1、透射電鏡形貌和高分辨之間的關(guān)系
TEM常用溶劑：乙醇 水 甲苯 正己烷 環(huán)己烷大多數(shù)人對(duì)高分辨有所誤解，以為直接將倍率放大就可以獲得高分辨像，雖然從操作動(dòng)作的主線來(lái)說(shuō)確實(shí)如此，但其實(shí)并不盡然。至于想當(dāng)然的將低倍下形貌分析稱(chēng)為低分辨測(cè)試，是對(duì)電鏡分析方法和理論的無(wú)知。倍率放大的過(guò)程對(duì)電鏡自身的分辨率其實(shí)沒(méi)有影響，受影響的是圖像在接收器（現(xiàn)在一般就是CCD相機(jī)）上的展布范圍。同樣的信息，展布范圍越大，其細(xì)節(jié)越容易被人眼識(shí)別。就好像把東西湊近了會(huì)感覺(jué)看得更清楚，一般人就以為這時(shí)圖像分辨率更高，這是一種誤解。高分辨像的學(xué)名是相位襯度像，是穿過(guò)晶體樣品的透射電子和衍射電子因光程差而產(chǎn)生的干涉圖像，因其與晶體原子排列有相當(dāng)大的關(guān)系，可以用于分析晶體結(jié)構(gòu)。對(duì)于非晶樣品來(lái)說(shuō)，其圖像是雜亂的斑點(diǎn)，沒(méi)有特殊意義，因此較少使用。高分辨測(cè)試的前置條件：
在獲得相位襯度像的過(guò)程中，首先要注意的是厚度，厚度過(guò)大將使衍射過(guò)程過(guò)于復(fù)雜，引起光程差圖像改變，從而高分辨像失真，難以解釋。這個(gè)厚度通常僅在20納米之內(nèi)。其次，是樣品化學(xué)穩(wěn)定性。電子束是高能粒子流，攜帶的能量足以使很多物質(zhì)發(fā)生變化，尤其是會(huì)破壞鍵能較低的化學(xué)鍵。倍率越高，束流越集中，破壞力越強(qiáng)。鍵能越低，破壞速度越快。比如片層狀氮化碳，在低能量密度的低倍形貌觀察時(shí)常?？梢杂^察到結(jié)晶特征，但是一旦放大到高分辨狀態(tài)，晶體結(jié)構(gòu)就被破壞，以至于無(wú)法觀察高分辨像；再比如MOF，在常規(guī)電鏡里，即使是形貌觀察，基本上看到的時(shí)候就已經(jīng)破壞了，觀察不到晶體結(jié)構(gòu)。第三，是觀察角度。好比從百葉窗中對(duì)外看，葉片角度不合適的時(shí)候，你是看不到圖像的。晶體的晶面也是如此。能觀察到完美晶面效果的方向都是晶體的晶帶軸方向，而由于復(fù)雜的波函數(shù)影響，通常偏差超過(guò)1至2度，就會(huì)導(dǎo)致該晶面圖像消失。因此，對(duì)于隨機(jī)散布的顆粒來(lái)說(shuō)，能不能觀察到高分辨像，觀察到哪一組高分辨像，高分辨像質(zhì)量如何，是相當(dāng)碰運(yùn)氣的一件事。能夠保證高分辨像質(zhì)量的方法是尋找并校正晶帶軸，該操作稱(chēng)為二維傾轉(zhuǎn)，但這種操作只有對(duì)單晶體才能實(shí)現(xiàn)，因此單晶高分辨是一個(gè)獨(dú)立的特殊類(lèi)型。至于界面、表面暴露晶面這些問(wèn)題，不是單純的高分辨操作問(wèn)題，而是一個(gè)對(duì)樣品形態(tài)進(jìn)行全面分析的過(guò)程，高分辨只是其中一個(gè)組分。比如界面，分為簡(jiǎn)單接觸界面和晶格匹配界面等類(lèi)型，前者只能憑運(yùn)氣找到視線正好平行于兩個(gè)顆粒交界面的方位，操作過(guò)程沒(méi)有任何特殊信號(hào)和固定手段可用，無(wú)法預(yù)判測(cè)試結(jié)果；而后者則可以通過(guò)計(jì)算找到其公共晶帶軸，從而有目的地找到觀察方向，結(jié)果相對(duì)穩(wěn)定。當(dāng)然，仍需要在該方向上考慮其它前置測(cè)試條件，比如一個(gè)片側(cè)面的高分辨，其厚度就是片的寬度，很多時(shí)候都偏厚。表面暴露晶面就更為復(fù)雜，是將外形測(cè)試和晶體學(xué)計(jì)算的結(jié)果標(biāo)注在特定晶帶軸方向的單晶高分辨像上的一種表征方式，在這里，高分辨測(cè)試只是占比很小的一部分工作，而且是不算重要的一部分。綜上所述，如果不能準(zhǔn)確的得到樣品的形態(tài)、物質(zhì)組分等信息，就無(wú)法有效的完成高分辨測(cè)試。因此，用戶(hù)在要求高分辨測(cè)試時(shí)，應(yīng)先進(jìn)行形貌測(cè)試，分析高分辨測(cè)試的可行性和方式，再有目的地進(jìn)行高分辨測(cè)試。對(duì)能提供正確的透射形貌照片并給出準(zhǔn)確物質(zhì)組分的單相樣品，可以直接進(jìn)行高分辨測(cè)試。但如測(cè)試中發(fā)現(xiàn)樣品形態(tài)與所提供的圖片不符，則仍須按標(biāo)準(zhǔn)流程進(jìn)行。2、晶體缺陷與晶格條紋之間有什么的關(guān)系呢？當(dāng)晶體有缺陷時(shí)，晶格象上的條紋或彎曲，或中斷，或改變條紋間距，直觀地反映出晶體晶格的缺陷。
①找到中心斑點(diǎn)，或者設(shè)定一個(gè)點(diǎn)作為中心斑點(diǎn)；
②從中心斑點(diǎn)引一條線到某個(gè)衍射斑點(diǎn)，測(cè)量線段長(zhǎng)度，（用圖像下面的bar做長(zhǎng)度標(biāo)度）；
③線段長(zhǎng)度值取倒數(shù)，就是某個(gè)晶面的面間距。
4、在做生物體TEM時(shí)采用滴液法+負(fù)染，其中負(fù)染的作用是什么?負(fù)染色利用某些具有較高電子密度的重金屬鹽類(lèi)包圍樣品，以便在電子致密的灰色背景中反襯出低電子密度的白色樣品。
分辨率和放大倍數(shù)之間沒(méi)有必然關(guān)系。分辨率是透鏡能把距離很近的兩個(gè)物點(diǎn)在像平面上區(qū)分開(kāi)的能力，整個(gè)成像系統(tǒng)的分辨率是由所有透鏡綜合決定的。放大倍數(shù)是為了方便觀察，必要的放大倍數(shù)只是保證信息在記錄過(guò)程中不遭受損失的一種手段，必要的放大倍數(shù)有助于獲得最終的高分辨圖像，但是高倍數(shù)不等于高分辨率，過(guò)高的放大倍數(shù)是不利于最終獲得高分辨率圖片。打個(gè)比方，在百萬(wàn)倍觀察圖像是可以的，但是真正拍照的時(shí)候幾十萬(wàn)倍反而效果更好。
6、TEM要液氮才能正常操作嗎？
不同于能譜探頭，TEM液氮冷卻并不是必須的，但它有助于樣品周?chē)恼婵斩龋灿兄跇悠犯鼡Q后較快地恢復(fù)操作狀態(tài)。
