GB T 35099-2018 微束分析　掃描電鏡-能譜法　大氣細(xì)粒子單顆粒形貌與元素分析

【國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)】標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB T 35099-2018

　中文名：微束分析　掃描電鏡-能譜法　大氣細(xì)粒子單顆粒形貌與元素分析

　范圍：

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了利用掃描電子顯微鏡( SEM )及能譜儀( EDS ) 觀測(cè)環(huán)境空氣中細(xì)粒子單顆粒形貌、 定性分析元素, 對(duì)環(huán)境空氣顆粒物進(jìn)行分類的方法。 掃描電鏡用于顆粒物的形貌觀察和粒徑測(cè)量, X 射線能譜儀用于顆粒物主要元素定性分析。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于在電 子束轟擊下 穩(wěn)定的 顆粒物分析, 不適用 于硝 酸鹽、銨鹽等熱不穩(wěn)定的 顆粒物分析。

分析原理

掃描電鏡( SEM )工作原理: 經(jīng)高壓加 速后的 聚集電 子束轟擊放在樣品 室內(nèi)的樣品 并產(chǎn)生二次電子, 由 探測(cè)器探測(cè)二次電子信號(hào)并轉(zhuǎn)成電信號(hào), 經(jīng)放大器放大后在顯示器上顯示出樣品的表面形貌及粒徑大小。

X 射線能譜儀( EDS ) 工作原理: 聚焦電 子束轟擊樣品 表面, 激發(fā)出 樣品 組成元素的特征 X 射線。根據(jù)特征 X 射線的能量確定元素種類, 根據(jù)譜線強(qiáng)度進(jìn)行定性分析。

綜合分析單顆粒的形貌特點(diǎn)、粒徑及主要元素組成等信息, 與不同污染源顆粒物典型形貌及特征譜圖進(jìn)行比較, 可識(shí)別單顆?？赡軄?lái)源?；谝欢〝?shù)量(如 300 個(gè)~1 000 個(gè)) 單個(gè)顆粒物的分析數(shù)據(jù), 可得到不同粒徑范圍內(nèi)各類顆粒物的數(shù)目百分?jǐn)?shù)。

　發(fā)布時(shí)間：2018-05-14

　實(shí)施時(shí)間：2019-04-01

　頒發(fā)部門：國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

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