X射線熒光光譜測試（XRF）常見問題

Q1:R o HS 測試時，為什么記數(shù)率變化很大？
A: 由于材料不同，X 熒光對不同的材料的激發(fā)效率就是不同的，所以記數(shù)率不相同的，同時，是因為金屬成份比較復(fù)雜，其測量的記數(shù)不影響實際的測量結(jié)果。

Q2:樣品測試時間有多長？
A： 測試時間越長，其測量的精度會越高，一般測量的時間與樣品的測試記數(shù)率有關(guān)，記數(shù)率越小，所用的測量的時間越長，一般測試時較小時，建議 200 秒為佳。

Q3:為什么一個峰，一半是汞的顏色，一半是鉛的顏色?
A：（1）峰漂移，這種情況應(yīng)重新初始化。
（2）其他元素的干擾。這種元素的并非是汞和鉛。

Q4:為什么測量小樣品時，要用直徑小的準(zhǔn)直器？
A： 在測量小樣品時，使用大的準(zhǔn)直器是可以測量的，其測量的結(jié)果比較準(zhǔn)確。使用小的準(zhǔn)直器多是測量樣品的某點含量的樣品的干擾，如：測量PCB板上的焊點，可以減少 “綠油 ”的影響。