掃描電子顯微鏡和透射電子顯微鏡的差別

掃描電子顯微鏡和透射電子顯微鏡的差別

掃描電子顯微鏡是電子槍陰極發(fā)出的電子束受到陰陽(yáng)極之間加速電壓的作用，射向鏡筒后，經(jīng)過(guò)聚光鏡和物鏡的匯聚作用，縮小成直徑約幾毫微米的電子探針。在掃描線圈的作用下，電子探針可以在樣品的表面掃描并激發(fā)出多種電子信號(hào)。相應(yīng)的檢測(cè)器會(huì)檢測(cè)到對(duì)應(yīng)的電子信號(hào)，經(jīng)過(guò)放大轉(zhuǎn)換，變?yōu)殡妷盒盘?hào)，最后被送到顯像管的柵極上并調(diào)制顯像管的亮度。同時(shí)，顯像管中的電子束在顯示器上做掃描，并且這種掃描運(yùn)動(dòng)與電子束掃描運(yùn)動(dòng)嚴(yán)格同步。這樣就可以獲得與所接收信號(hào)強(qiáng)度相對(duì)應(yīng)的掃描電子像，這種圖像可以反映出樣品表面的形貌特征。

透射電子顯微鏡是使用能透過(guò)樣品的電子束使其成像的電子顯微鏡，用電子槍發(fā)射電子束穿透被研究的樣品，經(jīng)電子透鏡聚焦放大，在熒光屏上顯示出高度放大的物像，常用與觀察那些用普通顯微鏡不能分辨的細(xì)微物質(zhì)結(jié)構(gòu)。

電子掃描顯微鏡事用電子探針對(duì)于樣品表面掃描使其成像，應(yīng)用電子束在樣品表面掃描激發(fā)二次電子成像的電子顯微鏡。主要用于研究樣品表面的形貌和成分。

透射電鏡TEM和掃描電鏡SEM的區(qū)別簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō)就是，掃描電鏡是觀察樣品表面的結(jié)構(gòu)特征，而透射電鏡是觀察樣品的內(nèi)部精細(xì)結(jié)構(gòu)。