掃描電鏡與透射電鏡在用途上有什么不同

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發(fā)表時間：2023-04-27 14:17作者：鑠思百檢測

透射電鏡和掃描電鏡分別有什么用途？透射電鏡和掃描電鏡的區(qū)別都有哪些?今天鑠思百檢測小編帶大家詳細了解一下。

高分辨率的透射電子顯微鏡(TEM)和掃描電鏡(SEM)在材料分析研究中的應(yīng)用日趨廣泛，已經(jīng)成為現(xiàn)代實驗室中一種不可或缺的研究晶體結(jié)構(gòu)和化學(xué)成分的綜合儀器

1、用途：透射電子顯微鏡在材料科學(xué)、生物學(xué)上應(yīng)用較多。掃描電鏡得到的是表面的立體三維的圖象，主要做形貌，凡是需要看物質(zhì)表面形貌的，都可以用掃描電鏡，如果需要對物質(zhì)內(nèi)部晶體或者原子結(jié)構(gòu)進行了解，需要使用TEM.

透射電鏡就相當(dāng)于普通顯微鏡，是二維的圖象，會看到表面的圖象，同時也看到內(nèi)層物質(zhì)，但是不立體。

區(qū)別：掃描電鏡觀察的是樣品表面的形態(tài)，而透射電鏡是觀察樣品結(jié)構(gòu)形態(tài)的。一般情況下，透射電鏡放大倍數(shù)更大，真空要求也更高。掃描電鏡可以看比較“大”的樣品，最大可以達到直徑200mm以上，高度80mm左右，而透射電鏡的樣品只能放在直徑3mm左右的銅網(wǎng)上進行觀察。

2、由于電子易散射或被物體吸收，故穿透力低，樣品的密度、厚度等都會影響到最后的成像質(zhì)量，必須制備更薄的超薄切片，通常為50～100nm。

3、由于電子的德布羅意波長非常短，透射電子顯微鏡的分辨率比光學(xué)顯微鏡高的很多，可以達到0.1～0.2nm，放大倍數(shù)為幾萬～百萬倍。

4、因此，使用透射電子顯微鏡可以用于觀察樣品的精細結(jié)構(gòu)，甚至可以用于觀察僅僅一列原子的結(jié)構(gòu)，比光學(xué)顯微鏡所能夠觀察到的最小的結(jié)構(gòu)小數(shù)萬倍。

5、TEM在中和物理學(xué)和生物學(xué)相關(guān)的許多科學(xué)領(lǐng)域都是重要的分析方法，如癌癥研究、病毒學(xué)、材料科學(xué)、以及納米技術(shù)、半導(dǎo)體研究等等。

6、擴展資料：透射電子顯微鏡原理由電子槍發(fā)射出來的電子束，在真空通道中沿著鏡體光軸穿越聚光鏡，通過聚光鏡將之會聚成一束尖細、明亮而又均勻的光斑，照射在樣品室內(nèi)的樣品上;透過樣品后的電子束攜帶有樣品內(nèi)部的結(jié)構(gòu)信息，樣品內(nèi)致密處透過的電子量少，稀疏處透過的電子量多。

7、經(jīng)過物鏡的會聚調(diào)焦和初級放大后，電子束進入下級的中間透鏡和第2投影鏡進行綜合放大成像，最終被放大了的電子影像投射在觀察室內(nèi)的熒光屏板上;熒光屏將電子影像轉(zhuǎn)化為可見光影像以供使用者觀察。

以下是SEM和TEM的信息對比圖：