GB T 5594.4-2015 電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測試方法第4部分介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值測試方法

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發(fā)表時間：2019-12-10 11:15作者：武漢鑠思百檢測技術(shù)有限公司來源：鑠思百檢測

【國家標(biāo)準(zhǔn)】標(biāo)準(zhǔn)號：GB T 5594.4-2015

　中文名：電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測試方法第4部分介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值測試方法

　范圍：

GB / T5594 的本部分規(guī)定了裝置零件、真空電子器件、電阻基體、半導(dǎo)體及集成電路基片等用電子陶瓷材料介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測試方法。

本部分適用于裝置零件、真空電子器件、電阻基體、半導(dǎo)體及集成電路基片等用電子陶瓷材料在頻率為 1 MHz , 溫度從室溫至 500 ℃ 條件下的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測試。

測試原理

介質(zhì)損耗的表示含義：

陶瓷材料的介質(zhì)損耗表示材料上通過交流電場時, 產(chǎn)生電能損失的一種性質(zhì)。也可以說材料接受交流電場影響時, 因極化或吸收現(xiàn)象的產(chǎn)生過程, 所產(chǎn)生的一種電能損失。它有兩種基本性質(zhì), 即介電常數(shù) ε 和介質(zhì)損耗角正切值 tan δ 。

介電常數(shù)

ε 為相對介電常數(shù), 是表示絕緣材料在交流電場下介質(zhì)極化的程度的一個參數(shù), 它是充滿絕緣材料的電容器的電容量 C X 與同樣電極尺寸以真空為介質(zhì)時的電容器的電容量 C 0 的比值, 如式( 1 )所示:

ε= Cx/C 0…………………………( 1 )

根據(jù)陶瓷試樣的形狀、尺寸和測得的電容值來計算介電常數(shù) ε 。如不計邊緣效應(yīng), 平板圓形試樣,測得電容值為 C X , 試樣直徑為D , 試樣厚度為 h 。經(jīng)過換算得到式( 2 ):

ε=14.4 hCx/D…………………………( 2 )

式中:

ε———介電常數(shù);

h———試樣厚度, 單位為厘米( cm );

C X ———試樣電容值, 單位為皮法(pF);

D———試樣直徑, 單位為厘米( cm )。

　發(fā)布時間：2015-05-15

　實施時間：2016-01-01