納米粒度及Zeta電位分析儀(DLS)——全面介紹|鑠思百檢測

一、納米粒度及Zeta電位分析儀(DLS)應(yīng)用介紹

納米粒度及zeta電位分析儀通過測量顆粒的大小以及隨著時(shí)間、pH值、溫度和濃度變化的情況，用于表征和評(píng)判各種體系的粒徑分布和穩(wěn)定性。

該設(shè)備靈敏度高，在半導(dǎo)體、醫(yī)藥和食品、材料化工等領(lǐng)域應(yīng)用廣泛，例如：

1.半導(dǎo)體領(lǐng)域：研究半導(dǎo)體晶體表面殘留雜質(zhì)與磨蝕劑、添加劑和晶片表面之間的相互影響的凈化機(jī)制。

2.醫(yī)藥和食品領(lǐng)域：乳劑的分散和凝聚的模擬控制研究（如食品、香水、藥品和化妝品），蛋白質(zhì)功能研究，核糖體分散和凝聚控制研究，表面活性劑功能研究（微囊）。

3.陶瓷和顏料工業(yè)領(lǐng)域：表面重整控制研究、分散和凝聚陶瓷（矽土、氧化鋁、二氧化鈦等）和無機(jī)溶膠的研究，顏料的分散和凝聚的控制研究，浮礦收集器的吸附研究。

4.聚合物和化工領(lǐng)域：乳劑(涂料和粘合劑)的分散和凝聚控制研究，乳膠表面重整控制（藥品和工業(yè)用途），電解聚合物（聚苯乙烯磺酸鈉、多羧酸等）功能研究，控制造紙和生產(chǎn)紙漿過程研究，紙漿添加劑研究。

（1)粒徑測試

用途：選取此模塊可得到樣品的粒徑大小及分布信息

適用粒徑范圍：1nm-3μm

結(jié)果展示：

數(shù)據(jù)內(nèi)容：一般得到兩種數(shù)據(jù)，一種可自行作圖的原始數(shù)據(jù)，另一種為結(jié)果譜圖。

結(jié)果示例：不同的儀器型號(hào)得到的結(jié)果可能有所差別，以下結(jié)果僅供參考。

結(jié)果譜圖

（2）Zeta電位測試

用途：選取此模塊可得到樣品的zeta電位值

適用粒徑范圍：5nm-10μm

結(jié)果展示：

數(shù)據(jù)內(nèi)容：一般得到兩種數(shù)據(jù)，一種可自行作圖的原始數(shù)據(jù)，另一種為結(jié)果譜圖。

結(jié)果示例：不同的儀器型號(hào)得到的結(jié)果可能有所差別，以下結(jié)果僅供參考。

可做圖的原始數(shù)據(jù)

結(jié)果譜圖

二、納米粒度及Zeta電位分析儀樣品要求

粉末要求：粉末需提供20 mg；

液體樣品要求：每樣品需提供5-10ml，分散劑主要為去離子水和乙醇，也可指定其它分散劑（數(shù)據(jù)結(jié)果可能不一定理想，環(huán)己烷腐蝕比色皿，請(qǐng)盡量不要使用此分散劑），需提供待測樣品折射率；

其它特殊要求：在指定分散劑中超聲后肉眼能看到淡淡的樣品顏色，分散均一，無沉淀及團(tuán)聚。

三、納米粒度及Zeta電位分析儀常見問題

1. 為什么測出來的粒徑分布結(jié)果偏大？
答：樣品團(tuán)聚，分散不好，建議延長超聲時(shí)間或者加入合適分散劑幫助分散。

2. 為什么測試出來的zeta電位跟文獻(xiàn)差別很大？
答：zeta電位是特定環(huán)境下的測試結(jié)果，要看下測試分散劑種類，PH等是否跟文獻(xiàn)一致。

3. 測試出來的結(jié)果怎么看？
答：1. 粒度檢測報(bào)告中的Z-Average為測得平均粒徑值，PDI值代表顆粒的分布系數(shù)；常規(guī)PDI小于0.7是在理論模型的適用范圍內(nèi)，PDI值越小，樣品尺寸越均一；
2. 電位報(bào)告中的Zeta Potential值即為測得的Zeta電位值。

4. 為什么pdf里面給出的平均值跟峰位置相差太大？
答：可能是由于存在大的粒子或者團(tuán)聚，這種情況下可以通過excel原始數(shù)據(jù)去手動(dòng)計(jì)算一下均值。

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