TEM和HRTEM的區(qū)別

HRTEM和TEM有什么區(qū)別呢？樣品什么情況下適合做TEM？什么情況下需要做HRTEM? 今天鑠思百檢測小編整理了相關信息希望能幫到大家。

HRTEM(high resolution transmission electron microscopy )就是高分辨率的透射電鏡,它只是分辨率比較高，所以一般透射電鏡能做的工作它也能做，但高分辨電鏡物鏡極靴間距比較小，所以雙傾臺的轉角相對于分析型的電鏡要小一些。 　

用hrtem研究納米顆?？梢酝ㄟ^結合高分辨像和能譜分析結果來得到顆粒的結構和成分信息。

HRTEM和TEM原理介紹：

一臺電鏡的分辨率主要是由物鏡所決定.如果我們在物鏡的后焦面上不加任何光闌或大的物鏡光闌,如果物鏡的分辨率足夠,那么我們使用高倍數(shù)的中間鏡和目鏡,我們就能觀察到晶格像,就是所謂的高分辨像.因為多束相干的衍射束在物鏡后焦面形成衍射點,接著在物鏡象平面通過干涉形成高分辨晶格像.如果我們降低放大倍數(shù),比如較低到1萬倍,我們就看不到晶格象了,這是為什么呢?

如果仔細觀察從80萬倍,50萬倍,30萬倍一直降到一萬倍,對很多透射電鏡來說,你會發(fā)現(xiàn)物鏡的電流沒有任何改變,也就是物鏡的放大倍數(shù),分辨率沒有任何改變,只有中間鏡和目鏡放大倍數(shù)改變,我們之所以看不到晶格像,因為后級的中間鏡和目鏡放大倍數(shù)不夠,熒光屏,底片和CCD都無法以最小的象素記錄每一個晶格象中的格點.這也就是所謂的普通的TEM.
但是這樣記錄所謂普通的TEM一般來說是不正確的.如果中間鏡和目鏡放大倍數(shù)不夠,我們看不到晶格象,這時候應該記錄衍襯象,即明場象或暗場象.也就是說為了正確的解釋襯度的來源,我們必須要使用物鏡光闌(或高襯度光闌)選擇中心透射束(明場象)或者某一衍射束(暗場象).如果仍然象在記錄高分辨率象那樣,不加任何物鏡光闌,所得到的襯度將難以解釋.
因此簡單來說,從電鏡自身來說,HRTEM和低倍的TEM只是中間鏡和目鏡放大倍數(shù)不同.但是從物理上來說,記錄HRTEM必須要使用大的物鏡光闌使最少2束出射束(如中心透射束和一束衍射束)通過干涉形成晶格象.而低倍下,一般需采用物鏡光闌選擇中心透射束或者某一衍射束形成明場或暗場象.

樣品什么情況下適合做TEM？

tem透射電子顯微鏡（英語：transmission electron microscopy，縮寫tem），簡稱透射電鏡，是把經(jīng)加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關，因此可以形成明暗不同的影像。通常，透射電子顯微鏡的分辨率為0.1～0.2nm，放大倍數(shù)為幾萬～百萬倍，用于觀察超微結構，即小于0.2μm、光學顯微鏡下無法看清的結構，又稱“亞顯微結構”。

樣品什么情況下需要做HRTEM?

如果只是為了照樣品大小形狀，而樣品的的顆粒在大于10nm，那建議拍tem。如果很小，或者想觀測晶格，那就要做HRTEM了。高分辨電鏡可以觀察晶格條紋，根據(jù)d值判斷暴漏的那個晶面。

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