬度計有機鹵素分析儀(F,Cl,Br,I,At,Ts)有機元素分析儀(EA)粘度計振動樣品磁強計(VSM)土壤分析測試植物分析測試其他測試同步輻射GIWAXS GISAXS同步輻射XRD,PDF,SAXS同步輻射吸收譜-高能機時同步輻射吸收譜之軟X射線同步輻射吸收譜之硬X射線同步輻射聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)礦物定量分析系統(tǒng)MLA球差校正透射電子顯微鏡高端電鏡類原位XPS測試原位EBSD(in situ -EBSD)原位紅外原位掃描電子顯微鏡(in-situ-SEM)原位透射電子顯微鏡高端原位測試飛行時間二次離子質(zhì)譜儀(TOF-SIMS)輝光放電光譜(GD-OES MS)三維原子探針(APT)高端質(zhì)譜類Micro/Nano /工業(yè)CT飛秒瞬態(tài)吸收光譜儀(fs-TAS)掃描隧道顯微鏡深能級瞬態(tài)譜儀正電子湮滅壽命譜儀其他XPS數(shù)據(jù)分析XRD全巖黏土分析表面成分分析技術(shù)-XPS測試分析常規(guī)XRD數(shù)據(jù)分析成分指紋分析技術(shù)-紅外測試分析二維紅外光譜技術(shù)紅外(IR)數(shù)據(jù)分析拉曼數(shù)據(jù)分析三維熒光數(shù)據(jù)分析圓二色譜(CD)數(shù)據(jù)分析成分含量分析EPR/ESR數(shù)據(jù)分析VSM數(shù)據(jù)分析電化學數(shù)據(jù)分析矢量網(wǎng)絡數(shù)據(jù)分析電磁分析CT數(shù)據(jù)分析X射線吸收精細結(jié)構(gòu)普(XAFS)數(shù)據(jù)分析穆斯堡爾譜數(shù)據(jù)分析小角散射(SAXS/WAXS)數(shù)據(jù)分析高端測試分析固體核磁數(shù)據(jù)分析液體核磁(NMR)測試+分析一體化液體核磁(NMR)數(shù)據(jù)分析化學結(jié)構(gòu)分析EBSD數(shù)據(jù)分析TEM數(shù)據(jù)分析單晶XRD數(shù)據(jù)分析晶體結(jié)構(gòu)確證技術(shù)-XRD精修XRD定性定量分析晶體結(jié)構(gòu)分析BET數(shù)據(jù)分析其它數(shù)據(jù)分析需求熱分析數(shù)據(jù)處理數(shù)據(jù)分析作圖其他數(shù)據(jù)分析半導體激光器模擬發(fā)光二極管仿真光電探測器仿真太陽能電池仿真半導體器件仿真表面能差分密度磁矩單原子催化電荷密度電解水制氫反應(HER)費米面(fermi surface)電子局域化函數(shù)(electron localization function)第一性原理分子模擬量子化學相分析有限元模擬常規(guī)理化-水樣常規(guī)理化-土樣/沉積物常規(guī)理化-氣體常規(guī)理化-植物/蔬果/農(nóng)作物常規(guī)理化-食品常規(guī)理化-肥料/飼料常規(guī)理化-巖礦常規(guī)理化-垃圾常規(guī)理化-職業(yè)衛(wèi)生常規(guī)理化-其它常規(guī)理化項目纖維素、半纖維素、木質(zhì)素含量bcr形態(tài)順序提取/tessier五步提取法土壤水體抗生素微塑料微生物磷脂脂肪酸(PLFA)非標理化-其它非標理化項目穩(wěn)定同位素放射性同位素同位素-其它金屬同位素同位素多糖的單糖組成測定可溶性寡糖定量土壤氨基糖多糖全套分析多糖甲基化植物糖化學-常規(guī)指標糖化學液質(zhì)聯(lián)用LCMS高效液相色譜HPLC氣相色譜GC氣質(zhì)聯(lián)用GCMS全二維氣質(zhì)GC×GC-MS氣相色譜-離子遷移譜聯(lián)用儀(GC-IMS)液相色譜-原子熒光聯(lián)用(LC-AFS)制備型HPLC色譜質(zhì)譜數(shù)據(jù)分析液相色譜-電感耦合等離子體質(zhì)譜(LC-ICPMS)色譜質(zhì)譜DOM(FT- ICR- MS)水質(zhì)NOM(LC-OCD-OND)DOM(FT-ICR-MS)數(shù)據(jù)分析環(huán)境高端電池產(chǎn)品整體解決方案正極顆粒表面微觀形貌正極顆粒物截面形貌與元素三元正極顆粒循環(huán)前后晶界裂紋正極顆粒摻雜元素分布正極顆粒截面元素分布和晶格表征正極極片原位晶相分析正極極片截面元素分布和晶格表征正極表面CEI膜測試方法XPS正極極片截面微觀形貌觀察和元素分布正極極片CEI膜成分分析與厚度測定正極極片介電常數(shù)正極極片浸潤性正極極片包覆層觀察正極極片雜質(zhì)含量測定正極極片氧空位測定負極顆粒表面微觀形貌觀察和元素分布負極顆粒截面微觀形貌觀察和元素分布石墨類型判定負極顆粒粒徑分析負極極片孔洞分析負極顆粒包覆層觀察負極顆粒羥基含量測定負極極片包覆層觀察負極表面SEI膜分析XPS法負極極片SEI膜成分分析與厚度測定負極極片截面微觀形貌觀察和元素分布負極極片石墨碳和無定型碳比例隔膜表面微觀形貌觀察隔膜循環(huán)前后孔徑變化質(zhì)子交換膜形貌(厚度)觀察 CP+SEM質(zhì)子交換膜雜質(zhì)元素電池循環(huán)后鼓包氣電池循環(huán)后爆炸氣鋰電池極片和集流體間的粘結(jié)強度三元正極材料NCM比例燃料電池-整體解決方案電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-優(yōu)勢項目正極材料-PH值正極材料-比表面積正極材料-磁性異物正極材料-化學成分正極材料-晶體結(jié)構(gòu)正極材料-粒徑分布正極材料-首次放電比容量及首次庫倫效率正極材料-水分含量正極材料-松裝密度正極材料-未知物分析正極材料-形貌,厚度與結(jié)構(gòu)正極材料-壓實密度正極材料-振實密度電池產(chǎn)品-正極材料負極材料-PH值負極材料-比表面積負極材料-層間距 石墨化度負極材料成分分析負極材料-磁性異物負極材料-粉末壓實密度負極材料-固定碳含量負極材料-化學成分負極材料-粒徑分布負極材料-石墨鑒定負極材料-水分負極材料-限用物質(zhì)含量負極材料-形貌與結(jié)構(gòu)負極材料-陰離子的測定負極材料-有機物含量負極材料-真密度負極材料-振實密度負極顆粒-石墨取向性(OI值)首次放電比容量及首次庫倫效率電池產(chǎn)品-負極材料電解液-電導率電解液-化學元素含量電解液-密度電解液-水分含量電解液-未知物分析電解液-游離酸(HF含量)電池產(chǎn)品-電解液電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-隔膜
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BET測試用什么儀器

 二維碼
發(fā)表時間:2022-10-05 14:58作者:鑠思百檢測

BET測試用什么儀器?今天鑠思百檢測小編給大家介紹 一下。

一、 全自動比表面及孔隙度分析儀BET


三站全功能型多用氣體吸附儀 3Flex

表面積、孔隙率、化學吸附和程序升溫方法
  • 支持高精度氣體吸附,實現(xiàn)表面積和孔隙率測量

  • 支持蒸氣吸附,適用于特定應用研究

  • 支持化學吸附和動態(tài)吸附研究,可用于表征活性表面

  • 支持分析測序,可對單個樣品自動測量物理吸附、化學吸附和動態(tài)吸附

3Flex 是一款高性能吸附分析儀,可用于測量粉體與顆粒材料的表面積、孔徑和孔體積。 標準方法或用戶定制的方案可用于表征吸附劑、催化劑、沸石、MOF、API、輔料以及各種多孔和無孔材料。 3Flex 可實現(xiàn)卓越的精度、分辨率和數(shù)據(jù)壓縮,是對微孔 (< 2 nm) 和介孔(2 到 50 nm)材料進行氣體或蒸氣吸附分析的理想選擇。

化學吸附選件進一步擴展了 3Flex 的應用范圍,使其兼具物理和化學吸附功能,可表征催化劑、催化劑載體、傳感器和各種其他材料的紋理和活性表面。

3Flex TCD 選件增加了動態(tài)化學吸附和程序升溫方法,并進一步增加了可在一臺吸附分析儀上實現(xiàn)的其他分析方法。 TCD 選件在 3Flex 中增加了程序升溫還原 (TPR)、氧化 (TPO)、脫附 (TPD) 和表面反應 (TPSR),可用于測量紋理特性和化學吸附。 通過增加一個用于脈沖化學吸附的選件,外加一個自動進樣環(huán),3Flex TCD 的分析范圍可進一步擴展。 3Flex TCD 還包含一個脈沖化學吸附 TCD。

二、測試項目:

吸附CO2

a. 氮氣吸附BET:比表面積、微孔孔徑分布(0.5-2 nm)、介孔分布(2-50 nm)、全孔孔徑分布(0.5-50 nm);

b. 特殊氣體吸附:常溫二氧化碳、氫氣、甲苯;一氧化碳 、正己烷、 水蒸氣 、乙酸乙酯、氧氣等吸附。

更多測試要求請咨詢測試老師

三、樣本要求:

1. 樣品狀態(tài):可為粉末、塊狀、薄膜樣品(塊狀、薄膜樣品要求尺寸小于5 mm)

2. 樣品用量:常規(guī)情況下比表面積大于500 m2/g,一般準備100 mg以上;若比表面積小于100 m2/g,請?zhí)峁?00 mg以上;表面積在 10 m2/g或者更少,需提供 0.5-1 g。

四、預約須知:

1. 對于氮氣吸附,樣品要求如下(若提供的樣品量不足則保證不了結(jié)果的準確性):

(1)比表面積大于500請?zhí)峁?00mg以上,可以用公式:比表面積*樣品量(g)=15-20來大致確定所需樣品量,實際測試老師會根據(jù)情況來確定測試樣品量;

(2)預約時請寫清楚比表面積范圍,如果由于樣品量少導致結(jié)果不準確,我們一般不安排復測;

(3)在不知道比表面積情況下,一般測試全孔和微孔質(zhì)量要100mg以上,測試介孔需要250mg以上,為方便取樣,請不要用自封袋裝樣。

2. 一般都是粉末樣品,如是顆粒狀請盡量物理粉碎得比較小,一般要求在3mm以下 。常規(guī)測試條件為N2-77 K,其條件請先聯(lián)系當?shù)仨椖拷?jīng)理或客服熱線。

3. 脫氣溫度要求在樣品穩(wěn)定溫度范圍內(nèi),不能超過熔點溫度的二分之一!??!

五、常見問題及解答:

  1. 曲線不閉合的原因主要有哪些?

a.一個是設備問題,有可能是漏氣了。儀器真空系統(tǒng)不保壓造成。這樣很容易造成吸附為負,以及造成后續(xù)的吸脫附曲線不閉合;

b. 一個是稱樣量問題,稱樣量太少,容易造成測量不準,曲線不閉合;

c. 樣品前處理問題,可能是材料中的雜質(zhì)在脫氣過程中沒有充分除去;

d.樣品本身比表面積較小。

2. 樣品的比表面積為什么較???

跟樣品本身的孔型有關(guān)系

3. 不同孔徑結(jié)構(gòu)分別用哪些模型來表示孔徑分布?

微孔孔徑分布可看HK中的孔徑分布數(shù)據(jù);介孔孔徑分布看BJH中的 孔徑分布數(shù)據(jù);全孔孔徑分布看NLDFT或DFT中的孔徑分布數(shù)據(jù)。

4. 為什么要對樣品進行脫氣處理?

目的是除去樣品表面吸附的雜質(zhì),如水、油等,一般是將樣品在真空下加熱處理。

5. 如何選擇脫氣溫度?

首要原則是不破壞樣品結(jié)構(gòu)。一般脫氣溫度不能高于固體熔點或玻璃的相變點,建議不要超過熔點溫度的一半。我們測試儀器可選溫度范圍一般是室溫-300℃。考慮到脫氣溫度過高會導致樣品結(jié)構(gòu)的不可逆變化,脫氣溫度過低又可能使脫氣處理不完全導致結(jié)果偏小,所以在不破壞樣品結(jié)構(gòu)的基礎上脫氣溫度可適當提高,同時也可以參考化學手冊(如 the Handbook of Chemistry and Physics)以及各標準組織發(fā)布的標準方法(如ASTM)。

6. 如何選擇脫氣時間

脫氣時間確定與脫氣溫度、樣品孔道復雜程度有關(guān)??椎涝綇碗s,孔道里的雜質(zhì)越難出來,需要脫氣時間就越長;脫氣溫度低,分子擴散速度慢,脫氣時間也需要延長;一般樣品的脫氣時間可設置不少于6h,對一些含有復雜微孔樣品其脫氣時間則需要更長。但也有特例,美國藥典規(guī)定硬脂酸鎂脫氣時間僅為2h。注:由于脫氣溫度,脫氣時間以及脫氣真空度都與比表面積值有關(guān),因此BET結(jié)果存在誤差是不可避免的,所以測樣需要固定處理條件來進行比較。



溫馨提示

1、不定期推出各種優(yōu)惠活動,詳情咨詢客服。

2測試前聯(lián)系在線客服確認測試條件、檢測費用、檢測周期等。

檢測咨詢熱線:15071040697    黃工QQ:82187958

公司網(wǎng)站:www.gzbj666.cn   武漢鑠思百檢測技術(shù)有限公司

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文章分類: 科研設備
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