TOF-SIMS能測什么

     TOF-SIMS能測什么？今天鑠思百檢測小編帶大家詳細了解一下吧。先來看看TOF-SIMS的原理。

TOF-SIMS（Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry）是通過用一次離子激發(fā)樣品表面，打出極其微量的二次離子，根據(jù)二次離子因不同的質量而飛行到探測器的時間不同來測定離子質量的極高分辨率的測量技術。

TOF-SIMS 主要成分信息：元素（H-U）、同位素、分析鍵接等

適用材料：有機和無機材料

信息深度：1-2nm

剖析膜層深度：納米~微米

成分檢出限：~ppm

定量能力：需要標準樣品

TOF-SIMS能測什么？

TOF-SIMS應用領域

一、刑偵

由于TOF-SIMS能鑒定物質結構,特別對有機分子的結構鑒定,因此,通過TOF-SIMS成像的方式分析指紋,不僅能獲得比傳統(tǒng)方式更精細的形貌信息,還能獲得指紋上物質化學成分的分布信息。例如利用TOF-SIMS對長期流通過的人民幣表面上的指紋進行化學成像分析,利用TOF-SIMS的技術優(yōu)勢,顯現(xiàn)傳統(tǒng)方法無法顯現(xiàn)的潛在指紋;利用其空間分辨率高的優(yōu)勢，獲取指紋中三級特征:利用其對物質分子結構，特別是有機分子的鑒定能力,檢測指紋中的外源性物質,為此類疑難樣品表面的指紋分析提供新的解決思路。

二、生物科學

三、電池材料

TOF-SIMS深度剖析（3D 成像）：鋰電池極片表面SEI層的成分和厚度

四、半導體材料

五、地質考古

宋代華北油滴黑釉殘片油滴的正負二次離子圖像

六、環(huán)境

TOF-SIMS的不同工作模式可以應用于氣溶膠研究的不同方面，靜態(tài)TOF-SIMS主要應用于氣溶膠粒子表層分析和表面成像、氣溶膠粒子表面元素組成、表面化合物信息的獲取等;動態(tài)TOF-SIMS主要應用于單個氣溶膠粒子的深度剖析和三維成像。目前，已將TOF-SIMS應用于氣溶膠粒子表面特征、化學組成深度分布特征、表面化學反應、表面毒性、污染源排放特征研究等多個領域。TOF-SIMS技術可以較易獲得氣溶膠粒子各類無機物和有機物的信息。

TOF-SIMS作為重要的表面化學分析手段之一，在材料分析中的主要應用：能源電池材料、半導體和電子器件、有機半導體（OLED & 鈣鈦礦）、礦物陶瓷、金屬、生物醫(yī)藥、聚合物等材料的表面分析和膜層結構剖析。