掃描電鏡是用來測什么的？

掃描電鏡是用來測樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。

掃描電子顯微鏡(SEM) 是一種介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品，通過光束與物質間的相互作用，來激發(fā)各種物理信息，對這些信息收集、放大、再成像以達到對物質微觀形貌表征的目的。

新式的掃描電子顯微鏡的分辨率可以達到1nm；放大倍數(shù)可以達到30萬倍及以上連續(xù)可調；并且景深大、視野大、 成像立體效果好。

此外，掃描電子顯微鏡和其他分析儀器相結合，可以做到觀察微觀形貌的同時進行物質微區(qū)成分分析。掃描電子顯微鏡在巖土、石墨、陶瓷及納米材料等的研究上有廣泛應用。因此掃描電子顯微鏡在科學研究領域具有重大作用。

掃描電鏡的用途：

掃描電子顯微鏡主要用于對材料形貌/尺寸進行觀察并分析，對帶有鍍層的材料膜層分析、對材料微區(qū)進行EDS元素分析、細胞觀察，同時在對材料進行失效分析時進行元素測定、金相分析等。

掃描電鏡主要用于觀察:觀察納米材料、材料斷口的分析、直接觀察原始表面、觀察厚試樣、觀察各個區(qū)域的細節(jié)。

鑠思百檢測●掃描電鏡主要用于分析常規(guī)形貌/高分辨形貌/能譜EDS/元素含量/點掃線掃面掃/Mapping/元素分布等