科研儀器預(yù)約-科研檢測(cè)機(jī)構(gòu)-科研檢測(cè)公司

鑠思百檢測(cè)服務(wù)科研，以分析測(cè)試服務(wù)，儀器機(jī)時(shí)預(yù)約為業(yè)務(wù)。為高校重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室，提供材料檢測(cè)，化學(xué)分析測(cè)試服務(wù)，歡迎咨詢！

鑠思百檢測(cè)為一站式科研檢測(cè)服務(wù)平臺(tái)，科研儀器預(yù)約：

光譜測(cè)試：

X射線光電子能譜分析儀（XPS）

紫外光電子能譜（UPS）

俄歇電子能譜（AES）

X射線衍射儀（XRD）

X射線熒光光譜分析儀（XRF）

電感耦合等離子體光譜儀（ICP-OES）

紫外可見反射儀（DRS）

拉曼光譜（Raman）

紫外-可見分光光度計(jì)（UV）

圓二色譜（CD）

傅里葉變換紅外光譜分析儀（FTIR）

（吡啶紅外）傅立葉變換紅外光譜儀（FT-IR，DRIFTS）

單晶衍射儀

穆斯堡爾光譜儀

臺(tái)階儀，膜厚儀，探針接觸式輪廓儀，3D輪廓儀

穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜分析儀（PL）

原子吸收分光光度計(jì)

原子熒光光度計(jì)（AFS)

電鏡測(cè)試：

TEM透射電鏡測(cè)試

SEM掃描電鏡測(cè)試

球差電鏡測(cè)試

激光共聚焦顯微鏡測(cè)試

電子背散射衍射儀EBSD測(cè)試

原子力顯微鏡AFM測(cè)試

電子探針儀EPMA測(cè)試

金相顯微鏡測(cè)試

質(zhì)譜測(cè)試

電感耦合等離子體質(zhì)譜儀（ICP-MS）

電噴霧離子化質(zhì)譜儀（ESI-MS）

頂空-固相微萃取氣質(zhì)聯(lián)用儀（HS -SPME -GC -MS）

二次離子質(zhì)譜（SIMS）

基質(zhì)輔助激光解吸電離飛行時(shí)間質(zhì)譜儀（MALDI-TOF）

裂解氣質(zhì)聯(lián)用儀（PY-GC-MS）

氣質(zhì)聯(lián)用儀（GC-MS）

同位素質(zhì)普儀

液質(zhì)聯(lián)用儀（LC-MS）

熱譜測(cè)試

差示掃描量熱儀（DSC）

動(dòng)態(tài)熱機(jī)械分析儀（DMA）

激光導(dǎo)熱儀

熱分析聯(lián)用儀（DSC-TGA）

熱重分析儀（TGA）

熱重紅外聯(lián)用儀（TG-IR）

熱重紅外氣相質(zhì)譜聯(lián)用（TG-IR-GC-MS）

熱重紅外質(zhì)譜聯(lián)用儀（TG-IR-MS）

同步熱分析儀(TG-DSC-DTA)

質(zhì)譜測(cè)試

電感耦合等離子體質(zhì)譜儀（ICP-MS）

電噴霧離子化質(zhì)譜儀（ESI-MS）

頂空-固相微萃取氣質(zhì)聯(lián)用儀（HS -SPME -GC -MS）

二次離子質(zhì)譜（SIMS）

基質(zhì)輔助激光解吸電離飛行時(shí)間質(zhì)譜儀（MALDI-TOF）

裂解氣質(zhì)聯(lián)用儀（PY-GC-MS）

氣質(zhì)聯(lián)用儀（GC-MS）

同位素質(zhì)普儀

液質(zhì)聯(lián)用儀（LC-MS）

核磁類測(cè)試

電子順磁共振波譜儀（EPR、ESR）

固體核磁共振儀（NMR）

液體核磁共振儀（NMR）

表面界物

比表面及孔徑分析儀（BET）

表面張力儀（界面張力儀）

高壓吸附儀

化學(xué)吸附儀（TPD TPR）

接觸角測(cè)量?jī)x

納米壓痕儀

壓汞儀（MIP）

色譜測(cè)試

頂空氣相色譜（GC）

高效液相色譜儀（HPLC）

離子色譜儀（IC）

凝膠色譜儀（GPC）

液相色譜（LC）

電化學(xué)儀器類

電導(dǎo)率儀

電化學(xué)工作站

腐蝕測(cè)試儀

介電常數(shù)測(cè)定儀

卡爾費(fèi)休水分測(cè)定儀

自動(dòng)電位滴定儀

Zeta電位儀

激光粒度儀

納米粒度儀

四探針原位測(cè)試

土壤分析測(cè)試

有機(jī)元素分析儀（O，C，H，N，S）

有機(jī)鹵素分析儀（F，Cl，Br，I，At，Ts)

振動(dòng)樣品磁強(qiáng)計(jì)（VSM）

總有機(jī)碳分析儀（TOC）

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