鑠思百檢測

DETECTION OF TECHNICAL SOUSEPAD

透射電子顯微鏡(TEM-EDS)掃描電子顯微鏡(FESEM-EDS)球差電鏡激光共聚焦顯微鏡(LSCM)原子力顯微鏡(AFM)電子探針儀(EPMA)金相顯微鏡電子背散射衍射儀(EBSD)臺階儀,膜厚儀,探針接觸式輪廓儀,3D輪廓儀工業(yè)CT白光干涉儀(非接觸式3D表面輪廓儀)電鏡測試FIB制樣離子減薄制樣冷凍超薄切片制樣樹脂包埋制樣(生物制樣)液氮脆斷制樣金網(wǎng)鉬網(wǎng)銅網(wǎng)超薄碳膜微柵制樣電鏡制樣X射線光電子能譜分析儀(XPS)紫外光電子能譜(UPS)俄歇電子能譜(AES)X射線衍射儀(XRD)X射線散射儀SAXS/WAXSX射線殘余應(yīng)力分析儀X射線熒光光譜分析儀(XRF)電感耦合等離子體光譜儀(ICP-OES)紫外可見反射儀(DRS)拉曼光譜(RAMAN)紫外-可見分光光度計(jì)(UV)圓二色譜(CD)傅里葉變換紅外光譜分析儀(FTIR)吡啶紅外(DRIFTS)單晶衍射儀穆斯堡爾光譜儀穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜分析儀(PL)原子吸收分光光度計(jì)原子熒光光度計(jì)(AFS)三維熒光 /熒光分光光度計(jì)紅外熱成像儀霧度儀旋光儀橢偏儀光譜測試電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS)電噴霧離子化質(zhì)譜儀(ESI-MS)頂空-固相微萃取氣質(zhì)聯(lián)用儀(HS -SPME -GC -MS)二次離子質(zhì)譜(SIMS)基質(zhì)輔助激光解吸電離飛行時間質(zhì)譜儀(MALDI-TOF)裂解氣質(zhì)聯(lián)用儀(PY-GC-MS)氣質(zhì)聯(lián)用儀(GC-MS)同位素質(zhì)譜儀液質(zhì)聯(lián)用儀(LC-MS)質(zhì)譜測試差示掃描量熱儀(DSC)熱重分析儀(TGA)熱分析聯(lián)用儀(DSC-TGA)靜態(tài)/動態(tài)熱機(jī)械分析儀(TMA/DMA)熱重紅外聯(lián)用儀(TG-IR)熱重紅外質(zhì)譜聯(lián)用儀(TG-IR-MS)熱重紅外氣相質(zhì)譜聯(lián)用(TG-IR-GC-MS)紅外熱成像儀激光導(dǎo)熱儀錐形量熱儀(CONE)熱譜測試電子順磁共振波譜儀(EPR、ESR)固體核磁共振儀(NMR)液體核磁共振儀(NMR)微波網(wǎng)絡(luò)矢量分析儀/矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀核磁順磁波譜測試比表面及孔徑分析儀(BET)表面張力儀(界面張力儀)高壓吸附儀化學(xué)吸附儀(TPD TPR)接觸角測量儀納米壓痕儀壓汞儀(MIP)表界面物性測試氣相色譜儀(GC)高效液相色譜儀(HPLC)離子色譜儀(IC)凝膠色譜儀(GPC)液相色譜(LC)色譜測試電導(dǎo)率儀電化學(xué)工作站腐蝕測試儀介電常數(shù)測定儀卡爾費(fèi)休水分測定儀自動電位滴定儀電化學(xué)儀器測試Zeta電位儀工業(yè)分析激光粒度儀流變儀密度測定儀納米粒度儀邵氏 維氏 洛氏硬度計(jì)有機(jī)鹵素分析儀(F,Cl,Br,I,At,Ts)有機(jī)元素分析儀(EA)粘度計(jì)振動樣品磁強(qiáng)計(jì)(VSM)土壤分析測試植物分析測試其他測試同步輻射GIWAXS GISAXS同步輻射XRD,PDF,SAXS同步輻射吸收譜-高能機(jī)時同步輻射吸收譜之軟X射線同步輻射吸收譜之硬X射線同步輻射聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)礦物定量分析系統(tǒng)MLA球差校正透射電子顯微鏡高端電鏡類原位XPS測試原位EBSD(in situ -EBSD)原位紅外原位掃描電子顯微鏡(in-situ-SEM)原位透射電子顯微鏡高端原位測試飛行時間二次離子質(zhì)譜儀(TOF-SIMS)輝光放電光譜(GD-OES MS)三維原子探針(APT)高端質(zhì)譜類Micro/Nano /工業(yè)CT飛秒瞬態(tài)吸收光譜儀(fs-TAS)掃描隧道顯微鏡深能級瞬態(tài)譜儀正電子湮滅壽命譜儀其他XPS數(shù)據(jù)分析XRD全巖黏土分析表面成分分析技術(shù)-XPS測試分析常規(guī)XRD數(shù)據(jù)分析成分指紋分析技術(shù)-紅外測試分析二維紅外光譜技術(shù)紅外(IR)數(shù)據(jù)分析拉曼數(shù)據(jù)分析三維熒光數(shù)據(jù)分析圓二色譜(CD)數(shù)據(jù)分析成分含量分析EPR/ESR數(shù)據(jù)分析VSM數(shù)據(jù)分析電化學(xué)數(shù)據(jù)分析矢量網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)分析電磁分析CT數(shù)據(jù)分析X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)普(XAFS)數(shù)據(jù)分析穆斯堡爾譜數(shù)據(jù)分析小角散射(SAXS/WAXS)數(shù)據(jù)分析高端測試分析固體核磁數(shù)據(jù)分析液體核磁(NMR)測試+分析一體化液體核磁(NMR)數(shù)據(jù)分析化學(xué)結(jié)構(gòu)分析EBSD數(shù)據(jù)分析TEM數(shù)據(jù)分析單晶XRD數(shù)據(jù)分析晶體結(jié)構(gòu)確證技術(shù)-XRD精修XRD定性定量分析晶體結(jié)構(gòu)分析BET數(shù)據(jù)分析其它數(shù)據(jù)分析需求熱分析數(shù)據(jù)處理數(shù)據(jù)分析作圖其他數(shù)據(jù)分析半導(dǎo)體激光器模擬發(fā)光二極管仿真光電探測器仿真太陽能電池仿真半導(dǎo)體器件仿真表面能差分密度磁矩單原子催化電荷密度電解水制氫反應(yīng)(HER)費(fèi)米面(fermi surface)電子局域化函數(shù)(electron localization function)第一性原理分子模擬量子化學(xué)相分析有限元模擬常規(guī)理化-水樣常規(guī)理化-土樣/沉積物常規(guī)理化-氣體常規(guī)理化-植物/蔬果/農(nóng)作物常規(guī)理化-食品常規(guī)理化-肥料/飼料常規(guī)理化-巖礦常規(guī)理化-垃圾常規(guī)理化-職業(yè)衛(wèi)生常規(guī)理化-其它常規(guī)理化項(xiàng)目纖維素、半纖維素、木質(zhì)素含量bcr形態(tài)順序提取/tessier五步提取法土壤水體抗生素微塑料微生物磷脂脂肪酸(PLFA)非標(biāo)理化-其它非標(biāo)理化項(xiàng)目穩(wěn)定同位素放射性同位素同位素-其它金屬同位素同位素多糖的單糖組成測定可溶性寡糖定量土壤氨基糖多糖全套分析多糖甲基化植物糖化學(xué)-常規(guī)指標(biāo)糖化學(xué)液質(zhì)聯(lián)用LCMS高效液相色譜HPLC氣相色譜GC氣質(zhì)聯(lián)用GCMS全二維氣質(zhì)GC×GC-MS氣相色譜-離子遷移譜聯(lián)用儀(GC-IMS)液相色譜-原子熒光聯(lián)用(LC-AFS)制備型HPLC色譜質(zhì)譜數(shù)據(jù)分析液相色譜-電感耦合等離子體質(zhì)譜(LC-ICPMS)色譜質(zhì)譜DOM(FT- ICR- MS)水質(zhì)NOM(LC-OCD-OND)DOM(FT-ICR-MS)數(shù)據(jù)分析環(huán)境高端電池產(chǎn)品整體解決方案正極顆粒表面微觀形貌正極顆粒物截面形貌與元素三元正極顆粒循環(huán)前后晶界裂紋正極顆粒摻雜元素分布正極顆粒截面元素分布和晶格表征正極極片原位晶相分析正極極片截面元素分布和晶格表征正極表面CEI膜測試方法XPS正極極片截面微觀形貌觀察和元素分布正極極片CEI膜成分分析與厚度測定正極極片介電常數(shù)正極極片浸潤性正極極片包覆層觀察正極極片雜質(zhì)含量測定正極極片氧空位測定負(fù)極顆粒表面微觀形貌觀察和元素分布負(fù)極顆粒截面微觀形貌觀察和元素分布石墨類型判定負(fù)極顆粒粒徑分析負(fù)極極片孔洞分析負(fù)極顆粒包覆層觀察負(fù)極顆粒羥基含量測定負(fù)極極片包覆層觀察負(fù)極表面SEI膜分析XPS法負(fù)極極片SEI膜成分分析與厚度測定負(fù)極極片截面微觀形貌觀察和元素分布負(fù)極極片石墨碳和無定型碳比例隔膜表面微觀形貌觀察隔膜循環(huán)前后孔徑變化質(zhì)子交換膜形貌(厚度)觀察 CP+SEM質(zhì)子交換膜雜質(zhì)元素電池循環(huán)后鼓包氣電池循環(huán)后爆炸氣鋰電池極片和集流體間的粘結(jié)強(qiáng)度三元正極材料NCM比例燃料電池-整體解決方案電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-優(yōu)勢項(xiàng)目正極材料-PH值正極材料-比表面積正極材料-磁性異物正極材料-化學(xué)成分正極材料-晶體結(jié)構(gòu)正極材料-粒徑分布正極材料-首次放電比容量及首次庫倫效率正極材料-水分含量正極材料-松裝密度正極材料-未知物分析正極材料-形貌,厚度與結(jié)構(gòu)正極材料-壓實(shí)密度正極材料-振實(shí)密度電池產(chǎn)品-正極材料負(fù)極材料-PH值負(fù)極材料-比表面積負(fù)極材料-層間距 石墨化度負(fù)極材料成分分析負(fù)極材料-磁性異物負(fù)極材料-粉末壓實(shí)密度負(fù)極材料-固定碳含量負(fù)極材料-化學(xué)成分負(fù)極材料-粒徑分布負(fù)極材料-石墨鑒定負(fù)極材料-水分負(fù)極材料-限用物質(zhì)含量負(fù)極材料-形貌與結(jié)構(gòu)負(fù)極材料-陰離子的測定負(fù)極材料-有機(jī)物含量負(fù)極材料-真密度負(fù)極材料-振實(shí)密度負(fù)極顆粒-石墨取向性(OI值)首次放電比容量及首次庫倫效率電池產(chǎn)品-負(fù)極材料電解液-電導(dǎo)率電解液-化學(xué)元素含量電解液-密度電解液-水分含量電解液-未知物分析電解液-游離酸(HF含量)電池產(chǎn)品-電解液電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-隔膜
設(shè)為首頁 | 收藏本站

壓汞測試數(shù)據(jù)分析方法

 二維碼
發(fā)表時間:2023-12-14 15:15作者:鑠思百檢測

壓汞測試數(shù)據(jù)如何處理?經(jīng)常有同學(xué)測完壓汞會問數(shù)據(jù)怎么處理,壓汞的數(shù)據(jù)怎么看,針對此,鑠思百檢測小編整理了相關(guān)信息,希望能幫到大家。

先簡單了解一下壓汞測試原理。

一、壓汞原理介紹

壓汞儀是通過汞入侵法來測定粉末和固體物理性質(zhì)的儀器,因氮?dú)馕綔y試只能局限于測中微孔分布,大孔材料一般利用壓汞測試來測量。

原理:汞對大多數(shù)固體材料具有非潤濕性,需外加壓力才能進(jìn)入固體孔中。汞壓入的孔半徑與所受外壓力呈反比,外壓越大,汞能進(jìn)入的孔半徑越小。汞填充孔的順序是先外部,后內(nèi)部;先大孔,后中孔,再小孔。 測量不同外壓下進(jìn)入孔中汞的量即可知相應(yīng)孔大小的孔體積。

對于圓柱型孔模型,汞能進(jìn)入的孔的大小與壓力符合Washburn方程,控制不同的壓力,即可測出壓入孔中汞的體積,由此得到對應(yīng)于不同壓力的孔徑大小的累積分布曲線或微分曲線。

Washburn 方程:h2=crσ cosθ·t (2η)–1,式中c為毛細(xì)管形狀系數(shù);r 為平均毛細(xì)管半徑;指定體系的cr 為定值,稱為形式半徑;σ為液體的表面張力;η為液體粘度

適合分析材料:大孔材料

應(yīng)用領(lǐng)域:壓汞儀用來測定粉末和固體重要的物理特性,如孔徑分布、總孔體積、總孔表面積、中值孔徑、樣品的密度(真密度和堆密度)、流體導(dǎo)電性和機(jī)械性能。


二、壓汞測試樣品要求

可測樣品:改性土、水泥漿、混凝土、陶瓷、石墨烯、煤炭、氧化鋁以及其他材料,其塊狀或者粉末的空(孔)隙率、孔隙結(jié)構(gòu)及其分布特征分析。

樣品要求:

1、 樣品量:最好2~3克

2、 樣品尺寸不超過15*15*15mm


三、壓汞測試數(shù)據(jù)如何處理?


以下圖為例簡要敘述一下壓汞和退汞(綠色曲線)過程,以下圖1~圖5所示

圖1 描述的是壓汞過程-紅色曲線,以及綠色曲線的退汞過程。其中曲線的 拐點(diǎn)1,2,3,4,5代表材料中各類孔結(jié)構(gòu)的范圍。

1-2-3階段:是大孔,主要是顆??障吨g的孔容;

3-4階段:隨著壓力的增加進(jìn)汞量基本沒有增加,能量消耗主要表現(xiàn)為材料顆粒被壓縮;

4-5階段:隨著壓力值越來越大,材料顆粒吸收了更多的能量,體積被進(jìn)一步壓縮,另一方面,材料基體中含有的毛細(xì)孔,細(xì)觀孔也在高壓下被汞注入。到了5階段以后,更小的小孔也在強(qiáng)大的壓力下注滿汞

圖2 所示的是,1克材料中,相應(yīng) 每一級壓力(荷載)對應(yīng)的孔容值。


圖3 描述的是 材料孔結(jié)構(gòu)的分布(圖),各階段的峰值是該孔徑范圍內(nèi)的最可幾孔徑,即在此處的進(jìn)汞量(孔容)最大。


圖4 描述的是 孔徑分布密度函數(shù),即是說整個孔徑分布的范圍,分成若干(或無數(shù))個以1nm為單位的孔隙,假如某個nm上有孔存在,那么就把這個孔的孔容值以縱坐標(biāo)表示。

那么圖1的退汞曲線為什么在壓汞曲線的上方這個現(xiàn)象呢?

主要是因?yàn)樵趬汗^程中材料吸收大量的能量;退汞時,隨著壓力的降低,材料基體應(yīng)力釋放發(fā)生體積膨脹,產(chǎn)生的裂隙或者位置變化了的空隙空間被汞沖填,從而表現(xiàn)出圖1的退汞曲線。


四、壓汞數(shù)據(jù)處理

壓汞中各個物理量含義及計(jì)算方式如下:



1、平均孔徑4V/A:就是把 V化成m3/g,A為m2/g,這樣所得的單位就是m,再換算成nm就行了,其中, V是從孔容為0到孔容為進(jìn)汞過程(第一個)最大值,這些數(shù)據(jù)的平均值,A的含義同V,從孔面積為0到孔面積為進(jìn)汞過程(第一個)最大值。

2、中間孔徑(V):就是孔容為進(jìn)汞過程(第一個)最大值一半時對應(yīng)的孔徑。

3、中間孔徑(A):就是孔面積為進(jìn)汞過程(第一個)最大值一半時對應(yīng)的孔徑。


五、壓汞測試常見問題解答

1) 壓汞分析文件中,有兩個中間孔徑V和A,有什么區(qū)別?

中間孔徑V和A分別是指V和A從第一個點(diǎn)對應(yīng)值到第一次最大值這些數(shù)據(jù)中,V和A中間值對應(yīng)的孔徑,如最大值是1.000,那么0.500對應(yīng)的孔徑就是中間孔徑,因?yàn)槲覀兗虞d的壓力是一個一個點(diǎn)組成的,所以有時候這個0.500不一定正好存在,則所得的中間孔徑也就是估算大概的數(shù)據(jù)。

2) 該文件中,總孔容和總孔面積分別是m3和m2,是不是針對被測樣品的質(zhì)量而言,有沒有除上質(zhì)量?如果是m3/g和m2/g可能更有比較意義。

總孔容和總孔面積軟件都是ml/g,和m2/g給出的,您可以按照我們實(shí)驗(yàn)對應(yīng)的質(zhì)量換算成您想要的m3/g和m2/g。

3) 該文件中每個樣品的具體數(shù)據(jù),除了堆積密度與PDF格式文件(或Excel文件)中的數(shù)據(jù)一致以外,其它重要的參數(shù)如表觀密度、孔隙率、平均孔徑、中間孔徑等均不一致。不知道是怎么回事?

因?yàn)檐浖际悄J(rèn)用戶的這些參數(shù)是在設(shè)置的最后一個壓力情況下得到的,所以軟件都是取最后一個點(diǎn)來計(jì)算這些參數(shù)值。表觀密度我是取第一個加載點(diǎn)計(jì)算的,孔隙率我是取壓汞過程最大值來計(jì)算的,平均孔徑也是以最大值來計(jì)算的,中間孔徑如1問來計(jì)算的。

4) 對于我們的樣品來說,我們最想要分析測試樣品的孔大小在樣品中的分布情況,也可以說是每種孔徑(孔體積)的孔在樣品中的占比如何?最好是得到孔徑(或體積)vs.占比的曲線圖。不知道怎樣可以得到這個曲線?

可以計(jì)算占比情況,因?yàn)閿?shù)據(jù)中有孔徑和各級孔徑對應(yīng)的孔容值及總孔容值。那么橫坐標(biāo)是孔徑(或體積),縱坐標(biāo)是孔容的百分率是可以的。




在線客服
 
 
 工作時間
周一至周六 :8:00-18:00
 聯(lián)系方式
客服-黃工:150 7104 0697
客服-劉工:18120219335
晴隆县| 平遥县| 仪征市| 梧州市| 和田县| 乌兰察布市| 布尔津县| 镇安县| 邵武市| 铜鼓县| 突泉县| 孝昌县| 黑龙江省| 凤冈县| 惠安县| 巴塘县| 新绛县| 兴业县| 岫岩| 涟水县| 金堂县| 日喀则市| 合水县| 海淀区| 吴桥县| 河曲县| 延吉市| 平顶山市| 渝北区| 会泽县| 金堂县| 陆良县| 万宁市| 靖远县| 洛扎县| 岑巩县| 英德市| 壤塘县| 吉安县| 德州市| 白城市|