xrf和xrd有什么區(qū)別

X射線熒光光譜（XRF）作為一種物理分析方法，在地質(zhì)、冶金、電子機(jī)械、石油、航空航天材料、生物、生態(tài)環(huán)境、商檢等領(lǐng)域有廣泛的應(yīng)用。在精確性方面，一般認(rèn)為，XRF結(jié)果是半定量結(jié)果。在選擇上對(duì)主元素的分析可以用XRF（X射線熒光分析）來確認(rèn)含量。另外在方法的綜合使用上，材質(zhì)的主元素和局部的微量元素可以用掃面電鏡SEM或者透射電鏡TEM并搭配使用EDS能譜儀分析，當(dāng)然如果如果需要更精確的結(jié)果可以考慮使用電子探針EPMA。

XRD中文全稱是X射線衍射，是一種快速、準(zhǔn)確、高效的材料無損檢測(cè)技術(shù)。作為一種表征晶體結(jié)構(gòu)及其變化規(guī)律的手段，其應(yīng)用遍及材料、化學(xué)、生物、醫(yī)藥、陶瓷、冶金、礦產(chǎn)等諸多領(lǐng)域。通常XRD為半定量分析，定量測(cè)試結(jié)果精確度有限

XRD與XRF的區(qū)別：
1，用途：XRD：測(cè)定晶體的結(jié)構(gòu)，XRF：元素的定性、定量分析。     

2，原理：XRD的基礎(chǔ)是X射線的相干散射，布拉格公式、晶體理論；XRF基于莫斯萊定律，特征X射線為基礎(chǔ)的。
3，儀器：?jiǎn)紊玐射線光源，不需要分光晶體。