鑠思百檢測

DETECTION OF TECHNICAL SOUSEPAD

透射電子顯微鏡(TEM-EDS)掃描電子顯微鏡(FESEM-EDS)球差電鏡激光共聚焦顯微鏡(LSCM)原子力顯微鏡(AFM)電子探針儀(EPMA)金相顯微鏡電子背散射衍射儀(EBSD)臺(tái)階儀,膜厚儀,探針接觸式輪廓儀,3D輪廓儀工業(yè)CT白光干涉儀(非接觸式3D表面輪廓儀)電鏡測試FIB制樣離子減薄制樣冷凍超薄切片制樣樹脂包埋制樣(生物制樣)液氮脆斷制樣金網(wǎng)鉬網(wǎng)銅網(wǎng)超薄碳膜微柵制樣電鏡制樣X射線光電子能譜分析儀(XPS)紫外光電子能譜(UPS)俄歇電子能譜(AES)X射線衍射儀(XRD)X射線散射儀SAXS/WAXSX射線殘余應(yīng)力分析儀X射線熒光光譜分析儀(XRF)電感耦合等離子體光譜儀(ICP-OES)紫外可見反射儀(DRS)拉曼光譜(RAMAN)紫外-可見分光光度計(jì)(UV)圓二色譜(CD)傅里葉變換紅外光譜分析儀(FTIR)吡啶紅外(DRIFTS)單晶衍射儀穆斯堡爾光譜儀穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜分析儀(PL)原子吸收分光光度計(jì)原子熒光光度計(jì)(AFS)三維熒光 /熒光分光光度計(jì)紅外熱成像儀霧度儀旋光儀橢偏儀光譜測試電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS)電噴霧離子化質(zhì)譜儀(ESI-MS)頂空-固相微萃取氣質(zhì)聯(lián)用儀(HS -SPME -GC -MS)二次離子質(zhì)譜(SIMS)基質(zhì)輔助激光解吸電離飛行時(shí)間質(zhì)譜儀(MALDI-TOF)裂解氣質(zhì)聯(lián)用儀(PY-GC-MS)氣質(zhì)聯(lián)用儀(GC-MS)同位素質(zhì)譜儀液質(zhì)聯(lián)用儀(LC-MS)質(zhì)譜測試差示掃描量熱儀(DSC)熱重分析儀(TGA)熱分析聯(lián)用儀(DSC-TGA)靜態(tài)/動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀(TMA/DMA)熱重紅外聯(lián)用儀(TG-IR)熱重紅外質(zhì)譜聯(lián)用儀(TG-IR-MS)熱重紅外氣相質(zhì)譜聯(lián)用(TG-IR-GC-MS)紅外熱成像儀激光導(dǎo)熱儀錐形量熱儀(CONE)熱譜測試電子順磁共振波譜儀(EPR、ESR)固體核磁共振儀(NMR)液體核磁共振儀(NMR)微波網(wǎng)絡(luò)矢量分析儀/矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀核磁順磁波譜測試比表面及孔徑分析儀(BET)表面張力儀(界面張力儀)高壓吸附儀化學(xué)吸附儀(TPD TPR)接觸角測量儀納米壓痕儀壓汞儀(MIP)表界面物性測試氣相色譜儀(GC)高效液相色譜儀(HPLC)離子色譜儀(IC)凝膠色譜儀(GPC)液相色譜(LC)色譜測試電導(dǎo)率儀電化學(xué)工作站腐蝕測試儀介電常數(shù)測定儀卡爾費(fèi)休水分測定儀自動(dòng)電位滴定儀電化學(xué)儀器測試Zeta電位儀工業(yè)分析激光粒度儀流變儀密度測定儀納米粒度儀邵氏 維氏 洛氏硬度計(jì)有機(jī)鹵素分析儀(F,Cl,Br,I,At,Ts)有機(jī)元素分析儀(EA)粘度計(jì)振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)(VSM)土壤分析測試植物分析測試其他測試同步輻射GIWAXS GISAXS同步輻射XRD,PDF,SAXS同步輻射吸收譜-高能機(jī)時(shí)同步輻射吸收譜之軟X射線同步輻射吸收譜之硬X射線同步輻射聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)礦物定量分析系統(tǒng)MLA球差校正透射電子顯微鏡高端電鏡類原位XPS測試原位EBSD(in situ -EBSD)原位紅外原位掃描電子顯微鏡(in-situ-SEM)原位透射電子顯微鏡高端原位測試飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀(TOF-SIMS)輝光放電光譜(GD-OES MS)三維原子探針(APT)高端質(zhì)譜類Micro/Nano /工業(yè)CT飛秒瞬態(tài)吸收光譜儀(fs-TAS)掃描隧道顯微鏡深能級(jí)瞬態(tài)譜儀正電子湮滅壽命譜儀其他XPS數(shù)據(jù)分析XRD全巖黏土分析表面成分分析技術(shù)-XPS測試分析常規(guī)XRD數(shù)據(jù)分析成分指紋分析技術(shù)-紅外測試分析二維紅外光譜技術(shù)紅外(IR)數(shù)據(jù)分析拉曼數(shù)據(jù)分析三維熒光數(shù)據(jù)分析圓二色譜(CD)數(shù)據(jù)分析成分含量分析EPR/ESR數(shù)據(jù)分析VSM數(shù)據(jù)分析電化學(xué)數(shù)據(jù)分析矢量網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)分析電磁分析CT數(shù)據(jù)分析X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)普(XAFS)數(shù)據(jù)分析穆斯堡爾譜數(shù)據(jù)分析小角散射(SAXS/WAXS)數(shù)據(jù)分析高端測試分析固體核磁數(shù)據(jù)分析液體核磁(NMR)測試+分析一體化液體核磁(NMR)數(shù)據(jù)分析化學(xué)結(jié)構(gòu)分析EBSD數(shù)據(jù)分析TEM數(shù)據(jù)分析單晶XRD數(shù)據(jù)分析晶體結(jié)構(gòu)確證技術(shù)-XRD精修XRD定性定量分析晶體結(jié)構(gòu)分析BET數(shù)據(jù)分析其它數(shù)據(jù)分析需求熱分析數(shù)據(jù)處理數(shù)據(jù)分析作圖其他數(shù)據(jù)分析半導(dǎo)體激光器模擬發(fā)光二極管仿真光電探測器仿真太陽能電池仿真半導(dǎo)體器件仿真表面能差分密度磁矩單原子催化電荷密度電解水制氫反應(yīng)(HER)費(fèi)米面(fermi surface)電子局域化函數(shù)(electron localization function)第一性原理分子模擬量子化學(xué)相分析有限元模擬常規(guī)理化-水樣常規(guī)理化-土樣/沉積物常規(guī)理化-氣體常規(guī)理化-植物/蔬果/農(nóng)作物常規(guī)理化-食品常規(guī)理化-肥料/飼料常規(guī)理化-巖礦常規(guī)理化-垃圾常規(guī)理化-職業(yè)衛(wèi)生常規(guī)理化-其它常規(guī)理化項(xiàng)目纖維素、半纖維素、木質(zhì)素含量bcr形態(tài)順序提取/tessier五步提取法土壤水體抗生素微塑料微生物磷脂脂肪酸(PLFA)非標(biāo)理化-其它非標(biāo)理化項(xiàng)目穩(wěn)定同位素放射性同位素同位素-其它金屬同位素同位素多糖的單糖組成測定可溶性寡糖定量土壤氨基糖多糖全套分析多糖甲基化植物糖化學(xué)-常規(guī)指標(biāo)糖化學(xué)液質(zhì)聯(lián)用LCMS高效液相色譜HPLC氣相色譜GC氣質(zhì)聯(lián)用GCMS全二維氣質(zhì)GC×GC-MS氣相色譜-離子遷移譜聯(lián)用儀(GC-IMS)液相色譜-原子熒光聯(lián)用(LC-AFS)制備型HPLC色譜質(zhì)譜數(shù)據(jù)分析液相色譜-電感耦合等離子體質(zhì)譜(LC-ICPMS)色譜質(zhì)譜DOM(FT- ICR- MS)水質(zhì)NOM(LC-OCD-OND)DOM(FT-ICR-MS)數(shù)據(jù)分析環(huán)境高端電池產(chǎn)品整體解決方案正極顆粒表面微觀形貌正極顆粒物截面形貌與元素三元正極顆粒循環(huán)前后晶界裂紋正極顆粒摻雜元素分布正極顆粒截面元素分布和晶格表征正極極片原位晶相分析正極極片截面元素分布和晶格表征正極表面CEI膜測試方法XPS正極極片截面微觀形貌觀察和元素分布正極極片CEI膜成分分析與厚度測定正極極片介電常數(shù)正極極片浸潤性正極極片包覆層觀察正極極片雜質(zhì)含量測定正極極片氧空位測定負(fù)極顆粒表面微觀形貌觀察和元素分布負(fù)極顆粒截面微觀形貌觀察和元素分布石墨類型判定負(fù)極顆粒粒徑分析負(fù)極極片孔洞分析負(fù)極顆粒包覆層觀察負(fù)極顆粒羥基含量測定負(fù)極極片包覆層觀察負(fù)極表面SEI膜分析XPS法負(fù)極極片SEI膜成分分析與厚度測定負(fù)極極片截面微觀形貌觀察和元素分布負(fù)極極片石墨碳和無定型碳比例隔膜表面微觀形貌觀察隔膜循環(huán)前后孔徑變化質(zhì)子交換膜形貌(厚度)觀察 CP+SEM質(zhì)子交換膜雜質(zhì)元素電池循環(huán)后鼓包氣電池循環(huán)后爆炸氣鋰電池極片和集流體間的粘結(jié)強(qiáng)度三元正極材料NCM比例燃料電池-整體解決方案電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-優(yōu)勢項(xiàng)目正極材料-PH值正極材料-比表面積正極材料-磁性異物正極材料-化學(xué)成分正極材料-晶體結(jié)構(gòu)正極材料-粒徑分布正極材料-首次放電比容量及首次庫倫效率正極材料-水分含量正極材料-松裝密度正極材料-未知物分析正極材料-形貌,厚度與結(jié)構(gòu)正極材料-壓實(shí)密度正極材料-振實(shí)密度電池產(chǎn)品-正極材料負(fù)極材料-PH值負(fù)極材料-比表面積負(fù)極材料-層間距 石墨化度負(fù)極材料成分分析負(fù)極材料-磁性異物負(fù)極材料-粉末壓實(shí)密度負(fù)極材料-固定碳含量負(fù)極材料-化學(xué)成分負(fù)極材料-粒徑分布負(fù)極材料-石墨鑒定負(fù)極材料-水分負(fù)極材料-限用物質(zhì)含量負(fù)極材料-形貌與結(jié)構(gòu)負(fù)極材料-陰離子的測定負(fù)極材料-有機(jī)物含量負(fù)極材料-真密度負(fù)極材料-振實(shí)密度負(fù)極顆粒-石墨取向性(OI值)首次放電比容量及首次庫倫效率電池產(chǎn)品-負(fù)極材料電解液-電導(dǎo)率電解液-化學(xué)元素含量電解液-密度電解液-水分含量電解液-未知物分析電解液-游離酸(HF含量)電池產(chǎn)品-電解液電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-隔膜
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預(yù)約詳情

原子力顯微鏡(AFM測試)-儀器預(yù)約

 
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原子力顯微鏡AFM

u設(shè)備型號(hào)

布魯克Bruker原子力顯微鏡 AFM MultiMode8;日本精工SPA400



u樣品準(zhǔn)備須知?。?!

1. 樣品狀態(tài):可為粉末、液體、塊體、薄膜樣品;

2. 粉末樣品:常規(guī)測試項(xiàng)目樣品起伏一般不超過5微米,特殊測試項(xiàng)目樣品起伏一般不超過1um,提供20mg,液體不少于1ml,尺寸過大請(qǐng)?zhí)崆白稍兛蛻艚?jīng)理;

3.粉末/液體樣品請(qǐng)務(wù)必備注好制樣條件,包括分散液,超聲時(shí)間及配制濃度;

4.薄膜或塊狀樣品尺寸要求:長寬0.5-3cm之間,厚度0.1-1cm之間,表面粗糙度不超過5um,一定要標(biāo)明測試面!塊狀樣品需要固定好,避免在寄送過程產(chǎn)生晃動(dòng)或摩擦影響測試結(jié)果!

5.測試PFM、KPFM、C-AFM、PeakForce TUNA的材料需要將樣品制備在導(dǎo)電基底上,基底大小符合塊狀樣品的尺寸要求,KPFM、C-AFM、PeakForce TUNA的樣品需要導(dǎo)電或至少為半導(dǎo)體

6.PFM,KPFM測試需要樣品表面十分平整,樣品粗糙度最好在10-200nm之間,粉末樣品測試很難測到較好結(jié)果,下單前請(qǐng)確保風(fēng)險(xiǎn)可接受;

如有其他問題請(qǐng)咨詢工程師15071040697



u樣品測試填寫要求注意事項(xiàng)

1.樣品數(shù)量填寫需要測試樣品的數(shù)量

2.樣品編號(hào)(名稱)請(qǐng)輸入該組樣品編號(hào),以逗號(hào)分隔,例如1,2,3

3.樣品具體成分請(qǐng)?zhí)顚懢唧w成分或樣品分子式

4.樣品穩(wěn)定性樣品穩(wěn)定/樣品易氧化/樣品易分解/潮解/樣品易碎/其他

不穩(wěn)定樣品請(qǐng)注意密封,并提前與工程師溝通。

5. 樣品種類 材料類/生物類

不同種類樣品測試難度不同,請(qǐng)根據(jù)樣品實(shí)際情況準(zhǔn)確選擇!生物類樣品多收費(fèi)一般是針對(duì) DNA、蛋白、多糖、磷酸酯、血漿,細(xì)菌類等測試難度較大的樣品。

6.樣品狀態(tài):粉末/溶液;塊狀/薄膜

如果為透明的液體樣品,請(qǐng)務(wù)必提供液體濃度,否則會(huì)影響樣品制樣和拍攝效果??!

7.樣品是否有加何種緩沖溶液:無/鹽溶液/Pbs溶液/dmso溶液/其它

8. 需要哪種分散劑:水/乙醇/其他請(qǐng)自備

實(shí)驗(yàn)室常規(guī)只有水和乙醇;如需其他溶劑請(qǐng)自備,并說明其烘干溫度

9.分散超聲時(shí)間(min):

不超過20min,如需長時(shí)間超聲,需要自己超聲好以后給我們,但是長時(shí)間超聲后,對(duì)樣品的影響會(huì)比較大,需自行承擔(dān)測試風(fēng)險(xiǎn)

10.制樣條件補(bǔ)充說明:補(bǔ)充說明下溶液配制濃度要求,液體樣品干燥條件以及對(duì)分散基底的要求,如果沒有要求請(qǐng)?zhí)^。

11.請(qǐng)說明測試面:塊體或者薄膜樣品請(qǐng)務(wù)必做好標(biāo)記,建議在反面用記號(hào)筆(非透明樣品)或者雙面膠或者標(biāo)簽紙(玻璃透明樣品)粘好方便判斷。

12.測試目的/要求:請(qǐng)描述清楚需要關(guān)注的區(qū)域以及預(yù)期結(jié)果。

13.掃描區(qū)域大小是否有要求:是/否

掃描范圍如無指定,測試時(shí)將根據(jù)實(shí)際情況決定,測完之后不接受異議

掃描范圍有要求:請(qǐng)選擇掃描區(qū)哉大小,常規(guī)(1um*1um-20um*20um),掃描區(qū)域請(qǐng)根據(jù)目標(biāo)物質(zhì)實(shí)際大小謹(jǐn)慎選擇,過大或過小均得不到理想效果;常規(guī)掃描區(qū)域可選范圍:1*1um--20*20um,超出請(qǐng)聯(lián)系工程師15071040697

14.測試項(xiàng)目:表面形貌,粗糙度,相圖,力曲線(Force curve),

其他(如液下/變溫/氣氛保護(hù)/加光等) 請(qǐng)聯(lián)系工程師15071040697

15.請(qǐng)選擇圖片分辨率:256*256(默認(rèn)),512*512

常規(guī)默認(rèn)分辨率為256*256,分辨率和測試時(shí)長為成倍關(guān)系。

其他更高請(qǐng)聯(lián)系工程師15071040697

16.具體測試要求:請(qǐng)?zhí)顚懢唧w測試要求,方便我們?cè)u(píng)估是否能夠滿足您的需求

17.參考圖片:

為了幫助您獲得滿意的結(jié)果,請(qǐng)務(wù)必提供參考圖片(可復(fù)制或上傳)!

自己樣品結(jié)果(TEM,SEM,AFM等能證明樣品測試目的的圖片皆可):

參考文獻(xiàn)結(jié)果:

切勿上傳其他無關(guān)樣品的任何圖片!



u測試提示:

1.可開正規(guī)測試發(fā)票,附帶測試清單。

2.有腐蝕性,毒性,或其他有危害性等特殊樣品要事先告知測試人員,測試人員也要告知樣品方哪些樣品不能測或會(huì)對(duì)儀器產(chǎn)生損傷,測試后會(huì)對(duì)樣品產(chǎn)生哪些變化;

3.客戶需提供詳細(xì)的樣品資料,包括元素,主要成分和詳細(xì)測試參數(shù)及條件。和測試人員充分討論,商定最終測試條件;

4.測試人員與顧客通過QQ,微信或郵件溝通,出現(xiàn)測試糾紛,郵件或聊天記錄將作為重要的仲裁依據(jù);請(qǐng)加QQ和技術(shù)人員交流。QQ:82187958。微信:15071040697

5.杜絕測試、解析和合成違反國家相關(guān)法律法規(guī)的樣品,一經(jīng)發(fā)現(xiàn)將追究其法律責(zé)任。



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