鑠思百檢測(cè)

DETECTION OF TECHNICAL SOUSEPAD

透射電子顯微鏡(TEM-EDS)掃描電子顯微鏡(FESEM-EDS)球差電鏡激光共聚焦顯微鏡(LSCM)原子力顯微鏡(AFM)電子探針儀(EPMA)金相顯微鏡電子背散射衍射儀(EBSD)臺(tái)階儀,膜厚儀,探針接觸式輪廓儀,3D輪廓儀工業(yè)CT白光干涉儀(非接觸式3D表面輪廓儀)電鏡測(cè)試FIB制樣離子減薄制樣冷凍超薄切片制樣樹脂包埋制樣(生物制樣)液氮脆斷制樣金網(wǎng)鉬網(wǎng)銅網(wǎng)超薄碳膜微柵制樣電鏡制樣X射線光電子能譜分析儀(XPS)紫外光電子能譜(UPS)俄歇電子能譜(AES)X射線衍射儀(XRD)X射線散射儀SAXS/WAXSX射線殘余應(yīng)力分析儀X射線熒光光譜分析儀(XRF)電感耦合等離子體光譜儀(ICP-OES)紫外可見反射儀(DRS)拉曼光譜(RAMAN)紫外-可見分光光度計(jì)(UV)圓二色譜(CD)傅里葉變換紅外光譜分析儀(FTIR)吡啶紅外(DRIFTS)單晶衍射儀穆斯堡爾光譜儀穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜分析儀(PL)原子吸收分光光度計(jì)原子熒光光度計(jì)(AFS)三維熒光 /熒光分光光度計(jì)紅外熱成像儀霧度儀旋光儀橢偏儀光譜測(cè)試電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS)電噴霧離子化質(zhì)譜儀(ESI-MS)頂空-固相微萃取氣質(zhì)聯(lián)用儀(HS -SPME -GC -MS)二次離子質(zhì)譜(SIMS)基質(zhì)輔助激光解吸電離飛行時(shí)間質(zhì)譜儀(MALDI-TOF)裂解氣質(zhì)聯(lián)用儀(PY-GC-MS)氣質(zhì)聯(lián)用儀(GC-MS)同位素質(zhì)譜儀液質(zhì)聯(lián)用儀(LC-MS)質(zhì)譜測(cè)試差示掃描量熱儀(DSC)熱重分析儀(TGA)熱分析聯(lián)用儀(DSC-TGA)靜態(tài)/動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀(TMA/DMA)熱重紅外聯(lián)用儀(TG-IR)熱重紅外質(zhì)譜聯(lián)用儀(TG-IR-MS)熱重紅外氣相質(zhì)譜聯(lián)用(TG-IR-GC-MS)紅外熱成像儀激光導(dǎo)熱儀錐形量熱儀(CONE)熱譜測(cè)試電子順磁共振波譜儀(EPR、ESR)固體核磁共振儀(NMR)液體核磁共振儀(NMR)微波網(wǎng)絡(luò)矢量分析儀/矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀核磁順磁波譜測(cè)試比表面及孔徑分析儀(BET)表面張力儀(界面張力儀)高壓吸附儀化學(xué)吸附儀(TPD TPR)接觸角測(cè)量?jī)x納米壓痕儀壓汞儀(MIP)表界面物性測(cè)試氣相色譜儀(GC)高效液相色譜儀(HPLC)離子色譜儀(IC)凝膠色譜儀(GPC)液相色譜(LC)色譜測(cè)試電導(dǎo)率儀電化學(xué)工作站腐蝕測(cè)試儀介電常數(shù)測(cè)定儀卡爾費(fèi)休水分測(cè)定儀自動(dòng)電位滴定儀電化學(xué)儀器測(cè)試Zeta電位儀工業(yè)分析激光粒度儀流變儀密度測(cè)定儀納米粒度儀邵氏 維氏 洛氏硬度計(jì)有機(jī)鹵素分析儀(F,Cl,Br,I,At,Ts)有機(jī)元素分析儀(EA)粘度計(jì)振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)(VSM)土壤分析測(cè)試植物分析測(cè)試其他測(cè)試同步輻射GIWAXS GISAXS同步輻射XRD,PDF,SAXS同步輻射吸收譜-高能機(jī)時(shí)同步輻射吸收譜之軟X射線同步輻射吸收譜之硬X射線同步輻射聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)礦物定量分析系統(tǒng)MLA球差校正透射電子顯微鏡高端電鏡類原位XPS測(cè)試原位EBSD(in situ -EBSD)原位紅外原位掃描電子顯微鏡(in-situ-SEM)原位透射電子顯微鏡高端原位測(cè)試飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀(TOF-SIMS)輝光放電光譜(GD-OES MS)三維原子探針(APT)高端質(zhì)譜類Micro/Nano /工業(yè)CT飛秒瞬態(tài)吸收光譜儀(fs-TAS)掃描隧道顯微鏡深能級(jí)瞬態(tài)譜儀正電子湮滅壽命譜儀其他XPS數(shù)據(jù)分析XRD全巖黏土分析表面成分分析技術(shù)-XPS測(cè)試分析常規(guī)XRD數(shù)據(jù)分析成分指紋分析技術(shù)-紅外測(cè)試分析二維紅外光譜技術(shù)紅外(IR)數(shù)據(jù)分析拉曼數(shù)據(jù)分析三維熒光數(shù)據(jù)分析圓二色譜(CD)數(shù)據(jù)分析成分含量分析EPR/ESR數(shù)據(jù)分析VSM數(shù)據(jù)分析電化學(xué)數(shù)據(jù)分析矢量網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)分析電磁分析CT數(shù)據(jù)分析X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)普(XAFS)數(shù)據(jù)分析穆斯堡爾譜數(shù)據(jù)分析小角散射(SAXS/WAXS)數(shù)據(jù)分析高端測(cè)試分析固體核磁數(shù)據(jù)分析液體核磁(NMR)測(cè)試+分析一體化液體核磁(NMR)數(shù)據(jù)分析化學(xué)結(jié)構(gòu)分析EBSD數(shù)據(jù)分析TEM數(shù)據(jù)分析單晶XRD數(shù)據(jù)分析晶體結(jié)構(gòu)確證技術(shù)-XRD精修XRD定性定量分析晶體結(jié)構(gòu)分析BET數(shù)據(jù)分析其它數(shù)據(jù)分析需求熱分析數(shù)據(jù)處理數(shù)據(jù)分析作圖其他數(shù)據(jù)分析半導(dǎo)體激光器模擬發(fā)光二極管仿真光電探測(cè)器仿真太陽能電池仿真半導(dǎo)體器件仿真表面能差分密度磁矩單原子催化電荷密度電解水制氫反應(yīng)(HER)費(fèi)米面(fermi surface)電子局域化函數(shù)(electron localization function)第一性原理分子模擬量子化學(xué)相分析有限元模擬常規(guī)理化-水樣常規(guī)理化-土樣/沉積物常規(guī)理化-氣體常規(guī)理化-植物/蔬果/農(nóng)作物常規(guī)理化-食品常規(guī)理化-肥料/飼料常規(guī)理化-巖礦常規(guī)理化-垃圾常規(guī)理化-職業(yè)衛(wèi)生常規(guī)理化-其它常規(guī)理化項(xiàng)目纖維素、半纖維素、木質(zhì)素含量bcr形態(tài)順序提取/tessier五步提取法土壤水體抗生素微塑料微生物磷脂脂肪酸(PLFA)非標(biāo)理化-其它非標(biāo)理化項(xiàng)目穩(wěn)定同位素放射性同位素同位素-其它金屬同位素同位素多糖的單糖組成測(cè)定可溶性寡糖定量土壤氨基糖多糖全套分析多糖甲基化植物糖化學(xué)-常規(guī)指標(biāo)糖化學(xué)液質(zhì)聯(lián)用LCMS高效液相色譜HPLC氣相色譜GC氣質(zhì)聯(lián)用GCMS全二維氣質(zhì)GC×GC-MS氣相色譜-離子遷移譜聯(lián)用儀(GC-IMS)液相色譜-原子熒光聯(lián)用(LC-AFS)制備型HPLC色譜質(zhì)譜數(shù)據(jù)分析液相色譜-電感耦合等離子體質(zhì)譜(LC-ICPMS)色譜質(zhì)譜DOM(FT- ICR- MS)水質(zhì)NOM(LC-OCD-OND)DOM(FT-ICR-MS)數(shù)據(jù)分析環(huán)境高端電池產(chǎn)品整體解決方案正極顆粒表面微觀形貌正極顆粒物截面形貌與元素三元正極顆粒循環(huán)前后晶界裂紋正極顆粒摻雜元素分布正極顆粒截面元素分布和晶格表征正極極片原位晶相分析正極極片截面元素分布和晶格表征正極表面CEI膜測(cè)試方法XPS正極極片截面微觀形貌觀察和元素分布正極極片CEI膜成分分析與厚度測(cè)定正極極片介電常數(shù)正極極片浸潤(rùn)性正極極片包覆層觀察正極極片雜質(zhì)含量測(cè)定正極極片氧空位測(cè)定負(fù)極顆粒表面微觀形貌觀察和元素分布負(fù)極顆粒截面微觀形貌觀察和元素分布石墨類型判定負(fù)極顆粒粒徑分析負(fù)極極片孔洞分析負(fù)極顆粒包覆層觀察負(fù)極顆粒羥基含量測(cè)定負(fù)極極片包覆層觀察負(fù)極表面SEI膜分析XPS法負(fù)極極片SEI膜成分分析與厚度測(cè)定負(fù)極極片截面微觀形貌觀察和元素分布負(fù)極極片石墨碳和無定型碳比例隔膜表面微觀形貌觀察隔膜循環(huán)前后孔徑變化質(zhì)子交換膜形貌(厚度)觀察 CP+SEM質(zhì)子交換膜雜質(zhì)元素電池循環(huán)后鼓包氣電池循環(huán)后爆炸氣鋰電池極片和集流體間的粘結(jié)強(qiáng)度三元正極材料NCM比例燃料電池-整體解決方案電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-優(yōu)勢(shì)項(xiàng)目正極材料-PH值正極材料-比表面積正極材料-磁性異物正極材料-化學(xué)成分正極材料-晶體結(jié)構(gòu)正極材料-粒徑分布正極材料-首次放電比容量及首次庫(kù)倫效率正極材料-水分含量正極材料-松裝密度正極材料-未知物分析正極材料-形貌,厚度與結(jié)構(gòu)正極材料-壓實(shí)密度正極材料-振實(shí)密度電池產(chǎn)品-正極材料負(fù)極材料-PH值負(fù)極材料-比表面積負(fù)極材料-層間距 石墨化度負(fù)極材料成分分析負(fù)極材料-磁性異物負(fù)極材料-粉末壓實(shí)密度負(fù)極材料-固定碳含量負(fù)極材料-化學(xué)成分負(fù)極材料-粒徑分布負(fù)極材料-石墨鑒定負(fù)極材料-水分負(fù)極材料-限用物質(zhì)含量負(fù)極材料-形貌與結(jié)構(gòu)負(fù)極材料-陰離子的測(cè)定負(fù)極材料-有機(jī)物含量負(fù)極材料-真密度負(fù)極材料-振實(shí)密度負(fù)極顆粒-石墨取向性(OI值)首次放電比容量及首次庫(kù)倫效率電池產(chǎn)品-負(fù)極材料電解液-電導(dǎo)率電解液-化學(xué)元素含量電解液-密度電解液-水分含量電解液-未知物分析電解液-游離酸(HF含量)電池產(chǎn)品-電解液電池產(chǎn)品-隔膜電池產(chǎn)品-隔膜
設(shè)為首頁 | 收藏本站

怎么測(cè)試樣品的導(dǎo)熱系數(shù)?

 二維碼
發(fā)表時(shí)間:2020-12-25 09:16作者:鑠思百檢測(cè)來源:鑠思百檢測(cè)

眾所周知,隨著溫度升高,電子器件可靠性和壽命將呈指數(shù)規(guī)律下降。對(duì)于LED產(chǎn)品和器件來說,選用導(dǎo)熱系數(shù)和熱阻盡可能小的原材料是改善產(chǎn)品散熱狀況、提高產(chǎn)品可靠性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)之一。在LED產(chǎn)品中,經(jīng)常會(huì)使用到大量的導(dǎo)熱電絕緣界面材料,而由于導(dǎo)熱材料本身質(zhì)量參差不齊,同時(shí),由于各家使用的測(cè)試設(shè)備和測(cè)試方法不同,經(jīng)常導(dǎo)致同一產(chǎn)品測(cè)得的熱阻或?qū)嵯禂?shù)出入較大,造成實(shí)際使用中經(jīng)常出現(xiàn)糾紛、數(shù)據(jù)誤解、造假等亂象。鑒于此,鑠思百檢測(cè)LED品質(zhì)實(shí)驗(yàn)室專門推出“導(dǎo)熱系數(shù)鑒定”的業(yè)務(wù),通過鑠思百特定檢測(cè)設(shè)備和標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范LED市場(chǎng),逐漸形成統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn),給出可參考的LED導(dǎo)熱材料熱阻或?qū)嵯禂?shù)值。

服務(wù)客戶:PCB、MCPCB板生產(chǎn)廠商,陶瓷基板生產(chǎn)商,導(dǎo)熱膏、導(dǎo)熱片和導(dǎo)熱類塑料生產(chǎn)商,金屬散熱器生產(chǎn)商,LED燈具廠,LED照明廠

鑠思百導(dǎo)熱系數(shù)/熱阻鑒定具有以下幾大優(yōu)勢(shì):

1.統(tǒng)一檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):由于各家使用的測(cè)試設(shè)備和測(cè)試方法不同,經(jīng)常導(dǎo)致同一產(chǎn)品測(cè)得的熱阻或?qū)嵯禂?shù)出入較大,造成實(shí)際使用中經(jīng)常出現(xiàn)糾紛、數(shù)據(jù)誤解、造假等亂象。鑠思百通過特定的檢測(cè)設(shè)備和標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范LED市場(chǎng),逐漸形成統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn),給出大眾認(rèn)可、極具參考性的LED導(dǎo)熱材料熱阻或?qū)嵯禂?shù)值。

2.為價(jià)格比較提供數(shù)據(jù)支撐:以鋁基板為例,不同產(chǎn)品導(dǎo)熱系數(shù)的高低直接決定了其價(jià)格的高低,1W/m?K和2W/m?K的材料價(jià)格可以相差近一倍。然而由于各檢測(cè)設(shè)備和測(cè)試方法不同,有的采用基板的整個(gè)厚度作計(jì)算,有的以絕緣層厚度作計(jì)算,在產(chǎn)品甄選時(shí)極易導(dǎo)致導(dǎo)熱系數(shù)的比較出現(xiàn)造假、誤解等亂象,鑠思百LED品質(zhì)實(shí)驗(yàn)室擁有業(yè)內(nèi)最高端和穩(wěn)定的材料導(dǎo)熱系數(shù)/熱阻測(cè)試設(shè)備,引用業(yè)內(nèi)目前最公認(rèn)的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),對(duì)測(cè)試結(jié)果附以詳細(xì)的解釋說明,為客戶在產(chǎn)品甄選時(shí)提供最有力的數(shù)據(jù)支撐。

關(guān)鍵詞定義:熱阻:熱量在熱流路徑上傳遞時(shí)遇到的阻力,反映介質(zhì)或介質(zhì)間的傳熱能力的大小,表明了1W的熱量在1m2的面積內(nèi)所引起的溫升大小,單位為m2K/W或m2℃/W。導(dǎo)熱系數(shù):在穩(wěn)定傳熱條件下,1m厚的材料,上下兩側(cè)表面的溫差為1度(K,°C),在1秒內(nèi),通過1m2面積傳遞的熱量,用λ表示,單位為瓦/米?開爾文(W/m?K),此處K可用°C代替。(注意攝氏度和開爾文僅在溫標(biāo)表示上有所區(qū)別,在表示溫差的量值意義上等價(jià),因此這些單位中的℃和K可以任意互相替換。)

檢測(cè)方法

針對(duì)導(dǎo)熱硅膠片、導(dǎo)熱硅脂、硅膠布、相變材料、鋁基板、覆銅基板(導(dǎo)熱系數(shù)0.05W/mK--20.00W/mK),選擇穩(wěn)態(tài)熱流法;針對(duì)金屬、合金等均勻的、各向同性高導(dǎo)熱的固體材料,選擇激光閃射法。

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

穩(wěn)態(tài)熱流法: ASTM D5470; 激光閃射法:ASTM E1461

穩(wěn)態(tài)熱流法測(cè)試原理:

穩(wěn)態(tài)熱流法是基于測(cè)試兩平行等溫界面中厚度均勻試樣的理想熱傳導(dǎo)。試樣兩接觸界面間施加不同溫度,使得試樣上下兩面形成溫度梯度,促使熱流量全部垂直穿過試樣測(cè)試表面而沒有側(cè)面的熱擴(kuò)散。測(cè)試方法:將厚度一定的方形樣品插入于兩熱等溫的平行表面之間,熱梯度通過兩接觸面的溫度差施加在試樣上,導(dǎo)致熱流從試樣通過,熱流垂直且均衡的穿過測(cè)試表面,同時(shí)確保無橫向熱傳輸。設(shè)備通過偵測(cè)出流過試樣的熱流量及熱端面和冷端面的溫度,推算出試樣的熱阻及導(dǎo)熱系數(shù)。

樣品尺寸:正方形:26mm×26mm,厚度<5mm;

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):ASTM D 5470-06

測(cè)試項(xiàng)目:導(dǎo)熱系數(shù)、熱阻

測(cè)試范圍:熱阻>0.01℃?cm2/W,熱傳導(dǎo)系數(shù)<20W/m℃,適用于低導(dǎo)熱材料;可控制材料之受熱面溫度或冷卻面溫度,分析材料在不同溫度下的熱阻,不同壓力及加熱功率的熱阻測(cè)試,可作材料于長(zhǎng)期反復(fù)加熱之壽命試驗(yàn)。

測(cè)試溫度:室溫 to 180℃

測(cè)試類別:硅膠、硅橡膠、導(dǎo)熱樹脂、固體絕緣材料、導(dǎo)熱膏、導(dǎo)熱片、導(dǎo)熱膠、界面材料、相變化材料、玻璃、陶瓷、氧化鋁瓷、氧化鈹瓷、金屬、基板、鋁基板、覆銅基板、軟板導(dǎo)熱硅膠、導(dǎo)熱灌封膠、導(dǎo)熱雙面膠、導(dǎo)熱絕緣墊片、鋁箔散熱膜、銅箔散熱膜、鋁制散熱片、天然石墨膜、人工石墨膜、納米碳散熱膜、導(dǎo)熱塑料、導(dǎo)熱陶瓷、導(dǎo)熱相變材料、石墨烯散熱膜等低導(dǎo)熱材料。檢測(cè)材料為固態(tài)片狀,加圍框可檢測(cè)粉狀態(tài)材料及膏狀材料。

激光散射法測(cè)試原理:

激光散射法是使用脈沖激光照射到試樣的一個(gè)表面,然后通過紅外線測(cè)溫器監(jiān)控另一表面的溫度變化情況。激光閃射法測(cè)量材料導(dǎo)熱系數(shù)的原理是根據(jù)導(dǎo)熱系數(shù)K與熱擴(kuò)散系數(shù)A、比熱容c和體積密度Q三者之間的關(guān)系,如下式給出,首先測(cè)出試樣的體積密度Q,然后分別或者同時(shí)測(cè)量出材料的熱擴(kuò)散系數(shù)A和比熱容c,則根據(jù)下式即可計(jì)算出材料的導(dǎo)熱系數(shù)。

激光閃射法的物理模型是,如果能量為Q的激光脈沖被一圓片狀試樣(厚度為L(zhǎng))的正面吸收,同時(shí)試樣及激光脈沖應(yīng)滿足以下條件:1、熱量在試樣內(nèi)是一維熱流;2、試樣表面沒有熱損失;3、激光脈沖能量被試樣正面均勻吸收;4、激光脈沖寬度足夠;5、激光脈沖能量的吸收僅在正面很小的厚度內(nèi)發(fā)生;6、試樣是均勻不透光的;7、試驗(yàn)條件下,溫度保持恒定。當(dāng)測(cè)試過程滿足以上條件時(shí),那么在試樣內(nèi)熱量的傳輸可認(rèn)為是一維熱流。因此,由激光脈沖瞬間輻射而引起背面的溫度變化及分布可用簡(jiǎn)化的數(shù)學(xué)方法進(jìn)行描述和計(jì)算。

測(cè)試介紹

激光頭位于儀器下部位,樣品放置在管狀爐體中央的樣品支架上。不同類型的爐子可達(dá)到的最高測(cè)試溫度不同,最高可達(dá)1000℃(石墨爐體)。用InSb檢測(cè)器測(cè)量樣品背部的溫升,該檢測(cè)器位于系統(tǒng)的頂部。儀器的垂直結(jié)構(gòu)確保了良好的信噪比與樣品形狀的靈活性。應(yīng)用激光閃射法時(shí),樣品在爐體中被加熱到所需的測(cè)試溫度。隨后,由激光器產(chǎn)生的一束短促激光脈沖對(duì)樣品的前表面進(jìn)行加熱。熱量在樣品中擴(kuò)散,使樣品背部的溫度上升。用紅外探測(cè)器測(cè)量溫度隨時(shí)間上升的關(guān)系。

樣品尺寸:圓柱的片狀:直徑12.7mm±0.1mm,厚度:0.5mm~4mm。

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn):ASTM E1461

測(cè)試項(xiàng)目:導(dǎo)熱系數(shù)、熱擴(kuò)散系數(shù)、比熱容

導(dǎo)熱系數(shù)范圍:0.1~2000W/m·K

測(cè)試溫度:室溫 to 1000°C

測(cè)試類別:金屬、合金、塑料、陶瓷、橡膠、粉末、纖維(需壓片)等均勻、各向同性的固體材料的導(dǎo)熱性能,導(dǎo)熱系數(shù)最高可以測(cè)試2000W/m·K。

鑠思百檢測(cè)應(yīng)用舉例

案例1:LED鋁基板

LED鋁基板的導(dǎo)熱系數(shù)和基板中間的絕緣層有關(guān),因此,測(cè)試鋁基板的導(dǎo)熱系數(shù),實(shí)際上是測(cè)量絕緣層的導(dǎo)熱系數(shù),在測(cè)試過程中要涉及到切片用掃描電鏡測(cè)量絕緣層的厚度,再通過計(jì)算公式得出絕緣層的厚度。下面這個(gè)導(dǎo)熱系數(shù)認(rèn)證案例,鑠思百測(cè)得基板的總熱阻為0.72℃·cm2/W。取送測(cè)基板,制作切片樣品,掃描電鏡SEM測(cè)得基板厚度約1232.14μm,絕緣層厚度約132.60μm,通過計(jì)算得出絕緣層導(dǎo)熱系數(shù)1.851W/m·℃,此數(shù)值也為該鋁基板的導(dǎo)熱系數(shù)。

基板樣品

掃描電鏡測(cè)試基板總厚度 掃描電鏡測(cè)試絕緣層厚度

測(cè)試結(jié)果表1

案例2:導(dǎo)熱膏

客戶送測(cè)A、B兩款導(dǎo)熱膏樣品,要求于熱面溫度為80℃狀態(tài)下,對(duì)兩款導(dǎo)熱膏樣品進(jìn)行導(dǎo)熱系數(shù)對(duì)比測(cè)試。測(cè)試中,采用如下圖所示的治具,控制樣品分別在0.1mm,0.2mm,0.3mm厚度,分別測(cè)試樣品在三種厚度下的熱阻,從而可以在以厚度為橫坐標(biāo)、熱阻值為縱坐標(biāo)的坐標(biāo)系中擬合出一條直線,直線的斜率的倒數(shù)即為導(dǎo)熱膏樣品的導(dǎo)熱系數(shù)。

導(dǎo)熱膏厚度限定治具

A、B兩款導(dǎo)熱膏測(cè)試結(jié)果

由A、B兩款導(dǎo)熱膏測(cè)試結(jié)果對(duì)比表可知,樣品A導(dǎo)熱系數(shù)優(yōu)于樣品B,測(cè)試結(jié)果一目了然。

案例分析3

某LED公司在研發(fā)某款新產(chǎn)品時(shí),委托鑠思百對(duì)氮化鋁陶瓷基板做導(dǎo)熱系數(shù)認(rèn)證測(cè)試。測(cè)試結(jié)果滿足客戶開發(fā)的新產(chǎn)品要求的各項(xiàng)指標(biāo),最終客戶選用這款基板作為散熱基板。

測(cè)試樣品

檢測(cè)條件:環(huán)境溫度:23±2℃; 濕度:50±5%R.H;

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn):ASTM E1461用閃光法測(cè)定熱擴(kuò)散率的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

測(cè)試結(jié)果


在線客服
 
 
 工作時(shí)間
周一至周六 :8:00-18:00
 聯(lián)系方式
客服-黃工:150 7104 0697
客服-劉工:18120219335
双辽市| 灵武市| 德钦县| 民乐县| 岗巴县| 舞钢市| 无极县| 永兴县| 大港区| 利辛县| 绵阳市| 长治县| 绍兴县| 永胜县| 南开区| 如皋市| 南岸区| 三江| 庆云县| 八宿县| 偏关县| 临江市| 开化县| 福州市| 长沙县| 阳东县| 罗江县| 额敏县| 新民市| 衢州市| 延吉市| 淮滨县| 河池市| 随州市| 达州市| 商水县| 平舆县| 桃江县| 咸宁市| 丹棱县| 新化县|