掃描電鏡EDS能譜數(shù)據(jù)圖怎么看? 二維碼
發(fā)表時(shí)間:2020-12-24 10:27作者:鑠思百檢測(cè)來(lái)源:鑠思百檢測(cè) 掃描電鏡EDS能譜數(shù)據(jù)圖怎么看?
1.簡(jiǎn)介: EDS,是英文Energy Dispersive Spectrometer的簡(jiǎn)稱,中文為X射線能譜分析。現(xiàn)在已經(jīng)是掃描電鏡SEM的標(biāo)配之一,主要用來(lái)分析試樣的元素成分和含量,也就是常規(guī)說(shuō)的定性和半定量分析。實(shí)際使用中因電鏡設(shè)備不同及相關(guān)處理軟件的差異,可以確定樣品中的大部分元素,只在分析的元素含量上會(huì)有差異。 2. 數(shù)據(jù)分析: 一張EDS能譜圖,橫坐標(biāo)表示的是是所激發(fā)元素的加速電壓,縱坐標(biāo)是能譜儀所收集的反射粒子數(shù)。如果試樣所呈現(xiàn)的譜簡(jiǎn)單,如只有很少的峰并且峰與峰之間沒(méi)有疊加,設(shè)備就能很好的自動(dòng)識(shí)別各峰。反之,譜越復(fù)雜越容易識(shí)別錯(cuò)誤。比如,Al的Kα峰與Br的Lα峰疊加,容易識(shí)別不出來(lái)。當(dāng)設(shè)備自動(dòng)識(shí)別不能滿足要求時(shí)就需要手動(dòng)調(diào)整能峰,去掉不需要的峰。分析人員要熟悉分析試樣,熟悉常見(jiàn)元素的重疊峰,(如S的Kα與Mo的Lα重疊)、雜峰。更要知道在制作樣品及測(cè)試過(guò)程中會(huì)造成哪些儀器假峰進(jìn)行綜合分析判別。 以上是掃描電鏡SEM EDS能譜儀的數(shù)據(jù)的基本介紹。 |