納米粉末材料成分檢測

納米材料的成分分析包括對組成納米材料的體相元素及其雜質(zhì)成分進(jìn)行的分析，以及對納米材料表面元素的定性分析和半定量分析。

納米材料的體相元素及其雜質(zhì)成分的分析方法主要有原子吸收光譜法（AAS）、電感耦合等離子體發(fā)射光譜法（ICP）、電感耦合等離子體質(zhì)譜法（ICP-MS）、X射線熒光光譜法（XRF）等。

納米材料表面元素的定性分析和半定量分析方法主要有X射線光電子能譜（XPS）、俄歇電子能譜（AES）、二次離子質(zhì)譜（SIMS）、掃描電鏡-能譜（EDS）等。

檢測標(biāo)準(zhǔn)：

1. JY/T 011-1996 透射電子顯微鏡方法通則

2. JY/T 015-1996 感耦等離子體原子發(fā)射光譜方法通則

3. GB/T 17359-2012 微束分析 能譜法定量分析

更多測試請聯(lián)系鑠思百檢測！