鍍層成分分析檢測(cè) 二維碼
發(fā)表時(shí)間:2020-12-24 11:46作者:鑠思百檢測(cè)來源:鑠思百檢測(cè)
鍍層成分分析方法主要有傳統(tǒng)化學(xué)分析、光譜分析、能譜分析等方法。傳統(tǒng)化學(xué)分析法是先把鍍層通過機(jī)械手段或酸溶解方式剝離鍍層,然后采用AAS或ICP光譜儀進(jìn)行定量分析,這種方法的檢測(cè)準(zhǔn)確度高。光譜分析法主要有X射線熒光光譜分析法(XRF),能譜分析法主要有X射線光電子能譜分析法(XPS)、俄歇電子能譜分析法(AES)、掃描電鏡電子探針能譜分析法(SEM/EDS)等。 鍍層成分檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn): 1. GB/T 12600-2005 金屬覆蓋層 塑料上鎳+鉻電鍍層 附錄D 鎳鍍層硫含量的測(cè)定 2. SN/T 2951-2011 鍍鋅及鍍鋁鋅鋼板鍍層化學(xué)成分分析方法 3. GB/T 17362-2008 黃金制品的掃描電鏡X射線能譜分析方法 4. GB/T 19500-2004 X-射線光電子能譜分析方法通則 5. GB/T 25189-2010 微束分析 掃描電鏡能譜儀定量分析參數(shù)的測(cè)定方法 |