TEM測試原理

【摘要】

透射電鏡，通常采用熱陰極電子槍來獲得電子束作為照明源。

在制備透射電子顯微鏡薄膜樣品時，鑠思百檢測平臺工作人員在與很多同學溝通中了解到，大多數(shù)同學沒有太好的處理薄膜樣品的方法，針對此，鑠思百檢測平臺團隊組織相關同事對網(wǎng)上海量知識進行整理，希望可以幫助到科研圈的伙伴們；

TEM工作原理

透射電鏡，通常采用熱陰極電子槍來獲得電子束作為照明源。

熱陰極發(fā)射的電子，在陽極加速電壓的作用下，高速穿過陽極孔，然后被聚光鏡會聚成具有一定直徑的束斑照到樣品上。

具有一定能量的電子束與樣品發(fā)生作用，產(chǎn)生反映樣品微區(qū)厚度、平均原子序數(shù)、晶體結構或位向差別的多種信息。

透過樣品的電子束強度（取決于上述信息），經(jīng)過物鏡聚焦放大在其像平面上形成一幅反映這些信息的透射電子像，經(jīng)過中間鏡和投影鏡進一步放大，在熒光屏上得到三級放大的最終電子圖像，還可將其記錄在電子感光板或膠卷上。

透鏡電鏡和普通光學顯微鏡的光路是相似的。

以上就是鑠思百檢測平臺對網(wǎng)絡上TEM相關資料的整理如有測試需求，可以和鑠思百聯(lián)系，我們會給與您最準確的數(shù)據(jù)和最好的服務體驗，希望可以在大家的科研路上有所幫助。

免責聲明：部分文章整合自網(wǎng)絡，因內容龐雜無法聯(lián)系到全部作者，如有侵權，請聯(lián)系刪除，我們會在第一時間予以答復，萬分感謝。