TEM樣品制備及要求

【摘要】

制備好的TEM樣品必須對電子束透明，大多數(shù)情況下，都希望樣品均勻減薄，在電子束照射下穩(wěn)定，具有良好的導(dǎo)電性并且不帶磁性，但事實上很多樣品并不能全部滿足這些條件，因此需采取各種方法來使其達到要求。普通樣品一般是放在支撐環(huán)或者薄墊圈上，而較為復(fù)雜的自支撐樣品則需要進行減薄等前處理，處理費用往往遠高于電鏡觀察費用。

在做透射電子顯微鏡時，鑠思百檢測平臺工作人員在與很多同學溝通中了解到，大多數(shù)同學對tem測試樣品不是很理解，針對此，鑠思百檢測平臺團隊組織相關(guān)同事對網(wǎng)上海量知識進行整理，希望可以幫助到科研圈的伙伴們；

測試樣品要求

制備好的TEM樣品必須對電子束透明，大多數(shù)情況下，都希望樣品均勻減薄，在電子束照射下穩(wěn)定，具有良好的導(dǎo)電性并且不帶磁性，但事實上很多樣品并不能全部滿足這些條件，因此需采取各種方法來使其達到要求。普通樣品一般是放在支撐環(huán)或者薄墊圈上，而較為復(fù)雜的自支撐樣品則需要進行減薄等前處理，處理費用往往遠高于電鏡觀察費用。

樣品制備

透射塊體樣品的制備要依據(jù)用戶的研究對象和內(nèi)容來調(diào)整，即使同種材料，粉碎之后用碳膜撈起觀察和花幾天減薄之后觀察其相應(yīng)結(jié)果可能是截然不同的。

樣品測試

透射電鏡的樣品分為可放在支撐環(huán)或薄墊圈上的樣品和自支撐樣品，由于電鏡桿的限制較多，透射樣品的制備和測試往往更為復(fù)雜。

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