場發(fā)射掃描電鏡（SEM）檢測

場發(fā)射掃描電鏡（SEM）檢測

主要用于材料、生物體、高分子、無機(jī)非金屬、金屬材料等表面形貌觀察與分析，以及微區(qū)元素分析。廣泛應(yīng)用于生物、能源、材料、化工、環(huán)境等研究。

主要功能：

1. 二次電子形貌（SEI）：對試樣進(jìn)行表面形貌觀察分析；

2. 背反射成分像/形貌像（BEI）：對試樣進(jìn)行更深一層的形貌觀察，并得到原子序數(shù)襯度；

3. 元素的定性定量分析（EDX）：結(jié)合X射線能譜儀對試樣表面某區(qū)域或某點進(jìn)行成分定性和定量分析；

4. 圖像分析處理系統(tǒng)（IPS）：根據(jù)所得圖像，對試樣進(jìn)行粒度、孔徑大小、氣孔分布等進(jìn)行分析。

掃描電鏡SEM檢測