GB T 5594.8-2015 電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測試方法 第8部分 顯微結(jié)構(gòu)測定方法 二維碼
發(fā)表時間:2019-12-10 11:24作者:武漢鑠思百檢測技術(shù)有限公司來源:鑠思百檢測 【國家標(biāo)準(zhǔn)】標(biāo)準(zhǔn)號:GB T 5594.8-2015 中文名:電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測試方法 第8部分顯微結(jié)構(gòu)測定方法 范圍: GB / T5594 的本部分規(guī)定了氧化鋁瓷、氧化鈹瓷、 滑石瓷和鎂橄欖石瓷等電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷顯微結(jié)構(gòu)的測定方法。 本部分適用于氧化鋁瓷、氧化鈹瓷、滑石瓷和鎂橄欖石瓷等電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷顯微結(jié)構(gòu)的測定。 本部分只涉及光學(xué)顯微鏡的測定內(nèi)容和測定方法。
發(fā)布時間:2015-05-15 實施時間:2016-01-01 頒發(fā)部門:國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局
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