EBSD樣品制備 二維碼
發(fā)表時(shí)間:2023-12-16 11:04作者:鑠思百檢測(cè) ebsd樣品制備方法是什么?今天鑠思百檢測(cè)小編整理了相關(guān)信息,希望能幫到大家。我們先簡(jiǎn)單了解一下EBSD能做什么吧! 背散射電子衍射裝置(EBSD)是掃描電子顯微鏡(SEM)的附件之一,它能提供如晶間取向、晶界類型、再結(jié)晶晶粒、微織構(gòu)、相辨別和晶粒尺寸測(cè)量等完整的分析數(shù)據(jù)。EBSD 數(shù)據(jù)來(lái)自樣品表面下 10-50nm 厚的區(qū)域,且EBSD樣品檢測(cè)時(shí)需要傾轉(zhuǎn)70°,為避免表面高處區(qū)域遮擋低處的信號(hào),所以要求EBSD樣品表面“新 鮮”、清潔、平整、良好的導(dǎo)電性、無(wú)應(yīng)力等要求。 接下來(lái)給大家介紹EBSD樣品制備 EBSD制樣:取樣,切割,顯微磨削=研磨+拋光。 1 取樣和切割 取樣盡量用線切割法,避開有缺陷地方,選擇有代表性部位。試樣應(yīng)為導(dǎo)電樣品,厚度應(yīng)在0.5mm-3mm之間,以JSM-6480為例,典型尺寸為10mm×10mm到7mm×7mm之間,厚度一般在1-3mm, 銅鋅鋁不耐磨材料可增至2-3mm。樣品放入電鏡時(shí)一般用502膠水粘在樣品臺(tái)上。如果要考察樣品在特定方向上的性能,如經(jīng)軋制、拉伸或壓縮的樣品,樣品的軋向或受力方向需要與樣品臺(tái)的X軸平行。 2 顯微磨削 水砂紙粗磨,金相砂紙細(xì)磨(厚玻璃板上),換砂紙轉(zhuǎn)動(dòng)90°。拋光常用有以下四種方法: (a) 目前比較常用的EBSD制樣方法為機(jī)械拋光、電解拋光、聚焦離子束(FIB)、氬離子拋光; (b) 機(jī)械拋光比較常用的拋光膏硬度較大,雖然粒度可以很小,但仍會(huì)劃傷表面,不適合硬度較小、易于氧化、晶粒比較細(xì)小的材料。 (c) 電解拋光是做 EBSD 檢測(cè)時(shí)比較常用的手段,但是對(duì)于不同材料其電解液的配方不同,同時(shí)不同尺寸、不同狀態(tài)的同種材料其參數(shù)(拋光電壓、電流、時(shí)間、 頻率等)也各不相同,需要隨時(shí)調(diào)節(jié)。電解拋光對(duì)于樣品尺寸有較多限制,面積較大時(shí),各處電流不均勻,使樣品表面凹凸不平。 (d) 氬離子拋光是利用高電流密度的氬離子束對(duì)樣品進(jìn)行減薄,氬離子相對(duì)鎵離子較輕,產(chǎn)生的應(yīng)力層、非晶層非常薄,可避免因制樣對(duì)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)產(chǎn)生的誤導(dǎo)。同時(shí)由于晶格畸變較小,可以提高 EBSD 的標(biāo)定率,節(jié)約時(shí)間。氬離子拋光對(duì)于晶粒特別細(xì)小、多相材料及極易氧化材料做 EBSD檢測(cè)時(shí)的樣品制備具有極大的優(yōu)勢(shì); 如下圖所示為鈦合金 800℃熱壓所得樣品,經(jīng)過 3 種不同拋光方法,在相同參數(shù)下(step size=0.3um)所得 EBSD 圖像的對(duì)比圖,且未經(jīng)過降噪處理,其標(biāo)定率依次為 22%、53%、90%。圖1受較大應(yīng)力影響;圖2受第二相影響。
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