掃描電鏡基礎(chǔ)知識(shí) 二維碼
發(fā)表時(shí)間:2020-09-30 11:14作者:鑠思百檢測(cè)來源:鑠思百檢測(cè) 掃描電鏡是自上世紀(jì)60年代作為商用電鏡面世以來迅速發(fā)展起來的一種新型的電子光學(xué)儀器,被廣泛地應(yīng)用于化學(xué)、生物、醫(yī)學(xué)、冶金、材料、半導(dǎo)體制造、微電路檢查等各個(gè)研究領(lǐng)域和工業(yè)部門。 1、光學(xué)顯微鏡以可見光為介質(zhì),掃描電鏡以電子束為介質(zhì),由于電子束波長(zhǎng)遠(yuǎn)較可見光小,故掃描電鏡分辨率遠(yuǎn)比光學(xué)顯微鏡高。光學(xué)顯微鏡放大倍率Zgao只有約1500倍,掃描電鏡可放大到10000倍以上。 2、根據(jù)de Broglie波動(dòng)理論,電子的波長(zhǎng)僅與加速電壓有關(guān):λe=h/mv=12.2/√(V)(?)。在10KV的加速電壓之下,電子的波長(zhǎng)僅為0.12?,遠(yuǎn)低于可見光的4000-7000?,所以掃描電鏡分辨率自然比光學(xué)顯微鏡優(yōu)越許多,但是掃描電鏡的電子束直徑大多在50-100?之間,電子與原子核的彈性散射與非彈性散射的反應(yīng)體積又會(huì)比原有的電子束直徑增大,因此一般穿透式電子顯微鏡的分辨率比掃描電鏡高。 3、掃描電鏡有一重要特色是具有超大的景深,約為光學(xué)顯微鏡的300倍,使得掃描電鏡比光學(xué)顯微鏡更適合觀察表面起伏程度較大的樣品。 4、掃描電鏡,其系統(tǒng)設(shè)計(jì)由上而下,由電子槍發(fā)射電子束,經(jīng)過一組磁透鏡聚焦聚焦后,用遮蔽孔徑選擇電子束的尺寸后,通過一組控制電子束的掃描線圈,再透過物鏡聚焦,打在樣品上,在樣品的上側(cè)裝有訊號(hào)接收器,用以擇取二次電子或背向散射電子成像。 5、電子槍的必要特性是亮度要高、電子能量散布要小,目前常用的種類計(jì)有三種,鎢(W)燈絲、六硼化鑭(LaB6)燈絲、場(chǎng)發(fā)射,不同的燈絲在電子源大小、電流量、電流穩(wěn)定度及電子源壽命等均有差異。
6、熱游離方式電子槍有鎢(W)燈絲及六硼化鑭(LaB6)燈絲兩種,它是利用高溫使電子具有足夠的能量去克服電子槍材料的功函數(shù)能障而逃離。對(duì)發(fā)射電流密度有重大影響的變量是溫度和功函數(shù),但因操作電子槍時(shí)均希望能以Zdi的溫度來操作,以減少材料的揮發(fā),所以在操作溫度不提高的狀況下,就需采用低功函數(shù)的材料來提高發(fā)射電流密度。 7、價(jià)錢Z便宜使用Z普遍的是鎢燈絲,以熱游離式來發(fā)射電子,電子能量散布為2eV,鎢的功函數(shù)約為4.5eV,鎢燈絲系一直徑約100μm,彎曲成V形的細(xì)線,操作溫度約2700K,電流密度為1.7/cm2,在使用中燈絲的直徑隨著鎢絲的蒸發(fā)變小,使用壽命約為40~80小時(shí)。 8、六硼化鑭(LaB6)燈絲的功函數(shù)為2.4eV,較鎢絲為低,因此同樣的電流密度,使用LaB6只要在1500K即可達(dá)到,而且亮度更高,因此使用壽命便比鎢絲高出許多,電子能量散布為1eV,比鎢絲要好。但因LaB6在加熱時(shí)活性很強(qiáng),所以必須在較好的真空環(huán)境下操作,因此掃描電鏡的購置費(fèi)用較高。 9、場(chǎng)發(fā)射式電子槍則比鎢燈絲和六硼化鑭燈絲的亮度又分別高出10-100倍,同時(shí)電子能量散布僅為0.2-0.3eV,所以目前市售的高分辨率掃描電鏡都采用場(chǎng)發(fā)射式電子槍,其分辨率可高達(dá)1nm以下。 10、場(chǎng)發(fā)射電子槍可細(xì)分成三種:冷場(chǎng)發(fā)射式(FE),熱場(chǎng)發(fā)射式(TF),及蕭基發(fā)射式(SE)。 11、當(dāng)在真空中的金屬表面受到10^8V/cm大小的電子加速電場(chǎng)時(shí),會(huì)有可觀數(shù)量的電子發(fā)射出來,此過程叫做場(chǎng)發(fā)射,其原理是高電場(chǎng)使電子的電位障礙產(chǎn)生Schottky效應(yīng),亦即使能障寬度變窄,高度變低,因此電子可直接"穿隧"通過此狹窄能障并離開陰極。場(chǎng)發(fā)射電子系從很尖銳的陰極所發(fā)射出來,因此可得極細(xì)而又具高電流密度的電子束,其亮度可達(dá)熱游離電子槍的數(shù)百倍,或甚至千倍。 12、場(chǎng)發(fā)射電子槍所選用的陰極材料必需是高強(qiáng)度材料,以能承受高電場(chǎng)所加諸在陰極的高機(jī)械應(yīng)力,鎢即因高強(qiáng)度而成為較佳的陰極材料。場(chǎng)發(fā)射槍通常以上下一組陽極來產(chǎn)生吸取電子、聚焦、及加速電子等功能。利用陽極的特殊外形所產(chǎn)生的靜電場(chǎng),能對(duì)電子產(chǎn)生聚焦效果,所以不再需要韋氏罩或柵極。diyi(上)陽極主要是改變場(chǎng)發(fā)射的拔出電壓,以控制針尖場(chǎng)發(fā)射的電流強(qiáng)度,而第二(下)陽極主要是決定加速電壓,以將電子加速至所需要的能量。 13、要從極細(xì)的鎢針尖場(chǎng)發(fā)射電子,金屬表面必需完全干凈,無任何外來材料的原子或分子在其表面,即使只有一個(gè)外來原子落在表面亦會(huì)降低電子的場(chǎng)發(fā)射,所以場(chǎng)發(fā)射電子槍必需保持超高真空度,來防止鎢陰極表面累積原子。由于超高真空設(shè)備價(jià)格極為高昂,所以一般除非需要高分辨率掃描電鏡,否則較少采用場(chǎng)發(fā)射電子槍。 14、冷場(chǎng)發(fā)射式Zda的優(yōu)點(diǎn)為電子束直徑Z小,亮度Zgao,因此影像分辨率Zyou。能量散布Z小,故能改善在低電壓操作的效果。為避免針尖被外來氣體吸附,而降低場(chǎng)發(fā)射電流,并使發(fā)射電流不穩(wěn)定,冷場(chǎng)發(fā)射式電子槍必需在10^-10torr的真空度下操作,雖然如此,還是需要定時(shí)短暫加熱針尖至2500K(此過程叫做flashing),以去除所吸附的氣體原子。它的另一缺點(diǎn)是發(fā)射的總電流Z小。 15、熱場(chǎng)發(fā)式電子槍是在1800K溫度下操作,避免了大部份的氣體分子吸附在針尖表面,所以免除了針尖flashing的需要。熱式能維持較佳的發(fā)射電流穩(wěn)定度,并能在較差的真空度下(10^-9torr)操作。雖然亮度與冷式相類似,但其電子能量散布卻比冷式大3~5倍,影像分辨率較差,通常較不常使用。
16、蕭基發(fā)射式的操作溫度為1800K,它系在鎢(100)單晶上鍍ZrO覆蓋層,ZrO將功函數(shù)從純鎢的4.5eV降至2.8eV,而外加高電場(chǎng)更使電位障壁變窄變低,使得電子很容易以熱能的方式跳過能障(并非穿隧效應(yīng)),逃出針尖表面,所需真空度約10^-8~10^-9torr。其發(fā)射電流穩(wěn)定度佳,而且發(fā)射的總電流也大。而其電子能量散布很小,僅稍遜于冷場(chǎng)發(fā)射式電子槍。其電子源直徑比冷式大,所以影像分辨率也比冷場(chǎng)發(fā)射式稍差一點(diǎn)。 17、場(chǎng)發(fā)射放大倍率由25倍到650000倍,在使用加速電壓15kV時(shí),分辨率可達(dá)到1nm,加速電壓1kV時(shí),分辨率可達(dá)到2.2nm。一般鎢絲型的掃描電鏡儀器上的放大倍率可到200000倍,實(shí)際操作時(shí),大部份均在20000倍時(shí)影像便不清楚了,但如果樣品的表面形貌及導(dǎo)電度合適,Zda倍率650000倍是可以達(dá)成的。 18、由于對(duì)真空的要求較高,有些掃描電鏡在電子槍及磁透鏡部份配備了3組離子泵,在樣品室中,配置了2組擴(kuò)散泵,在機(jī)體外,以1組機(jī)械泵負(fù)責(zé)粗抽,所以有6組大小不同的真空泵來達(dá)成超高真空的要求,另外在樣品另有以液態(tài)氮冷卻的冷阱,協(xié)助保持樣品室的真空度。 19、平時(shí)操作,若要將樣品室真空亦保持在10^-8pa(10-10torr),則抽真空的時(shí)間將變長(zhǎng)而降低掃描電鏡的便利性,更增加掃描電鏡購置成本,因此一些掃描電鏡設(shè)計(jì)了階段式真空,亦即使電子槍、磁透鏡及樣品室的真空度依序降低,并分成三個(gè)部份來讀取真空計(jì)讀數(shù),如此可將樣品保持在真空度10^-5pa的環(huán)境下即可操作。平時(shí)待機(jī)或更換樣品時(shí),為防止電子槍污染,皆使用真空閥將電子槍及磁透鏡部份與樣品室隔離,實(shí)際觀察時(shí)再打開使電子束通過而打擊到樣品。 20、場(chǎng)發(fā)射式電子槍的電子產(chǎn)生率與真空度有密切的關(guān)系,其使用壽命也隨真空度變差而急劇縮短,因此在樣品制備上必須非常注意水氣,或固定用的碳膠或銀膠是否烤干,以免在觀察的過程中,真空陡然變差而影響燈絲壽命,甚至系統(tǒng)當(dāng)機(jī)。 21、在掃描電鏡中須考慮到的像差包括:衍射像差、球面像差、散光像差及波長(zhǎng)散布像差(即色散像差)。 22、面像差為物鏡中主要缺陷,不易校正,因偏離透鏡光軸之電子束偏折較大,其成像點(diǎn)較沿軸電子束成像之高斯成像平面距透鏡為近。 23、散光像差由透鏡磁場(chǎng)不對(duì)稱而來,使電子束在二互相垂直平面之聚焦落在不同點(diǎn)上。散光像差一般用散光像差補(bǔ)償器產(chǎn)生與散光像差大小相同、方向相反的像差校正,目前掃描電鏡其聚光鏡及物鏡各有一組散光像差補(bǔ)償器。 24、光圈衍射像差:由于電子束通過小光圈電子束產(chǎn)生衍射現(xiàn)象,使用大光圈可以改善。 25、色散像差:因通過透鏡電子束能量差異,使得電子束聚焦后并不在同一點(diǎn)上。 26、電子束和樣品作用體積,作用體積約有數(shù)個(gè)微米(μm)深,其深度大過寬度而形狀類似梨子。此形狀乃源于彈性和非彈性碰撞的結(jié)果。低原子量的材料,非彈性碰撞較可能,電子較易穿進(jìn)材料內(nèi)部,較少向邊側(cè)碰撞,而形成梨子的頸部,當(dāng)穿透的電子喪失能量變成較低能量時(shí),彈性碰撞較可能,結(jié)果電子行進(jìn)方向偏向側(cè)邊而形成較大的梨形區(qū)域。 27、在固定電子能量時(shí),作用體積和原子序成反比,乃因彈性碰撞之截面積和原子序成正比,以致電子較易偏離原來途徑而不能深入樣品。 28、電子束能量越大,彈性碰撞截面積越小,電子行走路徑傾向直線而可深入樣品,作用體積變大。 29、電子束和樣品的作用有兩類,一為彈性碰撞,幾乎沒有損失能量,另一為非彈性碰撞,入射電子束會(huì)將部份能量傳給樣品,而產(chǎn)生二次電子、背向散射電子、俄歇電子、X光、長(zhǎng)波電磁放射、電子-空位對(duì)等。這些信號(hào)可供掃描電鏡運(yùn)用者有二次電子、背向散射電子、X光、陰極發(fā)光、吸收電子及電子束引起電流(EBIC)等。 30、二次電子:電子束和樣品作用,可將傳導(dǎo)能帶的電子擊出,此即為二次電子,其能量約
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