鑠思百檢測(cè)

DETECTION OF TECHNICAL SOUSEPAD

透射電子顯微鏡(TEM-EDS)掃描電子顯微鏡(FESEM-EDS)球差電鏡激光共聚焦顯微鏡(LSCM)原子力顯微鏡(AFM)電子探針儀(EPMA)金相顯微鏡電子背散射衍射儀(EBSD)臺(tái)階儀,膜厚儀,探針接觸式輪廓儀,3D輪廓儀工業(yè)CT白光干涉儀(非接觸式3D表面輪廓儀)電鏡測(cè)試FIB制樣離子減薄制樣冷凍超薄切片制樣樹(shù)脂包埋制樣(生物制樣)液氮脆斷制樣金網(wǎng)鉬網(wǎng)銅網(wǎng)超薄碳膜微柵制樣電鏡制樣X射線光電子能譜分析儀(XPS)紫外光電子能譜(UPS)俄歇電子能譜(AES)X射線衍射儀(XRD)X射線散射儀SAXS/WAXSX射線殘余應(yīng)力分析儀X射線熒光光譜分析儀(XRF)電感耦合等離子體光譜儀(ICP-OES)紫外可見(jiàn)反射儀(DRS)拉曼光譜(RAMAN)紫外-可見(jiàn)分光光度計(jì)(UV)圓二色譜(CD)傅里葉變換紅外光譜分析儀(FTIR)吡啶紅外(DRIFTS)單晶衍射儀穆斯堡爾光譜儀穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜分析儀(PL)原子吸收分光光度計(jì)原子熒光光度計(jì)(AFS)三維熒光 /熒光分光光度計(jì)紅外熱成像儀霧度儀旋光儀橢偏儀光譜測(cè)試電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS)電噴霧離子化質(zhì)譜儀(ESI-MS)頂空-固相微萃取氣質(zhì)聯(lián)用儀(HS -SPME -GC -MS)二次離子質(zhì)譜(SIMS)基質(zhì)輔助激光解吸電離飛行時(shí)間質(zhì)譜儀(MALDI-TOF)裂解氣質(zhì)聯(lián)用儀(PY-GC-MS)氣質(zhì)聯(lián)用儀(GC-MS)同位素質(zhì)譜儀液質(zhì)聯(lián)用儀(LC-MS)質(zhì)譜測(cè)試差示掃描量熱儀(DSC)熱重分析儀(TGA)熱分析聯(lián)用儀(DSC-TGA)靜態(tài)/動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀(TMA/DMA)熱重紅外聯(lián)用儀(TG-IR)熱重紅外質(zhì)譜聯(lián)用儀(TG-IR-MS)熱重紅外氣相質(zhì)譜聯(lián)用(TG-IR-GC-MS)紅外熱成像儀激光導(dǎo)熱儀錐形量熱儀(CONE)熱譜測(cè)試電子順磁共振波譜儀(EPR、ESR)固體核磁共振儀(NMR)液體核磁共振儀(NMR)微波網(wǎng)絡(luò)矢量分析儀/矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀核磁順磁波譜測(cè)試比表面及孔徑分析儀(BET)表面張力儀(界面張力儀)高壓吸附儀化學(xué)吸附儀(TPD TPR)接觸角測(cè)量?jī)x納米壓痕儀壓汞儀(MIP)表界面物性測(cè)試氣相色譜儀(GC)高效液相色譜儀(HPLC)離子色譜儀(IC)凝膠色譜儀(GPC)液相色譜(LC)色譜測(cè)試電導(dǎo)率儀電化學(xué)工作站腐蝕測(cè)試儀介電常數(shù)測(cè)定儀卡爾費(fèi)休水分測(cè)定儀自動(dòng)電位滴定儀電化學(xué)儀器測(cè)試Zeta電位儀工業(yè)分析激光粒度儀流變儀密度測(cè)定儀納米粒度儀邵氏 維氏 洛氏硬度計(jì)有機(jī)鹵素分析儀(F,Cl,Br,I,At,Ts)有機(jī)元素分析儀(EA)粘度計(jì)振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)(VSM)土壤分析測(cè)試植物分析測(cè)試其他測(cè)試同步輻射GIWAXS GISAXS同步輻射XRD,PDF,SAXS同步輻射吸收譜-高能機(jī)時(shí)同步輻射吸收譜之軟X射線同步輻射吸收譜之硬X射線同步輻射聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)礦物定量分析系統(tǒng)MLA球差校正透射電子顯微鏡高端電鏡類原位XPS測(cè)試原位EBSD(in situ -EBSD)原位紅外原位掃描電子顯微鏡(in-situ-SEM)原位透射電子顯微鏡高端原位測(cè)試飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀(TOF-SIMS)輝光放電光譜(GD-OES MS)三維原子探針(APT)高端質(zhì)譜類Micro/Nano /工業(yè)CT飛秒瞬態(tài)吸收光譜儀(fs-TAS)掃描隧道顯微鏡深能級(jí)瞬態(tài)譜儀正電子湮滅壽命譜儀其他XPS數(shù)據(jù)分析XRD全巖黏土分析表面成分分析技術(shù)-XPS測(cè)試分析常規(guī)XRD數(shù)據(jù)分析成分指紋分析技術(shù)-紅外測(cè)試分析二維紅外光譜技術(shù)紅外(IR)數(shù)據(jù)分析拉曼數(shù)據(jù)分析三維熒光數(shù)據(jù)分析圓二色譜(CD)數(shù)據(jù)分析成分含量分析EPR/ESR數(shù)據(jù)分析VSM數(shù)據(jù)分析電化學(xué)數(shù)據(jù)分析矢量網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)分析電磁分析CT數(shù)據(jù)分析X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)普(XAFS)數(shù)據(jù)分析穆斯堡爾譜數(shù)據(jù)分析小角散射(SAXS/WAXS)數(shù)據(jù)分析高端測(cè)試分析固體核磁數(shù)據(jù)分析液體核磁(NMR)測(cè)試+分析一體化液體核磁(NMR)數(shù)據(jù)分析化學(xué)結(jié)構(gòu)分析EBSD數(shù)據(jù)分析TEM數(shù)據(jù)分析單晶XRD數(shù)據(jù)分析晶體結(jié)構(gòu)確證技術(shù)-XRD精修XRD定性定量分析晶體結(jié)構(gòu)分析BET數(shù)據(jù)分析其它數(shù)據(jù)分析需求熱分析數(shù)據(jù)處理數(shù)據(jù)分析作圖其他數(shù)據(jù)分析半導(dǎo)體激光器模擬發(fā)光二極管仿真光電探測(cè)器仿真太陽(yáng)能電池仿真半導(dǎo)體器件仿真表面能差分密度磁矩單原子催化電荷密度電解水制氫反應(yīng)(HER)費(fèi)米面(fermi surface)電子局域化函數(shù)(electron localization function)第一性原理分子模擬量子化學(xué)相分析有限元模擬常規(guī)理化-水樣常規(guī)理化-土樣/沉積物常規(guī)理化-氣體常規(guī)理化-植物/蔬果/農(nóng)作物常規(guī)理化-食品常規(guī)理化-肥料/飼料常規(guī)理化-巖礦常規(guī)理化-垃圾常規(guī)理化-職業(yè)衛(wèi)生常規(guī)理化-其它常規(guī)理化項(xiàng)目纖維素、半纖維素、木質(zhì)素含量bcr形態(tài)順序提取/tessier五步提取法土壤水體抗生素微塑料微生物磷脂脂肪酸(PLFA)非標(biāo)理化-其它非標(biāo)理化項(xiàng)目穩(wěn)定同位素放射性同位素同位素-其它金屬同位素同位素多糖的單糖組成測(cè)定可溶性寡糖定量土壤氨基糖多糖全套分析多糖甲基化植物糖化學(xué)-常規(guī)指標(biāo)糖化學(xué)液質(zhì)聯(lián)用LCMS高效液相色譜HPLC氣相色譜GC氣質(zhì)聯(lián)用GCMS全二維氣質(zhì)GC×GC-MS氣相色譜-離子遷移譜聯(lián)用儀(GC-IMS)液相色譜-原子熒光聯(lián)用(LC-AFS)制備型HPLC色譜質(zhì)譜數(shù)據(jù)分析液相色譜-電感耦合等離子體質(zhì)譜(LC-ICPMS)色譜質(zhì)譜DOM(FT- ICR- MS)水質(zhì)NOM(LC-OCD-OND)DOM(FT-ICR-MS)數(shù)據(jù)分析環(huán)境高端電池產(chǎn)品整體解決方案正極顆粒表面微觀形貌正極顆粒物截面形貌與元素三元正極顆粒循環(huán)前后晶界裂紋正極顆粒摻雜元素分布正極顆粒截面元素分布和晶格表征正極極片原位晶相分析正極極片截面元素分布和晶格表征正極表面CEI膜測(cè)試方法XPS正極極片截面微觀形貌觀察和元素分布正極極片CEI膜成分分析與厚度測(cè)定正極極片介電常數(shù)正極極片浸潤(rùn)性正極極片包覆層觀察正極極片雜質(zhì)含量測(cè)定正極極片氧空位測(cè)定負(fù)極顆粒表面微觀形貌觀察和元素分布負(fù)極顆粒截面微觀形貌觀察和元素分布石墨類型判定負(fù)極顆粒粒徑分析負(fù)極極片孔洞分析負(fù)極顆粒包覆層觀察負(fù)極顆粒羥基含量測(cè)定負(fù)極極片包覆層觀察負(fù)極表面SEI膜分析XPS法負(fù)極極片SEI膜成分分析與厚度測(cè)定負(fù)極極片截面微觀形貌觀察和元素分布負(fù)極極片石墨碳和無(wú)定型碳比例隔膜表面微觀形貌觀察隔膜循環(huán)前后孔徑變化質(zhì)子交換膜形貌(厚度)觀察 CP+SEM質(zhì)子交換膜雜質(zhì)元素電池循環(huán)后鼓包氣電池循環(huán)后爆炸氣鋰電池極片和集流體間的粘結(jié)強(qiáng)度三元正極材料NCM比例燃料電池-整體解決方案電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-優(yōu)勢(shì)項(xiàng)目正極材料-PH值正極材料-比表面積正極材料-磁性異物正極材料-化學(xué)成分正極材料-晶體結(jié)構(gòu)正極材料-粒徑分布正極材料-首次放電比容量及首次庫(kù)倫效率正極材料-水分含量正極材料-松裝密度正極材料-未知物分析正極材料-形貌,厚度與結(jié)構(gòu)正極材料-壓實(shí)密度正極材料-振實(shí)密度電池產(chǎn)品-正極材料負(fù)極材料-PH值負(fù)極材料-比表面積負(fù)極材料-層間距 石墨化度負(fù)極材料成分分析負(fù)極材料-磁性異物負(fù)極材料-粉末壓實(shí)密度負(fù)極材料-固定碳含量負(fù)極材料-化學(xué)成分負(fù)極材料-粒徑分布負(fù)極材料-石墨鑒定負(fù)極材料-水分負(fù)極材料-限用物質(zhì)含量負(fù)極材料-形貌與結(jié)構(gòu)負(fù)極材料-陰離子的測(cè)定負(fù)極材料-有機(jī)物含量負(fù)極材料-真密度負(fù)極材料-振實(shí)密度負(fù)極顆粒-石墨取向性(OI值)首次放電比容量及首次庫(kù)倫效率電池產(chǎn)品-負(fù)極材料電解液-電導(dǎo)率電解液-化學(xué)元素含量電解液-密度電解液-水分含量電解液-未知物分析電解液-游離酸(HF含量)電池產(chǎn)品-電解液電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-隔膜
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全自動(dòng)比表面及孔隙度分析儀(BET)

 二維碼
發(fā)表時(shí)間:2023-03-22 13:13作者:鑠思百檢測(cè)

全自動(dòng)比表面及孔隙度分析儀(簡(jiǎn)稱BET),這是一種比較新型的科研儀器,用于化學(xué)、材料科學(xué)、生化學(xué)、環(huán)境科學(xué)技術(shù)及資源科學(xué)技術(shù)領(lǐng)域的物理性能測(cè)試儀器。

01 BET儀器原理


其利用固體材料的吸附特性,借助氣體分子作為“量具”來(lái)度量材料的表面積和孔結(jié)構(gòu),可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸脫附曲線等數(shù)據(jù),常用的吸附質(zhì)氣體有氮?dú)?,二氧化碳,氬氣,氫氣等。可測(cè)試的孔徑范圍包括微孔和介孔。

02 主要應(yīng)用

多孔材料的比表面積與孔結(jié)構(gòu)的分析。

03 測(cè)試項(xiàng)目(可提供的科研服務(wù))

1.77K氮?dú)馕摳紹ET:比表面積、微孔孔徑分布(0.5~2nm)、介孔分布(2~50nm)、全孔孔徑分布(0.5~50 nm);特殊氣體吸附:常溫二氧化碳、氫氣、甲烷、氮?dú)猓?/span> 其他如氧氣、甲苯、一氧化碳 、正己烷、 水蒸氣 、乙酸乙酯等吸附需咨詢測(cè)試?yán)蠋煛?/span>

04 制樣說(shuō)明


樣品要求:

1. 可為粉末/塊狀/薄膜樣品;

2. 粉末狀樣品:常規(guī)情況下比表面積大于500 m2/g,一般準(zhǔn)備100 mg以上;若比表面積小于100 m2/g,請(qǐng)?zhí)峁?00 mg以上;表面積在 10 m2/g或者更少,需提供 0.5~1 g;

3.薄膜/塊狀樣品:尺寸小于3 mm。

注意事項(xiàng):如果對(duì)表面積有個(gè)大概估計(jì)可以用以下公式確定所需樣品量:預(yù)期的比表面積*樣品質(zhì)量(單位是“克”)=15~20 m2。




05 結(jié)果展示

一、麥克儀器結(jié)果



1. 等溫吸脫附曲線:

圖片圖片

2. 比表面積:

圖片

3. 平均孔徑:

圖片

4. 孔徑分布圖:

圖片

圖片

圖片



二、康塔儀器


1. 等溫吸脫附曲線:

圖片

圖片

2. 比表面積:

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3. 孔容:

圖片

4. 平均孔徑:

圖片

5. 孔徑分布圖:

圖片

圖片


06 常見(jiàn)問(wèn)題及回答


1. 曲線不閉合的原因主要有哪些?
(1)材料表面存在特殊的基團(tuán)和化學(xué)性能,導(dǎo)致吸附的氣體分子無(wú)法完全脫離,即材料對(duì)吸附質(zhì)有較強(qiáng)作用,導(dǎo)致吸脫附會(huì)存在一定的不閉合程度;(2)材料自身的比表面較小,一般吸脫附閉合程度會(huì)較差;(3)稱樣量問(wèn)題,稱樣量太少,容易造成測(cè)量不準(zhǔn),也會(huì)出現(xiàn)此類情況;(4)樣品前處理問(wèn)題,溫度太高,測(cè)試的孔結(jié)構(gòu)坍塌,氣體脫附不出來(lái)會(huì)造成曲線不閉合;(5)如果研究碳材料的話需要注意,碳材料的孔大多為柔性孔或者墨水瓶孔,氣體吸附之后孔口直徑收縮,導(dǎo)致吸附上的氣體不易脫附,很容易導(dǎo)致吸脫附曲線不閉合。

2. 樣品的比表面積為什么較???
跟樣品本身的孔型有關(guān)系,主要參看孔徑分布圖,以下類型比表面積較?。篴. 本身沒(méi)有孔,無(wú)孔材料,無(wú)吸附,自然測(cè)不到較大比表面積;b. 材料主要孔徑分布為大孔,不含微孔和介孔。一般而言微孔較多的材料比表面積相對(duì)大,介孔次之,大孔比表面積較小。

3. 不同孔徑結(jié)構(gòu)分別用哪些模型來(lái)表示孔徑分布?
微孔孔徑分布看HK中孔徑分布數(shù)據(jù);介孔孔徑分布看BJH中孔徑分布數(shù)據(jù);全孔孔徑分布看NLDFT或DFT中孔徑分布數(shù)據(jù)。

4. 為什么要對(duì)樣品進(jìn)行脫氣處理?
目的是除去樣品表面吸附的雜質(zhì),如水、油等,一般是將樣品在真空下加熱處理。

5. 如何選擇脫氣溫度?
首要原則是不破壞樣品結(jié)構(gòu)。一般脫氣溫度不能高于固體熔點(diǎn)或玻璃的相變點(diǎn),建議不要超過(guò)熔點(diǎn)溫度的一半。我們測(cè)試儀器可選溫度范圍一般是室溫-300℃。考慮到脫氣溫度過(guò)高會(huì)導(dǎo)致樣品結(jié)構(gòu)的不可逆變化,脫氣溫度過(guò)低又可能使脫氣處理不完全導(dǎo)致結(jié)果偏小,所以在不破壞樣品結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上脫氣溫度可適當(dāng)提高,同時(shí)也可以參考化學(xué)手冊(cè)(如 the Handbook of Chemistry and Physics)以及各標(biāo)準(zhǔn)組織發(fā)布的標(biāo)準(zhǔn)方法(如ASTM)。

6. 如何選擇脫氣時(shí)間?
脫氣時(shí)間確定與脫氣溫度、樣品孔道復(fù)雜程度有關(guān)??椎涝綇?fù)雜,孔道里的雜質(zhì)越難出來(lái),需要脫氣時(shí)間就越長(zhǎng);脫氣溫度低,分子擴(kuò)散速度慢,脫氣時(shí)間也需要延長(zhǎng);一般樣品的脫氣時(shí)間可設(shè)置不少于6h,對(duì)一些含有復(fù)雜微孔樣品其脫氣時(shí)間則需要更長(zhǎng)。但也有特例,美國(guó)藥典規(guī)定硬脂酸鎂脫氣時(shí)間僅為2h。注:由于脫氣溫度,脫氣時(shí)間以及脫氣真空度都與比表面積值有關(guān),因此BET結(jié)果存在誤差是不可避免的,所以測(cè)樣需要固定處理?xiàng)l件來(lái)進(jìn)行比較。

7. 樣品的比表面積,是否和樣品測(cè)試量有關(guān);樣品用量過(guò)少會(huì)造成哪些影響?
樣品的比表面積只與樣品本身有關(guān),實(shí)際上測(cè)試量多少并不會(huì)改變比表面積的大?。粯悠妨窟^(guò)少,主要是會(huì)造成吸附曲線難以閉合;此外吸附量低,誤差大,得不到準(zhǔn)確的比表面積。

8. 為什么外比表面積會(huì)為負(fù)數(shù)?
由于本身比表面積小,沒(méi)有吸附就會(huì)出現(xiàn)儀器誤差的現(xiàn)象, 吸附曲線亂串,也可能跑到負(fù)值出現(xiàn)吸附點(diǎn)。


以上就是今天的分享啦,希望能幫到大家,想了解更多的檢測(cè)項(xiàng)目,歡迎關(guān)注鑠思百檢測(cè),為大家提供專業(yè)的科研服務(wù)。


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