BET測(cè)試-通過脫附數(shù)據(jù)（dv/dw）得到的孔分布均在3.5-4nm之間，做了好幾個(gè)樣品，孔分布基本都在這個(gè)區(qū)間內(nèi)，感覺很奇怪，忽然想到了大家談到的脫附作圖中出現(xiàn)假峰的問題，假峰也是在4nm左右出現(xiàn)，此時(shí)，感到很疑惑，Q：我們是應(yīng)該用吸附的數(shù)據(jù)還是用脫附的數(shù)據(jù)來做BET孔分布圖形呢？

普遍說法認(rèn)為脫附過程更接近純粹的物理過程，所以多數(shù)人會(huì)采用脫附數(shù)據(jù)來做分析。但是這個(gè)選取在學(xué)術(shù)上還沒有定論。要想得到比較真實(shí)的結(jié)果，最好用吸附和脫附數(shù)據(jù)做一下對(duì)比，并且結(jié)合其他計(jì)算模型比較分析。另，你說的應(yīng)該是bjh孔分布吧。bet是比表面分析模型。

測(cè)的材料的BET。返回的數(shù)據(jù)有吸附數(shù)據(jù)脫附數(shù)據(jù)，還有一個(gè)多點(diǎn)BET數(shù)據(jù)。這里面都有比表面積但是數(shù)據(jù)不同，另外吸附和脫附還有平均孔徑，到底應(yīng)該怎么用？用哪個(gè)？

比表面積一般使用多點(diǎn)bet比表面積，（有些文獻(xiàn)上mof材料會(huì)采用朗格繆爾比表面積），孔徑分布一般采用吸附數(shù)據(jù)計(jì)算出來的。

最近做了幾組條件實(shí)驗(yàn)，發(fā)現(xiàn)樣品BET孔結(jié)構(gòu)不知如何取舍其中一個(gè)樣品的 BJH 脫附平均孔徑為26nm, 吸附平均孔徑為55nm.該用哪一個(gè)呢？好像超出了介孔分析的有效范圍 ，是不是該做個(gè)壓汞分析了？

當(dāng)然用吸附數(shù)據(jù)啊，脫附有假峰的很多人都說用脫附，其實(shí)是沒有理解清，他們說的脫附是說用脫附模型來計(jì)算吸附量的，所以一般已吸附數(shù)據(jù)為準(zhǔn)。

測(cè)試的結(jié)果報(bào)告中給出的平均孔徑為17納米左右，審稿人的問題是我的材料的孔徑分布組要在50nm和3nm左右，但是平均孔徑為什么是17nm。我需要如何解釋呢，

1.有些情況脫附支計(jì)算會(huì)出現(xiàn)假峰。如果你做出來的吸附支和脫附支計(jì)算峰型是一樣的，那么可以取脫附支算。如果脫附支有個(gè)很尖銳的峰，之后又有其他峰，而吸附支得到的峰比較平緩，那那個(gè)尖峰有可能就是假峰?？梢杂肗LDFT計(jì)算比較好。

2.審稿人說的孔徑和你說的平均孔徑不是一個(gè)概念。審稿人說的的孔徑是最可幾孔徑（孔最集中的地方），也就是孔徑分布圖中出現(xiàn)峰的地方，你自己可以看下，是不是在3nm處是有一個(gè)谷包。50nm處對(duì)應(yīng)最高峰，也就是材料主要有3nm的孔和50nm的孔。

測(cè)得BET脫附曲線和吸附曲線有交叉，怎么回事？是儀器問題？還是材料本身性質(zhì)導(dǎo)致呢？

這種現(xiàn)象一般是儀器原因造成的，但吸附量比較小，像這種樣子也算正常，下次做這種小吸附量的樣品可以加大樣品用量。

BET數(shù)據(jù)結(jié)果吸附分支和脫附分支相交，這是為什么呀？是樣品的關(guān)系嗎？

應(yīng)該是樣品的問題，預(yù)處理不干凈。

樣品沒有真空干燥吧，都是經(jīng)過干燥后去測(cè)的。

請(qǐng)問BET和BJH分別是什么?為什么經(jīng)常和比表面積、吸附、脫附之類的詞語在一起?

BET、BJH是三個(gè)人姓名首字母的簡(jiǎn)稱,如朗格繆爾等,他們提出了單層吸附和多層吸附的理論?；谶@些理論可以對(duì)材料的表面積、孔結(jié)構(gòu)分布等性狀指標(biāo)進(jìn)行檢測(cè)。吸附和脫附是指測(cè)試介質(zhì)如液氮和待測(cè)材料表面結(jié)合情況。

BET測(cè)定比表面積時(shí)，脫附曲線在吸附曲線下方，且為負(fù)值

1.可能是漏氣或者液氮里有雜質(zhì)

2.有用氧化鋁做對(duì)照，出來的曲線也是這樣的，應(yīng)該不是樣品問題

3.這個(gè)可能原因比較多，需要一個(gè)個(gè)的排除，有的樣品測(cè)試，會(huì)出現(xiàn)這種吸脫附曲線類型。

做完BET發(fā)現(xiàn)吸脫附曲線不閉合,求幫助！

1.樣品量再大一點(diǎn)

2.材料是多少度焙燒的？有沒有前處理？可能是材料本身沒有預(yù)處理完全，有點(diǎn)東西在脫附時(shí)跑出了。